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Dokumentenidentifikation DE69003891T2 10.02.1994
EP-Veröffentlichungsnummer 0407787
Titel Testvorrichtung für gedruckte Schaltungskarten und ihre Anwendung für das Testen von gedruckten Schaltungskarten, in Form einer Multiplex-Demultiplexeinrichtung für numerische Signale.
Anmelder Alcatel Cit, Paris, FR
Erfinder Beaufils, Jean-Marie, F-75014 Paris, FR;
Marot, Jean-Loup, F- 91290 Arpajon, FR
Vertreter Spott, G., Dipl.-Chem. Dr.rer.nat., 80336 München; Weinmiller, J., Dipl.-Ing., Pat.-Anwälte, 82340 Feldafing
DE-Aktenzeichen 69003891
Vertragsstaaten AT, BE, CH, DE, ES, FR, GB, IT, LI, NL, SE
Sprache des Dokument Fr
EP-Anmeldetag 22.06.1990
EP-Aktenzeichen 901118620
EP-Offenlegungsdatum 16.01.1991
EP date of grant 13.10.1993
Veröffentlichungstag im Patentblatt 10.02.1994
IPC-Hauptklasse G01R 31/318

Beschreibung[de]

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Testvorrichtung für Druckschaltungskarten mit einer "Testkarte" benannten Druckschaltungskarte, die an eine zu testende Druckschaltungskarte angeschlossen werden kann. Die Erfindung ist insbesondere anwendbar auf den Fall von Druckschaltungskarten, die in einer mechanischen Struktur zusammengefaßt sind, um eine komplexe funktionelle Anlage zu bilden, beispielsweise eine nachrichtentechnische Einrichtung wie eine digitale Multiplexier/Demultiplexiereinrichtung.

Die Inbetriebnahme oder die Wartung solcher Einrichtungen macht es notwendig, den korrekten Betrieb der diese Einrichtungen bildenden elementaren Druckschaltungskarten zu testen. Die Durchführung dieser Tests erfordert einen Zugang zu den verschiedenen Punkten einer für den Test in Betracht gezogenen Karte, um dort entweder das gewünschte Signal einzuspeisen oder das zu beobachtende Signal abzunehmen, wobei diese Punkte und Signale von der Art der Anlage und von dem Typ des Tests abhängen. Die hierzu üblicherweise verwendeten Techniken erfordern im allgemeinen eine Unterbrechung der normalerweise von der zu überprüfenden Karte behandelten Signale und ihren Ersatz durch Testsignale. Hierzu sieht man auf diesen Karten spezielle Zugänge vor, die entweder unmittelbar an der Vorderseite der zu testenden Karte liegen oder auf Elementen zusammengefaßt sind, die allgemein Anschlußplatten genannt werden und für die ein besonderer Platz in der Einrichtung vorgesehen ist.

In dem Maße, wie die Einrichtungen zunehmend kompakter werden, wurde es immer schwieriger, solche Techniken anzuwenden.

Die vorliegende Erfindung hat eine Einrichtung zum Ziel, die eine Lösung für dieses Problem erbringt.

Die Druckschrift IBM Technical Disclosure Bulletin Vol. 31 Nº 1, Juni 1988, Seiten 215 und 216, New York, US "Debug Method for Logic Card" beschreibt eine Einrichtung ähnlich der gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.

Die Erfindung hat weiter eine Testeinrichtung zum Ziel, die es ermöglicht, das Maß der Intervention des Personals für die Durchführung dieser Tests zu verringern, so daß sich diese Intervention bei einer Einrichtung gemäß der Erfindung auf Steuerungen beschränkt und keine manuellen Interventionen mehr zur Durchführung der Operationen, wie z.B. Anschlüsse oder Unterbrechung von Anschlüssen herstellen usw. mehr erfordert, um die normalerweise von der Karte behandelten Signale durch Testsignale zu ersetzen.

