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Beschreibung[de]

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Gefügeanalyse an polykristallinen Festkörperproben unter Anwendung der Kikuchi- Technik.

Für die ortsaufgelöste Messung der Kornorientierung in einem Mehrstoffgefüge wird neben dem Verfahren der Mikro- Kosseltechnik sehr vorteilhaft die Kikuchi-Technik eingesetzt. Hierzu werden Primärelektronen (PE) im Rasterelektronenmikroskop auf eine etwa 70° geneigte Probenoberfläche geschossen, und die in oberflächennahen Bereichen quasielastisch gestreuten PE werden an den Atomen der Netzebenen eines Einkristalls gebeugt. Man erhält sogenannte Kikuchi-Patterns, die Informationen über Kristallorientierung, Gitterparameter, Realstruktur, Kristalltyp von einkristallinen Proben liefern. Diese Informationen können auch an Einzelkörnern von polykristallinen Proben gewonnen werden, wenn der Durchmesser der Primärelektronenstrahlung an der Probenoberfläche merklich kleiner als die Korngröße ist. Die Ortsauflösung liegt wegen des hohen erforderlichen Strahlstroms, das heißt für ein gutes Signal-Rausch-Verhältnis, typisch bei etwa 0,5 µm und ist abhängig vom Gittertyp bzw. von den Ordnungszahlen der Elemente in der Probe.

Das besondere Interesse an derartigen Orientierungsmessungen an polykristallinen Werkstoffen besteht darin, nicht nur die Orientierung eines Einzelkorns, sondern die Orientierung der Gesamtheit der Körner in einem Oberflächenbereich zu bestimmen, woraus sich Aussagen über die Orientierungsverteilung im untersuchten Probenabschnitt (Textur) und eine Korrelation zu physikalischen Eigenschaften ableiten lassen. Für ein derartiges Orientierungsmapping muß, im Gegensatz zur Einzelkornorientierungsmessung, der Primärelektronenstrahl des Rasterelektronenmikroskops um eine bestimmte Distanz entlang der Probenoberfläche verschoben bzw. ausgelenkt werden, wodurch die Oberfläche punktweise abgerastert wird.

Bei den bekannten automatischen Verfahren wird dabei der Primärstrahl in einem bestimmten Zeittakt um einen bestimmten, wählbaren, aber innerhalb der Messung konstanten Wert α bzw. a ausgelenkt, das heißt nach der Messung in einem Punkt A wird er um a verschoben, und anschließend erfolgt die Messung in einem Funkt B. Da die Größe der Körner innerhalb eines polykristallinen Gefüges unter Umständen sehr unterschiedlich sein kann, erfolgt die Orientierungsmessung im allgemeinen immer an einer anderen Stelle der Körner.

Somit wird bei einer flächenhaften Orientierungsmessung durch punktweise Abrasterung der Probenoberfläche ständig die Elektronenbeugung an einer anderen Stelle der Körner vorgenommen. Das kann im Grenzbereich zwischen zwei Körnern zu nicht auswertbaren Beugungsbildern führen. Da sich im allgemeinen an die eigentliche Messung eine Auswerteprozedur anschließt, in der automatisch aus den Einzelmeßwerten die Orientierung berechnet und aus der Gesamtheit der Meßwerte das orientierungsabhängige Gefügebild ermittelt wird, muß die Punktdichte sehr groß bzw. der Abstand a sehr klein gewählt werden.

Die Geschwindigkeit der Abrasterung eines Flächenbereichs ist jedoch begrenzt, da für jeden Meßpunkt innerhalb der Flächenmatrix eine aufwendige Auswertroutine zur Bestimmung der Kristallorientierung durchgeführt werden muß. Mit leistungsfähigen Computern sind Rechenzeiten bis typischerweise 1 s pro Meßpunkt, das heißt ca. 4000-8000 Meßpunkte pro Stunde für Plattenaufnahme, Bildbearbeitung und Indizierung erforderlich. Für einen Probenbereich mit etwa 30 000 Meßpunkten sind in der Größenordnung 4-8 h Meßzeit nötig.

