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Dokumentenidentifikation DE3028949C2 07.03.1991
Titel Strahlungsdetektor hoher Auflösung
Anmelder American Science and Engineering, Inc., Cambridge, Mass., US
Erfinder Bjorkholm, Paul, Sharon, Mass., US;
Benveniste, Victor M., Magnolia, Mass., US
Vertreter Charrier, R., Dipl.-Ing., Pat.-Anw., 8900 Augsburg
DE-Anmeldedatum 30.07.1980
DE-Aktenzeichen 3028949
Offenlegungstag 26.02.1981
Veröffentlichungstag der Patenterteilung 07.03.1991
Veröffentlichungstag im Patentblatt 07.03.1991
IPC-Hauptklasse G01T 1/202
IPC-Nebenklasse G01T 1/29   

Beschreibung[de]

Die Erfindung betrifft einen Strahlungsdetektor hoher Auflösung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.

Es ist bekannt, die Intensität von Röntgen- oder anderen hochenergetischen Strahlen durch Szintillationskristalle zu erfassen, bei denen die Röntgenstrahlung umgewandelt wird in sichtbare Lichtstrahlung. Diese sichtbare Lichtstrahlung wird erfaßt durch Fotodetektoren, die diese Strahlung in elektrische Signale umsetzen, die der Intensität des sichtbaren Lichts entsprechen. Die elektrischen Signale des Fotodetektors können hierbei digital dargestellt und in einem Speicher gespeichert oder elektronisch angezeigt werden, beispielsweise mittels einer Kathodenstrahlröhre. Die von den Detektorsignalen erhaltenen digitalen Daten sind also geeignet für die Verarbeitung in einem Rechner.

Bei den bekannten Strahlungsdetektoren wird ein Szintillationskristall verwendet, welchem Festkörperdetektoren zugeordnet sind, wie beispielsweise Siliciumfotodiodenanordnungen, welche elektrische Signale entsprechend der Intensität der einfallenden Röntgenstrahlung erzeugen. Derartige elektronische Detektoren finden beispielsweise Verwendung in Elektronenabtastgeräten, bei denen mittels einer hochenergetischen Strahlung ein Objekt durchleuchtet wird, so daß dessen innere Struktur erkennbar wird. Die Röntgenstrahlung tritt hierbei als Nadelstrahl oder Fächerkeule auf. Derartige Geräte sind beispielsweise beschrieben in der US-PS 37 80 291.

Derartige Durchstrahlungsgeräte erfassen jeweils einen kleinen Querschnitt des zu durchleuchtenden Objekts. Durch Abtasten aufeinanderfolgender Querschnitte ergibt sich ein Gesamtbild der inneren Struktur des durchleuchteten Objekts.

Vorteilhaft ist hierbei, daß das Durchstrahlungsbild weit schneller erhalten wird als bei einem Filmbild und weiterhin besteht der Vorteil, daß mit einer weitaus geringeren Strahlungsdosis gearbeitet werden kann. Nachteilig ist, daß bei den bekannten Strahlungsdetektoren die Auflösung nicht so gut ist wie bei einem Filmbild.

Die geringere Auflösung bei den bekannten Strahlungsdetektoren ist bedingt durch die Dicke des Szintillationskristalls. Das im Szintillationskristall erzeugte sichtbare Licht streut und bricht sich, was die Auflösung nachteilig beeinflußt. Hierbei ist der Fotodetektor an einer Seite des Szintillationskristalls angeordnet, die derjenigen gegenüberliegt, an welcher die Röntgenstrahlen eintreten. Die Dicke des Szintillationskristalls zwischen diesen beiden Flächen bestimmt das Bremspotential des Kristalls und ist ebenso bestimmend für die Auflösung des sichtbaren Lichts, welches durch den Fotodetektor gemessen wird. Soll das Szintillationskristall eine Dicke aufweisen, die zu einem gewünschten Bremspotential führt, dann wird das Szintillationskristall so dick, daß die Auflösung des Detektors beträchtlich vermindert wird.