Gemäß der Erfindung ist die Testeinrichtung für Druckschaltungskarten mit einer "Testkarte" benannten Druckschaltungskarte, die an eine zu testende Druckschaltungskarte angeschlossen werden kann, im wesentlichen dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine der beiden Karten mit Auswahlkreisen zur Auswahl der durch die zu testende Karte behandelten Signaltypen versehen ist, wobei diese Auswahlkreise mindestens eine Untergruppe der zu testenden Karte entweder in eine Testkonfiguration oder in eine normale Konfiguration bringen können, und daß die Testkarte mit Konfigurationssteueranschlüssen versehen ist und Kreise zur Verbindung dieser Anschlüsse an die Auswahlkreise besitzt.

Andere Gegenstände und Merkmale der vorliegenden Erfindung gehen klarer aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der beiliegenden Zeichnungen hervor.

Figur 1 zeigt in Perspektive eine zu testende Karte, Figur 2 zeigt in Perspektive die zu testende Karte und die Testkarte,

Figur 3 zeigt ein Beispiel der elektrischen Schaltung einer zu testenden Karte,

Figur 4 zeigt ein Beispiel der elektrischen Schaltung der Testkarte,

Figur 5 zeigt den Aufbau einer Multiplexier-Demultiplexiereinrichtung für digitale Signale.

In Figur 1 ist in Perspektive ein Gehäuse 1, auch Chassis oder Einschub genannt, gezeigt, das Gleitschienen 2 aufweist, in denen Druckschaltungskarten montiert werden können, "Einrichtungskarten" genannt, von denen eine, 3, in dieser Figur zu sehen ist, wobei jedoch die elektrische Schaltung dieser Druckschaltungskarte nicht dargestellt ist, um die Zeichnung nicht zu überladen.

Diese Karte, die die zu testende Karte bildet, besitzt auf ihrer Vorderseite eine Hälfte einer Vielfachsteckverbindung 4, die einen Zugang zu den verschiedenen durch die Testoperationen betroffenen Punkten auf der Karte gewährt.

In Figur 2 ist weiter das Gehäuse 1 mit der Einrichtungskarte 3 sowie der Hälfte 4 der Steckverbindung sowie eine Karte 6, Testkarte genannt, gezeigt, an die die Einrichtungskarte 3 für den Test angeschlossen werden soll. Die Testkarte 6, deren elektrische Schaltung ebenfalls nicht dargestellt wurde, besitzt auf ihrer hinteren Seite eine Hälfte einer Vielfachsteckverbindung 5, die zur Vielfachsteckverbindung 4 komplementär ist. Die Karte 6 besitzt an ihrer Vorderseite Steuertasten, Anschlüsse zum Einspeisen von Signalen von außen und Lämpchen, und all diese Schnittstellenelemente zur Außenwelt tragen das Bezugszeichen 70 und sind auf einer Stirnplatte 7 zusammengefaßt, die mechanisch mit dieser Karte fest verbunden und elektrisch an deren Masse angeschlossen ist.

Um die mechanische Stabilität der aus der zu testenden und der Testkarte gebildeten Einheit zu verbessern, die über die beiden Steckerhälften 4 und 5 zusammengefügt sind, kann ein Verlängerungsgehäuse 8 am Gehäuse 1 durch Befestigungsmittel wie z.B. 9 vor dem Zusammenstecken der beiden Karten über die Steckverbindungen 4 und 5 befestigt werden. Das Verlängerungsgehäuse besitzt ebenfalls Gleitschienen 10, in denen die Testkarte dann in Flucht zur zu testenden Karte montiert werden und anschließend wie bereits gesehen über die Steckerhälften 4 und 5 angeschlossen werden kann.

Nun wird unter Bezugnahme auf Figur 3 ein Beispiel der Veränderungen gezeigt, die im elektrischen Schaltbild einer Einrichtungskarte vorgenommen werden, um ihr zu erlauben, mit einer Testkarte in einer erfindungsgemäßen Einrichtung zusammenzuwirken, wobei die elektrische Schaltung dieser Testkarte später anhand von Figur 4 beschrieben wird.

