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Dokumentenidentifikation EP1431771 29.07.2004
EP-Veröffentlichungsnummer 0001431771
Titel Kontaktlose Prüfung von Anschlusspuffern auf einem Wafer
Anmelder Texas Instruments Inc., Dallas, Tex., US
Erfinder Whetsel, Lee D, Allen, US
Vertreter derzeit kein Vertreter bestellt
Vertragsstaaten DE, FR, GB, IT, NL
Sprache des Dokument EN
EP-Anmeldetag 26.03.1998
EP-Aktenzeichen 041009861
EP-Offenlegungsdatum 23.06.2004
Veröffentlichungstag im Patentblatt 29.07.2004
IPC-Hauptklasse G01R 31/265
IPC-Nebenklasse G06F 11/267   G01R 31/3185   








IPC
A Täglicher Lebensbedarf
B Arbeitsverfahren; Transportieren
C Chemie; Hüttenwesen
D Textilien; Papier
E Bauwesen; Erdbohren; Bergbau
F Maschinenbau; Beleuchtung; Heizung; Waffen; Sprengen
G Physik
H Elektrotechnik

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