Um vernünftige Rechenzeiten für einen bestimmten Gefügebereich, der eine statistisch hinreichende Anzahl von Körnern umfaßt zu erreichen, wird im allgemeinen ein Kompromiss zwischen der Größe des Gefügebereichs und der Zahl der Meßpunkte eingegangen. Im allgemeinen sind dabei auch wiederholte Messungen nötig, wenn die Auswertung der Pattern an Körnern nicht eindeutig ist.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Gefügeanalyse an polykristallinen Festkörperproben zu schaffen, mit dem gegenüber dem Stand der Technik die Erzeugung eines Gefügebildes wesentlich schneller und exakter mit Hilfe der üblichen rasterelektronenmikroskopischen Abbildungsverfahren mittels Sekundär- bzw. Rückstreuelektronen möglich ist.

Diese Aufgabe wird nach der Erfindung mit einem Verfahren gelöst, bei dem man

  • a) in einem Rasterelektronenmikroskop (REM) von der Oberfläche der Festkörperprobe unter einem Einfallswinkel der Achse des Primärelektronen-Strahls zur Normalen der Probenoberfläche von α1 ≥ 0 in an sich bekannter Weise ein Gefügebild mit hoher Abbildungstreue oder Auflösung aufnimmt,
  • b) aus dem Gefügebild bildanalytisch die geometrischen Schwerpunkte der Körnerschnittflächen ermittelt und von diesen in bezug auf einen gewählten Koordinatenursprung die zugehörigen Vektoren oder Koordinaten im Gefügebild bestimmt und zur Bildung eines Datensatzes heranzieht,
  • c) den erhaltenen Datensatz zur punktweisen Steuerung der Position des Primärstrahls des REM auf diese Schwerpunkte auf der Probenoberfläche verwendet und
  • d) an diesen Positionen mit Hilfe der Kikuchi-Technik die Orientierung der Körner an der Oberfläche der Festkörperprobe ermittelt.

Gemäß einer zweckmäßigen Ausgestaltung der Erfindung werden aus dem Gefügebild gemäß a) zusätzliche, im Umgebungsbereich der Flächenschwerpunkte liegende weitere Flächenmesspunkte bildanalytisch bestimmt und deren Vektoren oder Koordinaten gemäß b) mit zur Bildung des Datensatzes verwendet.

Vorteilhafterweise wird bei der Anwendung der Kikuchi-Technik gemäß d) die Oberflächennormale der Festkörperprobe zur Achse des Primärstrahls mit einem Einfallswinkel 35° < α2 < 70° ausgerichtet.

Erfindungsgemäß wird im Falle α1 ≠ α2 der gemäß b) erhaltene Datensatz hinsichtlich der durch die Probenneigungsdifferenz verursachten Bildverzerrung mittels rechentechnischer Mittel korrigiert.

Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die Zuverlässigkeit und Präzision der Orientierungsmessung durch definierte Wahl der Zahl und Lage der Meßpunkte pro Korn erhöht. Außerdem wird die Meßzeit für die orientierungsabhängige Gefügedarstellung, insbesondere bei grobkörnigen Gefügen, bei gleichzeitig richtiger Abbildung des Gefüges um mindestens eine Größenordnung reduziert, da die Anzahl der Meßpunkte auf ein Optimum beschränkt werden kann. Im günstigsten Fall genügt 1 Meßpunkt pro Korn, sofern dieser an einer optimalen Position, insbesondere im Kornzentrum gewählt wird.

Nachstehend ist die Erfindung an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert. Die zugehörige Zeichnung zeigt in schematischer Darstellung ein mittels metallografischer Verfahren und mikroskopischer Abbildung gewonnenes Gefügebild.

Die Probe befindet sich dabei in der gekippten Position für die Kikuchi-Analyse, wobei der Fokus des Primärelektronenstrahls (PE-Strahl), dynamisch der geneigten Probenoberfläche nachgeführt wird. Das Bildfeld enthält an der Probenoberfläche (Schnittfläche) insgesamt 10 Körner. Als Koordinatenursprung wird zum Beispiel die linke obere Ecke definiert, da diese für den Scan des PE-Strahls des REM im allgemeinen der Startpunkt ist. Nunmehr wird mit einem bildanalytischen Verfahren der geometrische Schwerpunkt der Einzelkörner bestimmt und in der nachstehenden Tabelle erfasst.