Beispielsweise sei nun der Fall einer nachrichtentechnischen Einrichtung in Betracht gezogen, die, wie schematisch in Figur 5 gezeigt ist, aus einem Multiplexer-Demultiplexer besteht, der sich in einer Station A befindet. Diese ist über das Nachrichtenübertragungsnetz R an eine zweite Station, z.B. B, angeschlossen, die ebenfalls eine solche Multiplexer-Demultiplexereinheit enthält, wobei im übrigen die Multiplexer MUXA und MUXB dieser Stationen im Normalbetrieb je an einen Sender EMA bzw. EMB und die Demultiplexer DEMUXA und DEMUXB dieser Station entsprechend je an einen Empfänger RECA bzw. RECB angeschlossen sind.

Da die modernen Anlagen immer kompakter werden, so daß eine Multiplexer-Demultiplexereinheit einer Station, z.B. MUXA-DEMUXA auf einer einzigen Einrichtungskarte untergebracht werden kann, deren Zugang zum Übertragungsnetz einerseits und zum Sender und zum Empfänger andererseits eine erste Serie von Zugängen zu dieser Karte bilden, Verkehrszugänge genannt, die auf der Rückseite liegen und während der Testoperationen dieser Karte mit Hilfe der erfindungsgemäßen Einrichtung nicht verändert werden müssen, was einen der Vorteile dieser Einrichtung bildet.

Eine zweite Serie von Anschlüssen an diese Einrichtungskarte, Testanschlüsse genannt, wird von den Zugängen zu der halben Vielfachsteckverbindung gebildet, die auf der Vorderseite dieser Karte liegt (Steckverbinder 4 in den Figuren 1 und 2).

Die Verkehrsanschlüsse enthalten Anschlüsse TR1, an die die Eingangsverkehrssignale des Multiplexers angelegt sind, hier vier Eingänge, an die vier Signale EBD1 bis EBD4 geringen Durchsatzes in dem in Figur 3 gezeigten Beispiel angelegt sind, einen Anschluß TR2, an dem das Ausgangsverkehrssignal mit großem Durchsatz SHD des Multiplexers erhalten wird, einen Anschluß TR3, an den das Eingangsverkehrssignal großen Durchsatzes EHD des Demultiplexers angelegt wird, und Anschlüsse TR4, an denen die Ausgangsverkehrssignale geringen Durchsatzes dieses Demultiplexers erhalten werden, im vorliegenden Fall vier Ausgänge, an denen vier Signale geringen Durchsatzes SBD1 bis SBD4 erhalten werden.

Eine einen Multiplexer und einen Demultiplexer enthaltende Druckschaltungskarte besitzt in bekannter Weise einen integrierten Schaltkreis TNME, der die eigentliche Multiplexierfunktion erfüllt und die Eingangsverkehrssignale geringen Durchsatzes EBD1 bis EBD4 über Kreise JE1 bis JE4 empfängt, die Eingangsschnittstellen geringen Durchsatzes genannt werden und die eine Schnittstellenfunktion haben, sowie das Ausgangssignal großen Durchsatzes SHD über einen Kreis JS liefert, der Ausgangsschnittstelle großen Durchsatzes genannt wird und ebenfalls Schnittstellenfunktion besitzt.

Diese Multiplexer-Demultiplexer-Druckschaltungskarte enthält weiter einen integrierten Schaltkreis TNMR, der die eigentlich Demultiplexierung durchführt und eingangsseitig das Eingangsverkehrssignal großen Durchsatzes EHD über einen Kreis JE empfängt, der Eingangsschnittstelle großen Durchsatzes genannt wird und Schnittstellenfunktion besitzt, sowie die Ausgangsverkehrssignale geringen Durchsatzes SBD1 bis SBD4 über Kreise JS1 bis JS4 liefert, die Ausgangsschnittstellen geringen Durchsatzes genannt werden und ebenfalls Schnittstellenfunktion besitzen.