Ein Strahlungsdetektor der eingangs genannten Art ist Gegenstand der DE-OS 28 41 394. Der Szintillationskristall ist hierbei ein flacher Block, bei dem die Primärstrahlung über eine Seitenfläche einfällt. An der der Vorderfläche gegenüberliegenden rückseitigen Fläche ist ein Detektorelement in Form einer Fotodiode angeordnet. Eine Vielzahl derartiger Strahlungsdetektoren sind hierbei nebeneinander in einer Reihe angeordnet. Neben dem hohen Bauteileaufwand tritt hierbei der Nachteil auf, daß das Bremspotential durch die Dicke des flachen Kristallblockes bestimmt wird und somit relativ gering ist. Auch ist die Brechung der Sekundärstrahlung und der Weg dieser Sekundärstrahlung bis zum Auftreffen auf das Detektorelement um so größer, je größer der Abstand zwischen dem Ort des Entstehens der Sekundärstrahlung und dem Detektorelement ist.

Ein weiterer Strahlungsdetektor ist in The Review of Scientific Instruments, Vol. 31, No. 10, 1960, Seiten 1136 bis 1142 beschrieben. Dieser besteht aus einem Kunststoffaserbündel mit Szintillationseigenschaften. Der Primärstrahl tritt an einem Ende des Faserbündels in die Fasern ein. Am anderen Ende des Faserbündels ist ein Detektor angeordnet. Das Bremspotential ist wegen der Länge des Faserbündels relativ groß, jedoch ist die Intensität der beim Detektor auftreffenden Sekundärstrahlung stark abhängig vom Abstand zwischen dem Ort des Entstehens der Sekundärstrahlung und dem Detektor.

Das Strahlungsmeßgerät nach der GB-PS 14 62 862 weist mehrere in einer Reihe angeordnete blockförmige Szintillationskristalle auf, denen jeweils ein Photomultiplier zugeordnet ist. Hierbei sind die Photomultiplier an den Szintillationskristallen abwechselnd an der der Eintrittsfläche für die Primärstrahlung gegenüberliegenden Fläche und an einer zur Eintrittsfläche senkrecht verlaufenden Fläche angeordnet.

Es besteht daher die Aufgabe, den Strahlungsdetektor so auszubilden, daß sowohl sein Bremspotential als auch seine Auflösung groß ist.

Gelöst wird diese Aufgabe mit den kennzeichnenden Merkmalen des Anspruches 1. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind den Unteransprüchen entnehmbar.

Bei der Lösung wird von dem Prinzip ausgegangen, daß die hochenergetische Strahlung an einer schmalen Vorderfläche eintritt und einen längeren Weg durch den Strahlungswandler zurücklegt, wobei dann sichtbare Photonen entstehen. Der Weg, den die sichtbaren Photonen dann zurücklegen, bis sie zum Detektor gelangen, soll möglichst kurz sein. Das sichtbare Licht tritt daher an Seitenflächen aus, welche rechtwinkelig zu der vorerwähnten Vorderfläche verlaufen. Um hier einen geringen Weg zu erhalten, wird der Strahlungswandler möglichst dünn ausgeführt.

Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt

Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines Szintillationskristalls mit einer zugeordneten Fotodiodenanordnung;

Fig. 2 eine perspektivische Ansicht eines Szintillationskristalls mit mehreren Fotodiodenanordnungen;

Fig. 3 eine perspektivische Ansicht eines weiteren Ausführungsbeispiels unter Verwendung von optischen Fasern, welche die Emissionsflächen des Szintillationskristalls mit zugeordneten Fotodiodenanordnungen verbinden;

Fig. 4 eine perspektivische Ansicht eines Durchleuchtungsgeräts, welches mit einem Netzstrahl arbeitet und

Fig. 5 eine perspektivische Ansicht eines weiteren Durchleuchtungsgeräts, welches mit einer Fächerkeule als Strahl arbeitet.

Die Fig. 1 zeigt eine perspektivische Ansicht eines Teils des Strahlungsdetektors hoher Auflösung. Im Betrieb tritt die Strahlung R, beispielsweise eine Röntgenstrahlung über die Frontfläche 1 eines Szintillationskristalls 3 ein. Die Röntgenstrahlen treten durch den Szintillationskristall hindurch, wobei das Material des Kristalls mit den Röntgenphotonen zusammenwirkt zur Erzeugung entsprechender sichtbarer Lichtphotonen.

Das im Szintillationskristall 3 erzeugte sichtbare Licht wird sodann erfaßt von einem Fotodetektor, der ein elektrisches Signal erzeugt, entsprechend der Intensität des sichtbaren Lichts. Der in Fig. 1 gezeigte Detektor besteht aus einer Reihe 5 von Fotodioden, wobei es sich um lichtempfindliche Festkörperdioden 7 handelt, die in einem Chip angeordnet sind. Derartige Fotodiodenanordnungen sind im Handel erhältlich.

