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Dokumentenidentifikation DE102006003501A1 05.10.2006
Titel Tag-Testvorrichtung, Tag-Testverfahren und Tag-Testprogramm
Anmelder Fujitsu Frontech Ltd., Inagi, Tokio/Tokyo, JP
Erfinder Kawamata, Hiroshi, Inagi, Tokio/Tokyo, JP
Vertreter W. Seeger und Kollegen, 81369 München
DE-Anmeldedatum 24.01.2006
DE-Aktenzeichen 102006003501
Offenlegungstag 05.10.2006
Veröffentlichungstag im Patentblatt 05.10.2006
IPC-Hauptklasse G01R 31/303(2006.01)A, F, I, 20060124, B, H, DE
IPC-Nebenklasse G01R 31/01(2006.01)A, L, I, 20060124, B, H, DE   
Zusammenfassung Eine Tag-Testvorrichtung nutzt eine Infrarotkamera, um ein Bild mehrerer Tags zur Funkfrequenzidentifizierung aufzunmehmen, vergleicht das Bild mit einem gespeicherten Bild eines Standard-Tag-Musters und detektiert, basierend auf dem Vergleich, defekte Tags. Ein Sende-Empfangsgerät für Funkwellen liest en gros die Tags unter Verwendung einer Antikollisionsfunktion, ein Zähler für Tag-Antworten zählt eine Anzahl von Tag-Antworten, und ein Detektor für defekte Tags vergleicht eine Anzahl Wärme emittierender Tags, basierend auf der Bildverarbeitung, mit einer Anzahl von Tag-Antworten, die vom Zähler für Tag-Antworten gezählt wurden. Falls die Anzahl Wärme emittierender Tags nicht mit einer Anzahl antwortender Tags übereinstimmt, wird eine Anzahl der getesteten Tags geändert, indem die Tags teilweise abgeschirmt werden, und das Sende-Empfangsgerät für Funkwellen liest, wiederholt en gros die Tags unter Verwendung der Antikollisionsfunktion, während ein Abschirmbereich schrittweise geändert wird, wodurch andere mögliche defekte, aber Wärme emittierende Tags eingegrenzt werden.

Beschreibung[de]
Querverweis auf zugehörige Anmeldungen

Diese Anmeldung beansprucht den Nutzen der am 29. März 2005 beim Japanischen Patentamt eingereichten japanischen Anmeldung Nr. 2005-094504, deren Offenbarung durch Verweis hierin einbezogen ist.

HINTERGRUND DER ERFINDUNG 1. Gebiet der Erfindung

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Tag-Testvorrichtung, ein Tag-Testverfahren und ein Tag-Testprogramm, das einen defekten berührungslosen Tag mit integrierter Schaltung (IC) unter mehreren berührungslosen IC-Tags detektiert, indem die berührungslosen IC-Tags Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen ausgesetzt werden. Insbesondere bezieht sich die vorliegende Erfindung auf eine Tag-Testvorrichtung, ein Tag-Testverfahren und ein Tag-Testprogramm, die die Testgeschwindigkeit der berührungslosen IC-Tags erhöhen und die berührungslosen IC-Tags testen können, während sie an einem Tag-Blatt (engl. tag sheet) angebracht sind.

2. Beschreibung der verwandten Technik

Herkömmlicherweise werden in einem Herstellungsprozess für Tags zur Funkfrequenzidentifizierung (RFID) (im folgenden einfach "Tags") die Tags getestet, indem Funkwellen oder elektromagnetische Wellen (im folgenden einfach "Funkwellen") an jedes Tag gesendet werden und die Tag-Antwort bestätigt wird. In dem oben erwähnten Testverfahren wird eine Vorrichtung, die die Funkwellen sendet oder empfängt, zur Abschirmung vor Funkwellen (im folgenden "Abschirmkasten") in einem Kasten platziert, und jeder der Tags, die getestet werden sollen, wird nacheinander zum Abschirmkasten geschickt, um zu testen, ob der Tag nicht defekt ist. Falls der Abschirmkasten nicht genutzt wird, empfangen mehrere Tags auf dem Tag-Blatt die gesendeten Funkwellen, und alle Tags, die die Funkwellen empfangen, antworten auf die Funkwellen. Sogar bei Verwendung einer Antikollisionsfunktion kann folglich ein Ort eines nicht korrekt funktionierenden Tag (im folgenden "defekter Tag") auf dem Tag-Blatt nicht identifiziert werden.