Erfindungsgemäß sind die Eingänge des integrierten Multiplexerkreises TNME nicht an die Ausgänge der Eingangsschnittstellen geringen Durchsatzes JE1 bis JE4 unmittelbar angeschlossen, sondern über ein Selektionsorgan, nämlich 511 bis 514, das entweder die Verkehrssignale oder die an Testanschlüssen T1 der Einrichtungskarte eingespeisten Testsignale auswählen kann.

In gleicher Weise sind die Eingänge des integrierten Demultiplexerkreises TNMR nicht unmittelbar an die Ausgänge der Eingangsschnittstellt großen Durchsatzes angeschlossen, sondern über ein Selektionsorgan S2, das entweder das Verkehrssignal oder ein an Testeingänge T2 der Einrichtungskarte eingespeistes Testsignal auswählen kann.

In dem betrachteten Beispiel werden die Ausgangssignale der Eingangsschnittstellen geringen Durchsatzes von zwei Binärsignalen gebildet, die die positiven bzw. negativen Impulse eines bipolar kodierten digitalen Signals bilden. Dann werden die an die Anschlüsse T1 angelegten Testsignale ebenso ausgebildet und bestehen aus zwei binären Signalen.

In gleicher Weise werden die Ausgangssignale einer Eingangsschnittstellt großen Durchsatzes in dem betrachteten Beispiel von vier Binärsignalen gebildet, die die positiven bzw. negativen Impulse eines bipolar kodierten digitalen Signals bilden, wobei das Taktsignal und ein Alarmsignal einen Empfangssignalverlust anzeigen. Dann sind die an die Testanschlüsse T2 angelegten Testsignale genauso ausgebildet und werden von vier Binärsignalen dargestellt. Außerdem sind Testanschlüsse T3 und T4 zum Empfang der Steuersignale für die Selektionsorgane 511 bis 514 und S2 vorgesehen.

In dem betrachteten Beispiel besitzt der integrierte Multiplexerschaltkreis TNME vier Eingänge geringen Durchsatzes und es gibt vier Selektionsorgane 511 bis 514. Dann gibt es entsprechend vier binäre Selektionssteuersignale, die an die Testanschlüsse T3 angelegt werden und mit CMDE1 bis CMDE4 bezeichnet sind.

Das Selektionsorgan S2 für den Eingang großen Durchsatzes des Demultiplexers wird seinerseits von einem Binärsignal CMDR gesteuert, das an den Testanschluß T4 angelegt wird und entweder das Verkehssignal großen Durchsatzes oder das Testsignal großen Durchsatzes auszuwählen erlaubt.

Die Einrichtungskarte mit dem Multiplexer und dem Demultiplexer, die in Figur 3 gezeigt ist, besitzt weiter Mittel zur Verdopplung der Ausgangssignale des integrierten Multiplexerkreises TNME und des integrierten Demultiplexerkreises TNMR, um so verdoppelte Signale dieser Karte an Testanschlüssen T5 für den Multiplexer und T6 dieser Karte für den Demultiplexer zu erhalten.

In dem betrachteten Beispiel werden die am Anschluß T5 erhaltenen Signale am Ausgang eines Speicherelements M1 erhalten, das seinerseits die Multiplexersignale TNME empfängt, wobei die an den Anschlüssen T6 erhaltenen Signale unmittelbar am Ausgang des Demultiplexers TNMR einschließlich eines Speicherelements M2 entsprechend M1 verfügbar sind.

Im übrigen sind Testanschlüsse T7 für die Auswahl eines zu duplizierenden der vier Ausgänge geringen Durchsatzes des Demultiplexers vorhanden, an die im vorliegenden Fall zwei Signale SELV0 und SELV1 angelegt werden, die dann weiter unmittelbar an den Demultiplexer gelangen.

Nun wird anhand von Figur 4 die Schaltung der Testkarte beschrieben. Für ein besseres Verständnis der Art, wie diese Karte mit der oben beschriebenen Einrichtungskarte zusammenwirkt, wurde das Schaltbild dieser letzteren Karte in dieser Figur wiederholt.