Wie die Fig. 1 zeigt, umfaßt die Fotodiodenanordnung 5 viele kleine Fotodiodenelemente 7, von denen jedes in der Lage ist, entsprechend der Intensität des einfallenden Lichts ein elektrisches Signal zu erzeugen. Es handelt sich hierbei um das Licht, welches von der Oberfläche des Fotodiodenelements aufgefangen wird, welche an die obere Fläche 9 des Szintillationskristalls 3 anstößt. Wenn ein Röntgenstrahlphoton XP durch den Schlitz 11 in das Szintillationskristall 3 eintritt, dann wirkt es zusammen mit dem Material des Szintillationskristalls, wobei optische Photonen OP erzeugt werden. Mindestens ein Teil der optischen Photonen geht durch das Material des Szintillationskristalls 3 hindurch zur oberen Fläche 9 und wird dort erfaßt durch ein entsprechendes Fotodiodenelement 7a. Dieses Fotodiodenelement 7a erzeugt ein elektrisches Signal entsprechend den optischen Photonen OP, welche empfangen werden.

Die anderen Fotodiodenelemente 7 der Fotodiodenanordnung 5 reagieren in der gleichen Weise auf optische Photonen, welche durch die Röntgenstrahlphotonen emittiert werden, die durch entsprechende Schlitze in den Szintillationskristall 3 eintreten.

Der Strahlungsdetektor nach Fig. 1 weist sowohl eine hohe Auflösung auf als auch ein hohes Bremspotential für die Röntgenstrahlen. Das hohe Bremspotential gegenüber den Röntgenstrahlen ergibt sich aufgrund der relativ langen Röntgenstrahleindringtiefe D. Diese Eindringtiefe D entspricht der Länge der Fotodiodenelemente 7. Die Fotodiodenelemente 7 fluchten mit der Richtung des Wegs der einfallenden Röntgenstrahlen R und jedes Fotodiodenelement ist empfindlich längs seiner Länge D in bezug auf Lichtphotonen, welche beim Durchwandern der Röntgenstrahlenphotonen erzeugt werden. Die Länge der Fotodiodenelemente 7 bestimmt somit den Bereich der Eindringtiefe der Röntgenstrahlen, die in einem meßbaren optischen Signal resultiert. Es ist natürlich wichtig, daß eine ausreichende Röntgenstrahleneindringtiefe vorhanden ist, um sicherzustellen, daß eine wesentliche Anzahl von einfallenden Röntgenstrahlenphotonen meßbare Wirkungen mit dem Szintillationskristall 3 erzeugen.

Der Röntgenstrahlendetektor weist eine hohe Auflösung auf, da der Abstand h, welchen die erzeugten optischen Photonen OP durchwandern müssen, relativ klein ist. Im allgemeinen bestimmt die Dicke T des Szintillationskristalls 3 den Abstand, den irgendein Lichtphoton durchwandern muß um das zugeordnete Photodiodenelement 7 zu erreichen. Wird die Dicke des Szintillationskristalls klein gewählt, beispielsweise in der Größenordnung von 0,3 mm, ergibt dies eine entsprechende Verminderung der Streuung und Dämpfung der optischen Photonen OP, welche durch Zusammenwirken der Röntgenstrahlphotonen mit dem Material des Szintillationskristalls 3 erzeugt werden.

Die Auflösung des Detektors kann vergrößert werden, wenn der Brechungsindex an der Berührungsfläche zwischen dem Kristall und dem Fotodetektor vermindert wird.

Ein Verbindungsfett 10 mit einem Brechungsindex, der geringer ist als derjenige des Kristalls, kann auf die Grenzfläche zwischen dem Kristall und der Fotodiodenanordnung aufgebracht werden, um den Brechungsindex an dieser Grenzfläche zu vermindern. Dieses Fett 10 wird aufgebracht auf die obere seitliche Emissionsfläche des Kristalls und die Fotodiodenanordnung wird sodann auf diese gefettete Oberfläche des Kristalls aufgepreßt. Die Kapillarwirkung und die hohe Viskosität des Fetts verhindern ein Kriechen oder Fließen dieses Fetts.