In einem Tag-Herstellprozess wird auf einem Blatt eine große Anzahl von Tags gebildet. Wenn das oben erwähnte Tag-Testverfahren genutzt wird, werden jedoch die auf jedem Blatt (im folgenden "Tag-Blatt") gebildeten Tags getrennt, bevor jeder Tag getestet wird. Wenn eine sehr große Anzahl von Tags getestet wird, muss das Tag-Testen mit einer besonders hohen Geschwindigkeit ausgeführt werden. Verschiedene Verfahren zum Erhöhen der Tag-Testgeschwindigkeit sind bekannt.

Zum Beispiel ist in dem US-Patent Nr. 6,104,291 eine Technologie, um die Tag-Testgeschwindigkeit zu erhöhen, offenbart, worin jeder der zu testenden Tags individuell auf einem Förderband oder einem scheibenförmigen rotierenden Körper platziert und jeder Tag sequenziell zum Abschirmkasten geschickt wird. Da die im US-Patent Nr. 6,104,291 offenbarte Technologie ein Testverfahren nutzt, in welchem Tags nacheinander getestet werden, kann jedoch die Testgeschwindigkeit, sogar indem die Geschwindigkeit des Förderbandes oder die Rotationsgeschwindigkeit des rotierenden Körpers erhöht wird, nur in einem beschränkten Maß erhöht werden. Mit anderen Worten erhöht die im US-Patent Nr. 6,104,291 offenbarte Technologie die Testgeschwindigkeit nicht ausreichend. In der im US-Patent Nr. 6,104,291 offenbarten Technologie wird außerdem vor einem Testen jeder Tag vom Tag-Blatt getrennt werden. Folglich kann das Tag-Blatt im Tag-Herstellprozeß nicht getestet werden, falls die Tags am Tag-Blatt noch angebracht sind.

Somit besteht eine Forderung nach einer Tag-Testvorrichtung, die die Tag-Testgeschwindigkeit erhöhen und die Tags testen kann, während sie am Tag-Blatt angebracht sind.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung werden eine Tag-Testvorrichtung, ein Tag-Testverfahren und ein Tag-Testprogramm geschaffen, die Tag-Testgeschwindigkeit erhöhen und die Tags testen können, während sie am Tag-Blatt angebracht sind.

Zusätzliche Aspekte und Vorteile der Erfindung werden zum Teil in der folgenden Beschreibung dargelegt werden und sind zum Teil aus der Beschreibung offensichtlich oder können durch praktische Umsetzung der Erfindung gelernt werden.

Eine Tag-Testvorrichtung setzt mehrere berührungslose IC-Tags Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen aus und detektiert defekte IC-Tags unter den berührungslosen IC-Tags; die Tag-Testvorrichtung enthält eine Sendeeinheit, die Funkwellen oder elektromagnetische Wellen an die berührungslosen IC-Tags in einer Volumenübertragung oder en gros sendet, und eine Detektiereinheit, die die defekten IC-Tags darauf basierend detektiert, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn die Sendeeinheit Funkwellen oder elektromagnetische Wellen an die berührungslosen IC-Tags sendet.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung enthält die Tag-Testvorrichtung ferner eine Aufzeichnungseinheit, die ein Standardmuster aufzeichnet, das ein defektfreies Wärmeemissionsmuster der berührungslosen IC-Tags repräsentiert, und eine Abbildungseinheit, die ein Bild eines Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags aufnimmt, die Funkwellen oder elektromagnetische Wellen empfangen, die von der Sendeeinheit gesendet wurden, wobei die Detektiereinheit das Standardmuster, das in der Aufzeichnungseinheit aufgezeichnet ist, und das Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, das von der Abbildungseinheit aufgenommen wurde, vergleicht, um die defekten IC-Tags zu detektieren.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung enthält die Tag-Testvorrichtung ferner eine Empfangseinheit, die Antworten der berührungslosen IC-Tags auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen, die von der Sendeeinheit gesendet wurden, empfängt, eine Tag-Antworten zählende Einheit, die die Anzahl defekter IC-Tags auf der Basis der Antworten zählt, die von der Empfangseinheit empfangen wurden, und eine Bildverarbeitungseinheit, die die Anzahl der defekten IC-Tags zählt, indem das Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, das durch die Abbildungseinheit aufgenommen wurde, analysiert wird, wobei die Detektiereinheit das Fehlen anderer defekter IC-Tags als der defekten IC-Tags bestimmt, die basierend auf dem Wärmeemissionsmuster der berührungslosen IC-Tags detektiert werden, wenn die Anzahl, die von der Tag-Antworten zählenden Einheit gezählt wurde, mit der von der Bildverarbeitungseinheit gezählten Anzahl zusammenpasst oder übereinstimmt.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung enthält die Tag-Testvorrichtung ferner eine Abschirmeinheit, die die Anzahl der berührungslosen IC-Tags, die getestet werden sollen, ändert, indem eine Testfläche teilweise abgeschirmt wird, die die berührungslosen IC-Tags enthält, indem ein beweglicher Abschirmmechanismus genutzt wird, wobei die Detektiereinheit die Abschirmeinheit anweist, die Anzahl berührungsloser IC-Tags, die getestet werden sollen, zu ändern, wenn die von der Tag-Antworten zählenden Einheit gezählte Anzahl nicht mit der von der Bildverarbeitungseinheit gezählten Anzahl übereinstimmt, und eine Fläche eines nicht defekten IC-Tag Schritt für Schritt aus der Testfläche ausschließt, wobei die von der Tag-Antworten zählenden Einheit gezählte Anzahl mit der von der Bildverarbeitungseinheit gezählten Anzahl übereinstimmt, um defekte IC-Tags zu detektieren, die Wärme emittieren, nicht aber auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen ansprechen.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung enthält die Tag-Testvorrichtung ferner eine Druckeinheit, die auf den von der Detektiereinheit detektierten defekten IC-Tag ein Etikett druckt, um den defekten IC-Tag als defekt zu markieren.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung enthält die Tag-Testvorrichtung ferner eine Kühleinheit, die eine Testfläche kühlt, die die berührungslosen IC-Tags enthält, die getestet werden sollen.