Neben den x,y-Koordinaten beinhaltet die Tabelle ferner eine Spalte für die Größe der Schnittfläche des Korns sowie eine Spalte, in der mittels Kreuz eingeschrieben wird, ob der Schwerpunkt des jeweiligen Korns im Korn oder wie zum Beispiel im Falle von Korn 7 außerhalb des Korns liegt. Zur Ansteuerung des PE-Strahls werden nur die Zeilen verwendet, bei denen der Kornschwerpunkt (was in der Regel der Fall ist) innerhalb des Korns liegt. Bei der eigentlichen Prozedur der Bestimmung der Einzelkornorientierung mittels Kikuchi-Technik wird nun der PE- Strahl mit Hilfe der erstellten Matrix so angesteuert, dass dieser auf die jeweiligen Kornschwerpunkte ausgelenkt und auf diesem Punkt während der Patternaufnahme für das jeweilige Korn gehalten wird. Eine Reduzierung der Fehlmessungen beziehungsweise Erhöhung der Richtigkeit gelingt dadurch, dass man entsprechend der ermittelten Größe der Kornschnittflächen in der unmittelbaren Umgebung der Kornschwerpunkte in einem Abstand mit dem Radius R und dem Winkel φ weitere Meßpunkte definieren kann, wodurch allerdings die Meßzeit entsprechend erhöht würde.

Im einfachsten Fall der ausschließlichen Messung im jeweiligen Kornschwerpunkt wären für das vorliegende Beispiel 10 Meßpunkte notwendig. Da das Gefügebild bekannt ist und sich eindeutig mit den Meßwerten korrelieren läßt, ist - mit Ausnahme von Fällen, bei denen Abweichungen in der Orientierung innerhalb eines Korn vorliegen - ein Orientierungsmap herstellbar. Will man dagegen - wie bisher üblich - mit Hilfe eines feinen Punktrasters mit einer typischen Auflösung von 512 × 512 Bildpunkten und der zeitaufwendigen Berechnung der Orientierung in jedem dieser Punkte das Orientierungsmapping mit richtiger Wiedergabe des Gefüges gewinnen, ist ein um Größenordnungen höherer Zeitaufwand erforderlich.


Anspruch[de]
  1. 1. Verfahren zur Gefügeanalyse polykristalliner Festkörperproben, bei dem man
    1. a) in einem Rasterelektronenmikroskop (REM) von der Oberfläche der Festkörperprobe unter einem Einfallswinkel der Achse des Primärlektronen-Strahls zur Normalen der Probenoberfläche von α1 ≥ 0 in an sich bekannter Weise ein Gefügebild mit hoher Abbildungstreue oder Auflösung aufnimmt,
    2. b) aus dem Gefügebild bildanalytisch die geometrischen Schwerpunkte der Körnerschnittflächen ermittelt und von diesen in bezug auf einen gewählten Koordinatenursprung die zugehörigen Vektoren oder Koordinaten im Gefügebild bestimmt und zur Bildung eines Datensatzes heranzieht,
    3. c) den erhaltenen Datensatz zur punktweisen Steuerung der Position des Primärstrahls des REM auf diese Schwerpunkte auf der Probenoberfläche verwendet und
    4. d) an diesen Positionen mit Hilfe der Kikuchi-Technik die Orientierung der Körner an der Oberfläche der Festkörperprobe ermittelt.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass aus dem Gefügebild gemäß a) zusätzliche, im Umgebungsbereich der Flächenschwerpunkte liegende weitere Flächenmesspunkte bildanalytisch bestimmt und deren Vektoren oder Koordinaten gemäß b) mit zur Bildung des Datensatzes verwendet werden.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass bei der Anwendung der Kikuchi-Technik gemäß d) die Oberflächennormale der Festkörperprobe zur Achse des Primärstrahls mit einem Einfallswinkel 35° < α2 < 70° ausgerichtet wird.
  4. 4. Verfahren nach Anspruch 1 und 3, dadurch gekennzeichnet, dass im Falle α1 ≠ α2 der gemäß b) erhaltene Datensatz hinsichtlich der durch die Probenneigungsdifferenz verursachten Bildverzerrung mittels rechentechnischer Mittel korrigiert wird.






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