Auf diese Weise wird erreicht, daß Licht, welches auf die obere Emissionsfläche des Kristalls unter einem Winkel einfällt, welcher größer ist als der kritische Winkel, der definiert ist durch das Verhältnis der Brechungsindizes des Kristalls und des Fetts, an der Grenzfläche total reflektiert wird. Die reflektierte Strahlung pflanzt sich innerhalb des Kristalls durch weitere Reflektionen fort, bis es evtl. absorbiert ist.

Die gezeigte Anordnung der Fotodiodenanordnung 5 und des Szintillationskristalls 3 ermöglichen eine Röntgenstrahleneindringtiefe, die vergrößert werden kann, so daß das Bremspotential des Detektors erhöht wird, ohne daß dadurch die Auflösung des Detektors beeinflußt wird.

Beim vorliegenden Aufbau sind der Szintillationskristall und der zugerodnete Fotodetektor so angeordnet, daß eine Abmessung des Kristalls die Auflösung des Detektors bestimmt, während eine andere Abmessung des Kristalls das Bremspotential des Detektors bestimmt.

Die Fig. 2 zeigt eine perspektivische Ansicht eines bevorzugten Ausführungsbeispiels zur Messung der Intensität von Röntgenstrahlen oder einer anderen hochenergetischen Strahlung, welche über einen Bereich auftritt, der wesentlich größer ist als die Länge L einer Fotodiodenanordnung 5. Wie die Figur zeigt, sind Fotodiodenanordnungen 5 angeordnet sowohl auf der oberen Fläche 9 als auch an der unteren Fläche 17 eines Szintillationskristalls 3. Es ist empfehlenswert, mehrere Fotodiodenanordnungen auf diese Weise zu verwenden, da Fotodiodenanordnungen mit größeren Abmessungen nicht im Handel erhältlich sind. Es ist jedoch jederzeit auch möglich, eine einzige Fotodiodenanordnung zu verwenden falls die Länge L der Fotodiodenanordnung 5 der Länge L1 des Szintillationskristalls 3 entspricht.

Handelsübliche Fotodiodenanordnungen 5 gemäß dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 haben eine Länge L von etwa 25,4 mm und umfassen 1024 Fotodiodenelemente, welche jeweils über eine Länge D von etwa 2 mm lichtempfindlich sind. Der Szintillationskristall 3 weist eine Dicke T von etwa 0,3 mm auf. Wie schon vorerwähnt, ist die Dicke T und der kritische Winkel an der Grenzfläche zwischen dem Kristall und den Fotodioden bestimmend für die Auflösung des Strahlungsdetektors. Die Länge D der Fotodiodenelemente 7 der Fotodiodenanordnung 5 ist bestimmend für das Bremspotential oder die maximale Röntgenstrahleneindringtiefe der Röntgenstrahlen.

Die Fotodiodenelemente jeder Reihe erstrecken sich nicht bis zur Kante des zugeordneten monolithischen Chips infolge der praktischen Begrenzungen beim Herstellverfahren. Deshalb ist es nicht praktikabel, alle Fotodiodenanordnungen 5 aneinanderstoßend in einer Geraden längs einer Fläche des Szintillationskristalls 3 anzuordnen, da hierbei die Endteile jeder Anordnung einen unerwünschten Spalt in der Reihe der lichtempfindlichen Elemente der Anordnungen ergeben würde.

Daher werden, um eine einheitliche Gerade von lichtempfindlichen Elementen zu erhalten, aufeinanderfolgende Diodenanordnungen wechselweise an der Oberseite 9 und an der Unterseite 17 des Szintillationskristalls 3 angeordnet. Hierbei wird jeweils jede Fotodiodenanordnung 5 so angeordnet, daß die gegenüberliegende Kante der jeweils anderen Fotodiodenanordnung geringfügig überlappt wird, so daß die Fotodiodenelemente selbst an den benachbarten Kanten der Anordnungen einwandfrei miteinander fluchten. Die Fotodiodenanordnungen 5 werden wechselweise, geringfügig einander überlappend über die gesamte Länge des Szintillationskristalls 3 angeordnet, wodurch ein Strahlmeßbereich von beträchtlicher Länge entsteht.

Es ist zu vermerken, daß es nicht notwendig ist, daß die Fotodiodenelemente von Seite zu Seite genau miteinander fluchten, da der Maximalversatz von Zentrum zu Zentrum von etwa 0,012 mm nur wenig Wirkung auf die Qualität einer Radiographie hat, die von den elektrischen Signalen der Fotodiodenanordnungen erzeugt wird. Weiterhin ist es möglich, eine Computerkorrektur auszuführen, um die Daten zu korrigieren, welche empfangen werden von sich überlappenden Bereichen der Fotodiodenanordnungen.