Diese Testkarte besitzt eine erste Serie von Anschlüssen entsprechend den Testanschlüssen der Einrichtungskarte. Diese erste Serie von Anschlüssen wird von den Anschlüssen an die Mehrfachsteckverbinderhälfte gebildet, die auf der rückwärtigen Seite dieser Karte liegt (Bezugszeichen 5 in Figur 1). Außerdem besitzt diese Testkarte eine zweite Serie von Anschlüssen, Steueranschlüsse genannt, die den Anschlüssen an der Stirnplatte zur Außenwelt (Bezugszeichen 7 in Figur 2) entsprechen und an der Vorderseite der Testkarte liegen.

Diese Testkarte enthält Mittel zur Auswahl von Testsignalen, die an die Multiplexer- Demultiplexerkarte angelegt werden sollen. Diese Mittel zur Auswahl von Testsignalen enthalten in Verbindung mit dem Multiplexer TNME ein Selektionsorgan S3, das von den an Steueranschlüsse C1 der Testkarte angelegten Signalen gesteuert wird und an die Testanschlüsse T1 der Multiplexer-Demultiplexerkarte entweder ein äußeres Testsignal STEE oder ein Schleifentestsignal STBE anlegen kann. Außerdem enthalten die Mittel zur Auswahl von Testsignalen in Verbindung mit dem Demultiplexer TNMR ein Selektionsorgan S4, das von den an Steueranschlüsse C2 der Testkarte angelegten Signalen gesteuert wird und es erlaubt, an die Testanschlüsse T2 der zu testenden Einrichtungskarte entweder ein äußeres Testsignal STER oder ein Schleifentestsignal STBR anzulegen.

Diese Testkarte soll Multiplexer-Demultiplexerkarten testen, die mit unterschiedlichem Durchsatz arbeiten können. Daher wird das äußere Testsignal STEE, das an das Selektionsorgan S3 angelegt wird, seinerseits am Ausgang eines Testorgans S5 erhalten, das am Eingang mehrere mögliche Testsignale entsprechend verschiedenen möglichen Durchsätzen empfangen kann, die beispielsweise von einem Testsignalgenerator stammen, der an die auf dieser Karte vorgesehene Stirnplatte zur Außenwelt angeschlossen werden kann.

Im vorliegenden Fall wurden drei Signale entsprechend drei unterschiedlichen Durchsätzen in Betracht gezogen, nämlich 2 Mbit/s, 8 Mbit/s und 34 Mbit/s. Diese Signale sind Binärsignale, die an das Selektionsorgan S5 nach Durchgang durch Eingangsschnittstellen J2E, J8E und J34E entsprechend den verschiedenen Durchsätzen angelegt werden, die Schnittstellenfunktion besitzen entsprechend den Eingangsschnittstellen geringen Durchsatzes JE1 bis JE4 oder großen Durchsatzes JE, die sich auf der Multiplexer-Demultiplexerkarte befinden. Die Eingänge dieser Eingangsschnittstellen J2E, J8E und J34E bilden Steueranschlüsse C4 der Testkarte.

In gleicher Weise ergibt sich das äußere Testsignal STER, das an das Selektionsorgan 54 angelegt wird, am Ausgang eines Selektionsorgans S6, das eingangsseitig die Ausgangssignale der Eingangsschnittstellen J8E und J34E empfängt und von Signalen gesteuert wird, die an Steueranschlüsse C5 der Testkarte angelegt werden.

Die Art, wie die Schleifentestsignale STBE und STBR erhalten werden, geht aus der nachfolgenden Beschreibung der Testkarte hervor.