Ein Tag-Testverfahren, um mehrere berührungslose IC-Tags Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen auszusetzen und defekte IC-Tags unter den berührungslosen IC-Tags zu detektieren, umfasst ein Senden von Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen en gros an die berührungslosen IC-Tags und ein Detektieren der defekten IC-Tags basierend darauf, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn Funkwellen oder elektromagnetische Wellen beim Sendeprozeß an die berührungslosen IC-Tags gesendet werden.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung beinhaltet das Tag-Testverfahren ein Aufzeichnen eines Standardmusters, das ein Wärmeemissionsmuster ohne Defekte der berührungslosen IC-Tags repräsentiert, und Aufnehmen eines Bildes eines Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, die Funkwellen oder elektromagnetische Wellen, die beim Sendeprozeß gesendet werden, empfangen, wobei der Detektierprozeß ein Vergleichen des beim Aufzeichnungsprozeß aufgezeichneten Standardmusters und des Bildes des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, das beim Abbildungsprozeß aufgenommen wurde, beinhaltet, um die defekten IC-Tags zu detektieren.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung beinhaltet das Tag-Testverfahren ferner ein Empfangen von Antworten der berührungslosen IC-Tags auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen, die beim Sendeprozeß gesendet wurden, Zählen der Anzahl der defekten IC-Tags basierend auf den beim Empfangsprozeß empfangenen Antworten und Zählen der Anzahl der defekten IC-Tags, indem das Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, das beim Abbildungsprozeß aufgenommen wurde, analysiert wird, wobei der Detektierprozeß ein Bestimmen des Fehlens anderer defekter IC-Tags als die defekten IC-Tags einschließt, die auf der Basis des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags detektiert werden, wenn die beim Tag-Antworten zählenden Prozeß gezählte Anzahl mit der beim Bildverarbeitungsprozeß gezählten Anzahl übereinstimmt.

Ein computerlesbares Medium ist ebenfalls vorgesehen, das zumindest ein Tag-Testprogramm speichert, um ein Tag-Blätter testendes Gerät gemäß einem Prozeß zu steuern, bei dem mehrere berührungslose IC-Tags Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen ausgesetzt werden und defekte IC-Tags unter den berührungslosen IC-Tags detektiert werden, Funkwellen oder elektromagnetische Wellen en gros an die berührungslosen IC-Tags gesendet werden und die defekten IC-Tags basierend darauf detektiert werden, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn Funkwellen oder elektromagnetische Wellen während der Volumenübertragung oder Übertragung en gros an die berührungslosen IC-Tags gesendet werden.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

Diese und/oder andere Aspekte und Vorteile der Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung der Ausführungsformen ersichtlich und leichter verstanden werden, die in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen vorgenommen wird, von denen:

1 eine Zeichnung eines Konzepts eines Tag-Testverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist;

2 ein Funktionsblockdiagramm einer Tag-Testvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist;

3 eine Zeichnung eines Konzepts eines Prozesses zur Detektion defekter Tags basierend auf einer Anzahl von Tag-Antworten und einer Anzahl identifizierter Tags gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist;

4 eine Zeichnung eines Konzepts eines eine bewegliche Abschirmplatte nutzenden Prozesses zur Detektion defekter Tags gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist;

5 eine Zeichnung ist, die den Prozess zur Detektion defekter Tags unter Verwendung der beweglichen Abschirmplatte gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;

6 ein Flußdiagramm einer Sequenz des Prozesses zur Detektion defekter Tags gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist;

7 ein Flußdiagramm einer Sequenz des Prozesses zur Detektion defekter Tags unter Verwendung eines Prozesses zur Steuerung der Abschirmplatte gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist; und

8A und 8B Zeichnungen sind, die eine Draufsicht und Seitenansicht einer Montierung der Tag-Testvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung veranschaulichen.

AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN

Nun wird ausführlich auf die vorliegenden Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung Bezug genommen, von denen Beispiele in den beiliegenden Zeichnungen veranschaulicht sind, wobei gleiche Bezugsziffern überall auf die gleichen Elemente verweisen. Die Ausführungsformen werden im Folgenden beschrieben, um die vorliegende Erfindung durch Verweisen auf die Figuren zu erläutern.

Funkwellen oder elektromagnetische Wellen werden en gros an berührungslose Tags mit integrierter Schaltung (IC) (zum Beispiel Tags zur Funkfrequenzidentifizierung (RFID)) (worauf im Folgenden einfach als "Tags" verwiesen wird) gesendet, und die defekten IC-Tags werden basierend darauf detektiert, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn Funkwellen oder elektromagnetische Wellen an die berührungslosen IC-Tags gesendet werden. Da eine große Anzahl von IC-Tags gleichzeitig getestet werden kann, indem gleichzeitig ein Wärmeemissionsstatus jedes Tag gemessen wird, kann die Tag-Testgeschwindigkeit erhöht werden, und die Tags können getestet werden, während sie an einem Tag-Blatt angebracht sind.

Ferner wird ein Standardmuster, das ein Wärmeemissionsmuster ohne Defekte der berührungslosen IC-Tags repräsentiert, aufgezeichnet, und ein Bild eines Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, die Funkwellen oder elektromagnetische Wellen empfangen, wird aufgenommen, und das aufgezeichnete Standardmuster und das Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, das aufgenommen wurde, werden verglichen, um die defekten IC-Tags zu detektieren. Da Thermographie genutzt wird, kann die Tag-Testgeschwindigkeit erhöht werden, und die Tags können getestet werden, während sie an einem Tag-Blatt angebracht sind.

Reaktion oder Antworten der berührungslosen IC-Tags auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen, die gesendet wurden, werden ferner empfangen, die Anzahl der defekten IC-Tags wird basierend auf den empfangenen Antworten wird gezählt, und die Anzahl der defekten IC-Tags gezählt, indem das Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags analysiert wird, und ein Fehlen anderer defekter IC-Tags als die defekten IC-Tags, die basierend auf den Wärmeemissionsmustern der berührungslosen IC-Tags detektiert werden, wird bestimmt, wenn die Anzahl defekter IC-Tags, die basierend auf denen empfangenen Antworten gezählt wurde, mit der Anzahl defekter IC-Tags übereinstimmt, die basierend auf der Analyse des Bildes des Wärmeemissionsmusters gezählt wurde. Da das Fehlen der anderen defekten IC-Tags als diejenigen, die durch Thermographie detektiert wurden, bestimmt wird, kann die Zuverlässigkeit der Detektion defekter IC-Tags gesteigert werden.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung werden, um ein Fehlen anderer defekter IC-Tags als die durch Thermographie detektierten zu bestimmen oder eine Position eines defekten IC-Tag unter mehreren IC-Tags nur basierend auf dem Status eines en gros Sendens und Empfangens von elektromagnetischen Wellen oder Funkwellen der IC-Tags zu bestimmen, oder etwaige Kombinationen davon, mehrere der berührungslosen IC-Tags, die getestet werden sollen, gewechselt, indem eine Testfläche teilweise abgeschirmt wird, die die berührungslosen IC-Tags enthält, indem ein beweglicher Abschirmmechanismus genutzt wird, und eine Anweisung wird gegeben, die Anzahl berührungsloser IC-Tags, die getestet werden sollen, zu ändern, wenn die Anzahl defekter IC-Tags, die basierend auf den empfangenen Antworten gezählt wurde, nicht mit der Anzahl defekter IC-Tags übereinstimmt, die basierend auf der Analyse des Bildes des Wärmeemissionsmusters gezählt wurde, und eine Fläche mit nicht defekten IC-Tags, worin die Anzahl defekter IC-Tags, die basierend auf den empfangenen Antworten gezählt wurde, mit der Anzahl defekter IC-Tags übereinstimmt, die basierend auf der Analyse des Bildes des Wärmeemissionsmusters gezählt wurde, wird Schritt für Schritt aus der Testfläche ausgeschlossen, um defekte IC-Tags zu detektieren, die Wärme emittieren, nicht aber auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen antworten. Da ein defekter IC-Tag, der durch Thermographie nicht detektiert werden kann, detektiert wird, kann eine Zuverlässigkeit der Detektion defekter IC-Tags gesteigert werden. Gemäß einem Aspekt der Erfindung kann gemäß einem vorbestimmten Algorithmus eine Position des defekten IC-Tag unter mehreren IC-Tags nur basierend auf dem Status des en gros Sendens und Empfangens von elektromagnetischen Wellen oder Funkwellen der IC-Tags bestimmt werden, indem eine Fläche mit nicht defekten IC-Tags Schritt für Schritt aus einer Tag-Testfläche ausgeschlossen wird.