Im Betrieb wird eine hochenergetische Strahlenquelle 4, beispielsweise ein gebündelter Strahl 13 auf die Vorderkante 1 des Kristalls 3 gerichtet. Die Röntgenstrahlenphotonen wandern durch die Strecke D des Szintillationskristalls 3 und wirken mit dem Kristall derart zusammen, daß optische Photonen erzeugt werden, welche erfaßt werden durch die Elemente 7 der Fotodiodenanordnungen 5. Die elektrischen Signale der Fotodiodenelemente werden abgetastet oder gespeichert oder auf einer Anzeigevorrichtung wiedergegeben, wie beispielsweise auf einem Bildschirm. Bei der Frontfläche 1 des Kristalls 3 kann irgendwelche gebündelte oder ungebündelte Röntgenstrahlung oder ein Abtaststrahl auftreffen. Im allgemeinen ist die Abmessung D der Fotodetektorelemente 7 ausreichend klein um sicherzustellen, daß der Auflösungsverlust klein ist, falls die Röntgenstrahlen an der Vorderfläche 1 divergierend einfallen.

Fig. 3 zeigt eine perspektivische Ansicht eines Geräts, bei welchem Lichtleitbündel 19 aus optischen Fasern dazu dienen, die optischen Photonen von den Emissionsflächen 9 und 17 des Szintillationskristalls 3 zu zugeordneten Fotodiodenanordnungen 5 zu übertragen. Die Gesamtarbeitsweise wird durch derartige optische Faserübertragungselemente nicht geändert.

Die Fig. 4 zeigt ein Vermessungsgerät, welches mit einem getasteten Nadelstrahl arbeitet und bei welchem der Detektor verwendbar ist. Ein derartiges Gerät ist beispielsweise beschrieben in der US-PS 37 80 291.

Bei dem Gerät nach Fig. 4 wird das zu vermessende Objekt 21 zwischen einem Strahlendetektor 6 und einer Röntgenstrahlenquelle 23 und einem zugehörigen Chopper bzw. Zerhacker 25 angeordnet. Die Röntgenstrahlenquelle 23 erzeugt eine fächerkeulenförmige Strahlung und der Zerhacker 25 rotiert, um die Fächerkeule zu unterbrechen, wodurch auf diese Weise ein Nadelstrahl 26 aus Röntgenstrahlen entsteht. Der Nadelstrahl 26 bewegt sich quer in bezug auf das Objekt 21, wodurch der Querschnitt dieses Objekts 21 abgetastet wird. Bewegt sich der Strahl in Querrichtung, dann gelangt die durch das Objekt 21 hindurchgehende Strahlung zur Frontkante des Szintillationskristalls 3 und die Intensität der übermittelten Strahlung wird gemessen durch die Fotodiodenelemente der zugehörigen Fotodiodenanordnungen 5 in der Weise, wie anhand der Fig. 2 beschrieben. Die elektrischen Signale der Fotodiodenanordnungen werden abgetastet und Darstellungen der elektrischen Signale werden gespeichert und angezeigt in an sich bekannter Weise.

Bei der Ausführungsform nach Fig. 4 ist das Szintillationskristall 3 und die zugehörigen Fotodiodenanordnungen 5 des Strahlungsdetektors 6 stationär angeordnet, während der Strahl in Querrichtung abtastet, so daß aufeinanderfolgende Bereiche der Länge des Detektors 6 die Strahlung empfangen, welche durch das Objekt 21 hindurchgeht. Nach jeder Querzeilenabtastung des Strahls 26 längs des Objekts 21 bewegen sich der Detektor 6 und der Strahl um eine geringe Strecke rechtwinkelig zur Querabtastrichtung, so daß der Strahl nunmehr eine neue Zeilenabtastung des Objekts 21 ausführt. Auf diese Weise werden aufeinanderfolgende Zeilen oder Querschnitte des Objekts abgetastet und die aufeinanderfolgenden Zeilenabtastungen werden kombiniert, wodurch ein radiographisches Bild der abgetasteten Teile des Objekts entsteht.