Diese Testkarte enthält außerdem Auswahlmittel, mit denen verschiedene am Ausgang der Multiplexer-Demultiplexerkarte zu beobachtende Signaldurchsätze ausgewählt werden können. Diese Auswahlmittel für verschiedene zu beachtende Signaldurchsätze enthalten ein Selektionsorgan S7, das von an Steuereingänge C6 der Testkarte angelegten Signalen gesteuert wird und die an den Testanschlüssen T6 verfügbaren Signale, d.h. die Signale, die am Ausgang des von den an die Testanschlüsse T7 angelegten Signalen ausgewählten integrierten Demultiplexerkreises verfügbar sind, sowie die Signale, die am Ausgang des integrierten Multiplexerkreises verfügbar sind, auf zwei der drei Ausgangsschnittstellen J2S, J8S, J34S lenken können, die abhängig von den der getesteten Multiplexer-Demultiplexerkarte entsprechenden Durchsätzen ausgewählt werden, nämlich hier 2 Mbit/s und 8 Mbit/s oder 8 Mbit/s und 34 Mbit/s, wobei diese Ausgangsschnittstellen eine Schnittstellenfunktion ähnlich der der Ausgangsschnittstellen mit hohem Durchsatz JS oder geringem Durchsatzes JS1 bis JS4 besitzen.

Die Schleifentestsignale STBE und STBR werden von den an den Testanschlüssen T6 bzw. T5 verfügbaren Signalen gebildet. Die Ausgänge dieser Ausgangsschnittstellen J2S, J8S, J34S bilden Steueranschlüsse C7 der Testkarte. Der Ausgang der ausgewählten Schnittstelle ist an ein Meßgerät über die Stirnplatte zur Außenwelt angeschlossen, die sich auf diese Karte befindet.

Die Testanschlüsse T3, T7 und T4 sind einfach durch die Testkarte hindurch verlängert, um Steueranschlüsse C8, C9 und C10 dieser Karte zu bilden.

Das Anlegen eines Testsignals an einen der Eingänge geringen Durchsatzes des integrierten Multiplexerkreises erfordert also folgende Operationen:

- Auswahl des betreffenden Eingangs geringen Durchsatzes des integrierten Multiplexerkreises durch Anlegen von geeigneten SteuersignaIen CMDE1 bis CMDE4 an die Steueranschlüsse C8,

- Auswahl der Art des anzulegenden Testsignals, nämlich äußeres Testsignal oder Schleifentestsignal, durch Anlegen von geeigneten SteuersignaIen an die Steueranschlüsse C1,

- wenn das anzulegende Testsignal ein äußeres Testsignal ist, Verbindung eines Testsignalgenerators mit dem Eingang einer der Eingangsschnittstellen J2E, J8E, die abhängig von der zu testenden Multiplexer-Demultiplexerkarte durch Anlegen von geeigneten Signalen an die Steueranschlüsse C3 ausgewählt wird,

- wenn das anzulegende Testsignal ein Schleifentestsignal ist, Auswahl über die Steueranschlüsse C9 desjenigen Ausgangs des integrierten Demultiplexerkreises, der an den betreffenden Eingang des integrierten Multiplexerkreises zurückzuschleifen ist.

In gleicher Weise erfordert das Anlegen eines Testsignals an den Eingang großen Durchsatzes des integrierten Demultiplexerkreises folgende Operationen:

- Anlegen geeigneter Signale an die Steueranschlüsse C10, um Testsignale anstatt der Verkehrssignale an den Eingang des Demultiplexers zu leiten,

- Anlegen geeigneter Signale an die Steueranschlüsse C2, um entweder ein äußeres Testsignal oder ein Schleifentestsignal an den Eingang großen Durchsatzes des Demultiplexers zu lenken,

- wenn das anzulegende Testsignal ein äußeres Testsignal ist, Anschluß eines Testsignalgenerators an den Eingang einer der Verbindungen J8E, J34E, die abhängig von der zu testenden Multiplexer-Demultiplexerkarte durch Anlegen von geeigneten Signalen an die Steueranschlüsse C5 ausgewählt wird.