In Fig. 5 ist ein Abtastgerät gezeigt, bei welchem eine fächerkeulenförmige Strahlung 22 zur Abtastung eines Objekts 21 dient. Der fächerkeulenförmige Strahl einer hochenergetischen Strahlung wird in bekannter Weise erzeugt und ist gerichtet auf das Objekt 21. Auf diese Weise wird ein schlitzförmiger Querschnitt des Objekts 21 abgetastet. Die Strahlung trifft sodann auf auf die Frontkante eines Szintillationskristalls 3 eines Detektors 6 hoher Auflösung. Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 5 wird eine ganze Zeile bzw. ein ganzer Querschnitt des Objekts 21 gleichzeitig bestrahlt und die entsprechende hindurchgehende Strahlung trifft auf die gesamte Länge des Szintillationskristalls 3 auf. Die durch die Fotodiodenanordnungen 5 erzeugten Signale werden abgetastet, gespeichert und falls gewünscht angezeigt. Diese Fotodiodenanordnungen 5 sind längs der gesamten Länge des Kristalls 3 angeordnet.

Zur Abtastung der gesamten Länge des Objekts 21 durch die Fächerkeule wird der Träger 27 quer zur Fächerkeule bewegt, wobei dieser Träger 27 starr den Strahlungsdetektor 20 und die Strahlungsquelle 6 hält. Wenn der fächerkeulenförmige Strahl die Länge des Objekts 21 abtastet, dann werden die Fotodiodenanordnungen des Strahlungsdetektors 6 kontinuerlich abgetastet, wodurch die Strahlenabsorptionsdaten für aufeinanderfolgende Zeilen oder Querschnitte des Objekts erhalten werden. Das auf diese Weise erzeugte radiographische Bild weist zumindest die gleiche Auflösung auf wie ein radiographisches Bild, das durch Belichtung erzeugt wird. Da jedoch das Szintillationskristall 3 Röntgenstrahlen besser erfaßt als ein Film ist es möglich, den Belichtungspegel bei der Röntgenstrahlung zu senken.

Es ist möglich, eine Vielzahl von Szintillationskristallen und zugeordneten Fotodiodenanordnungen zu verwenden, um beispielsweise gleichzeitig die Strahlungsverteilung über einen größeren Bereich zu erfassen.

Bei Verwendung des Detektors bei Geräten wie denjenigen nach den Fig. 4 und 5 wird ein radiographisches Bild eines Objekts 21 erhalten, welches eine sehr hohe Auflösung aufweist. Das erzeugte radiographische Bild weist eine Auflösung von mindestens fünf Linienpaaren pro Millimeter auf. Die sich hierbei ergebende Auflösung entspricht dabei denjenigen eines belichteten Abtastfilmes, jedoch wird die hohe Auflösung, bei wesentlich geringeren Belichtungspegeln erhalten als wie dies der Fall ist bei einer vergleichbaren Filmbelichtung. Weiterhin entsteht der Vorteil, daß das elektronische Bild aus digitalen Daten zusammengesetzt ist, welche günstig gespeichert, analysiert und angezeigt werden können.


Anspruch[de]
  1. 1. Strahlungsdetektor hoher Auflösung, bei dem eine hochenergetische Primärstrahlung (R) in einem Szintillationskristall (3) sichtbares Licht (OP) erzeugt, das von Detektoren (7) erfaßt wird, die ein Signal entsprechend der Lichtintensität erzeugen und bei dem die Primärstrahlung durch eine Vorderfläche (1) des Szintillationskristalls (3) eintritt und die Detektoren (7) an Seitenflächen (9, 17) des Szintillationskristalls, die rechtwinklig zur Vorderfläche (1) verlaufen und einen Abstand T voneinander aufweisen, angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß der Szintillationskristall (3) so gestaltet ist, daß seine Abmessung (D) in der Richtung, in der die Primärstrahlung (R) eindringt, groß im Vergleich zum Abstand T ist.
  2. 2. Detektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß aufeinanderfolgende Detektoren (7) an den beiden Seitenflächen (9, 17) des Szintillationskristalls (3) so angeordnet sind, daß sich gegenüberliegende Detektoren überlappen.
  3. 3. Detektor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine Fettschicht (10) zwischen dem Szintillationskristall (3) und den Detektoren (7) angeordnet ist, die einen Brechungsindex aufweist, welcher geringer ist als derjenige des Szintillationskristalls.
  4. 4. Detektor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen den Seitenflächen (9, 17), an denen die Detektoren (7) angeordnet sind und den Detektoren (7) ein Lichtleitbündel (19) aus optischen Fasern angeordnet ist.






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