Die Beobachtung der Ausgangssignale geringen Durchsatzes, die an einem der Ausgänge des integrierten Demultiplexerkreises erhalten werden, erfordert folgende Operationen:

- Anlegen von geeigneten Signalen an die Steueranschlüsse C9, um den betreffenden Ausgang geringen Durchsatzes des integrierten Demultiplexerkreises auszuwählen,

- Anlegen geeigneter Signale an die Steueranschlüsse C6 des Selektionsorgans S7, um diejenige der Ausgangsschnittstellen J2S, J8S anzuschließen, die dem gewünschten Durchsatz am verdoppelten Ausgang des integrierten Demultiplexerkreises entspricht,

- Anschluß eines Meßgeräts an den Ausgang derjenigen der Ausgangsschnittstellen J2S, J8S, die an diesen verdoppelten Ausgang geringen Durchsatzes angeschlossen ist.

Die Beobachtung der Ausgangssignale großen Durchsatzes, die am Ausgang des integrierten Multiplexerkreises erhalten werden, erfordert die folgenden Operationen:

- Anlegen von geeigneten Signalen an die Steueranschlüsse C6 des Selektionsorgans S7, um die dem gewünschten Durchsatz entsprechenden Ausgangsschnittstellen J8S, J34S an den verdoppelten Ausgang großen Durchsatzes des integrierten Multiplexerkreises anzuschließen,

- Anschluß eines Meßgeräts an den Ausgang derjenigen der Ausgangsschnittstellen J8S, J34S, die an diesen verdoppelten Ausgang großen Durchsatzes angeschlossen ist.

Es ist möglich, gleichzeitig eine Beobachtung der Ausgangssignale geringen Durchsatzes durchzuführen, die an einem der Ausgänge des integrierten Demultiplexerkreises vorliegen, und die Beobachtung der Ausgangssignale großen Durchsatzes, die am Ausgang des integrierten Multiplexerkreises vorliegen, wobei das Auswahlorgan S7 diese beiden Eingänge an zwei beliebige der Ausgänge anschließen kann.

Die oben beschriebene Testeinrichtung ist also in der Lage, das Signal nach der Multiplexierung und/oder eine der Signalkomponenten nach der Demultiplexierung einerseits in normaler Betriebskonfiguration der Einrichtungskarte und andererseits in folgenden Testkonfigurationen zu beobachten:

a) Schleifenbildung von einem der Ausgänge geringen Durchsatzes des integrierten Demultiplexerkreises an einen der Eingänge geringen Durchsatzes des integrierten Multiplexerkreises;

b) Schleifenbildung vom Ausgang großen Durchsatzes des integrierten Multiplexerkreises auf dem Eingang großen Durchsatzes des integrierten Demultiplexerkreises;

c) Einspeisung eines Testsignals anstelle eines der Eingangssignale geringen Durchsatzes des integrierten Multiplexerkreises;

d) Einspeisung eines Testsignals anstelle des Eingangssignals großen Durchsatzes des integrierten Demultiplexerkreises.

Es ist auch möglich, die Konfigurationen b) und c) einerseits und a) und d) andererseits sowie eine der Konfiguration b) und d) mit einer normalen Konfiguration der Multiplexereinrichtung sowie eine der Konfigurationen a) und c) mit einer normalen Konfiguration der Demultiplexereinrichtung zu kombinieren.

Es ist weiter möglich, einen Test der Testkarte selbst durch Rückschleifen des Ausgangs des Selektionsorgans S5 an einen Eingang des Selektionsorgans S7 durchzuführen. Das Eingangssignal dieses Selektionsorgans S7 ergibt sich dann am Ausgang eines Selektionsorgans S8, dessen erste Eingänge an die Ausgänge S5 und dessen zweite Eingänge an einen der verdoppelten Ausgänge angeschlossen sind, beispielsweise an die des integrierten Demultiplexerkreises, wie in Figur 4 gezeigt, wobei Steuereingänge von den Steueranschlüssen C11 der Testkarte gebildet werden.

Die Steuerung der Selektionsorgane erfolgt so, daß für eine Multiplexer-Demultiplexereinrichtung von z.B. 2 Mbit/s und 8 Mbit/s der Eingang des ausgewählten Selektionsorgans S5 derjenige ist, der an den Ausgang der Eingangsschnittstelle J2E angeschlossen ist, während der Ausgang des zum Anschluß an den duplizierten Ausgang des integrierten Multiplexerkreises ausgewählten Selektionsorgans S7 derjenige ist, der an den Eingang der Ausgangsschnittstelle J8S angeschlossen ist, während der Ausgang des für den Anschluß an den verdoppelten Ausgang des integrierten Demultiplexerkreises ausgewählten Selektionsorgans S7 derjenige ist, der an den Eingang der Schnittstelle J2S angeschlossen ist.

Zahlreiche Ausführungsvarianten können auf den oben beschriebenen Einrichtungs- und Testkarten vorgesehen werden, die insbesondere folgende Themen betreffen können:

- da die Datendurchsätze die zu testenden Einrichtungskarten definieren, kann der Fall von Multiplexer-Demultiplexereinrichtungen für 34 Mbit/s - 140 Mbit/s beispielsweise als Zusatz vorgesehen werden;

- die Verteilung der verschiedenen Selektionsorgane zwischen der Einrichtungskarte und der Testkarte,

- die Lage der verschiedenen Selektionsorgane auf der Testkarte, beispielsweise ihre Lage vor oder hinter den Eingangs- und Ausgangsschnittstellen (was Konsequenzen für die Zahl und die Lage der Schnittstellen auf diesen Karten hat) oder auch ihre mehr oder weniger weitgehende Integration auf den integrierten Multiplexer- und Demultiplexerkarten.

Im übrigen können natürlich die Inhalte der Testkarte und der Einrichtungskarte im Fall von anderen Anlagen als Multiplexer-Demultiplexiereinrichtungen für digitale Signale sehr anders ausgebildet sein.


Anspruch[de]

1. Testeinrichtung für Druckschaltungskarten mit einer "Testkarte" benannten Druckschaltungskarte, die an eine zu testende Druckschaltungskarte angeschlossen werden kann, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine der beiden Karten mit Auswahlkreisen zur Auswahl der durch die zu testende Karte behandelten Signaltypen versehen ist, wobei diese Auswahlkreise mindestens eine Untergruppe der zu testenden Karte entweder in eine Testkonfiguration oder in eine normale Konfiguration bringen können, und daß die Testkarte mit Konfigurationssteueranschlüssen versehen ist und Kreise zur Verbindung dieser Anschlüsse an die Auswahlkreise besitzt.

2. Testeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zu testende Karte und die Testkarte über zwei zueinander komplementäre Hälften einer Vielfachsteckverbindung verbunden werden können, die an je einer dieser Karten vorgesehen sind.

3. Testeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die zu testenden Karten in Gehäusen untergebracht werden und die Einrichtung weiter ein Verlängerungsgehäuse enthält, in dem eine Testkarte vor ihrem Anschluß an die zu testende Karte montiert wird, wobei die beiden Gehäuse durch mechanische Mittel aneinander gekoppelt werden.

4. Anwendung einer Testeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3 auf den Test von Druckschaltungskarten, die eine Multiplexier-Demultiplexiereinrichtung für digitale Signale bilden, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswahlkreise für den Typ der von der zu testenden Karte behandelten Signale den Multiplexer oder den Demultiplexer entweder in Testkonfiguration oder in normale Konfiguration bringen können und daß mindestens eine der beiden Karten, nämlich die zu testende oder die Testkarte, zusätzliche Auswahlkreise besitzt, die an die zu testende Karte in der Testkonfiguration des Multiplexers und/oder des Demultiplexers entweder ein äußeres Testsignal oder ein Schleifentestsignal anlegen können, das aus dem Demultiplexer zum Test des Multiplexers oder aus dem Multiplexer zum Test des Demultiplexers stammt.

5. Anwendung einer Testeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine der beiden Karten, nämlich die zu testende oder die Testkarte, zusätzliche Auswahlkreise besitzt, um verschiedene an die zu testende Karte anzulegende äußere Testsignaldurchsätze oder verschiedene am Ausgang dieser Karte zu beachtende Signaldurchsätze auswählen zu können.







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