Ferner wird auf den detektierten defekten IC-Tag ein Etikett gedruckt, um den defekten IC-Tag als defekt zu markieren. Daher kann in einem Herstellprozess ein defekter IC-Tag unter IC-Tags auf einem Tag-Blatt leicht erkannt werden.

Eine Testfläche, die die berührungslosen IC-Tags enthält, die getestet werden sollen, wird ferner gekühlt. Da verhindert wird, dass die Temperatur der Testfläche ansteigt, kann die Genauigkeit der Detektion defekter IC-Tags effektiv erhöht werden.

Beispielhafte Ausführungsformen einer Tag-Testvorrichtung, eines Tag-Testverfahrens und eines Tag-Testprogramms, um mehrere Tags zu testen, die auf einem Tag-Blatt ausgebildet sind, werden als nächstes erläutert. Die vorliegende Erfindung ist jedoch nicht auf die vorliegenden beschriebenen beispielhaften Ausführungen der Ausführungsformen) der vorliegenden Erfindung beschränkt.

Ein Tag-Testverfahren, das das hervorstechende Merkmal der vorliegenden Erfindung, wird zuerst mit Verweis auf 1 erläutert. 1 ist eine Zeichnung eines Konzepts eines Tag-Testverfahrens gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In dem Tag-Testverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung empfängt, wenn Funkwellen an ein Tag-Blatt 50, das einen Tag 50a enthält, en gros gesendet werden, der Tag 50a die Funkwellen, wird aktiviert und emittiert Wärme. Ein Detektieren der Wärmeemission des Tag 50a ist das hervorstechende Merkmal des Tag-Testverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung. Mit anderen Worten induziert, wenn ein nicht defekter Tag die Funkwellen empfängt, eine im Tag enthaltene Speisequellen-Erzeugungseinheit eine Spannung, um die Schaltung zu aktivieren, und der Tag emittiert Wärme aufgrund der Spannung. Ein Tag, der aufgrund eines Defekts in der Schaltung nicht richtig aktiviert wird (ein defekter Tag), emittiert jedoch keine Wärme. Folglich können defekte Tags unter den auf dem Tag-Blatt 50 ausgebildeten Tags effizient detektiert werden, indem detektiert wird, ob die Tags Wärme emittieren. Gemäß einem Aspekt der Erfindung kann ein herkömmlicher Speisequellengenerator wie zum Beispiel eine in einem Tag 50a enthaltene herkömmliche Tag-Schaltung genutzt werden, und/oder ein neuer oder zusätzlicher Tag-Speisequellengenerator kann implementiert/vorgesehen werden.

Um genau zu sein, wird in 1 bei Operation 300 das gesamte Tag-Blatt 50 den Funkwellen ausgesetzt (siehe (300) von 1), und ein Bild des Tag-Blatts 50 wird mit Hilfe einer Infrarotkamera aufgenommen. Bei Operation 302 wird das Bild einer Thermographie unterzogen, um die defekten Tags zu identifizieren (siehe (302) von 1). Wie in 1 gezeigt ist, bezeichnet Bezugsziffer 60 ein von der Infrarotkamera aufgenommenes Bild des Tag-Blatts 50. Wie in 1 dargestellt ist, zeigt ein nicht defekter Tag 60a ein bestimmtes Wärmeemissionsmuster aufgrund einer Wärmeemission von der Schaltung (siehe 60a von 1). Ein defekter Tag 60b zeigt jedoch das Wärmeemissionsmuster nicht, da die Tag-Schaltung Wärme nicht emittiert (60b von 1). Bei Operation 304 kann folglich, wie in 1 gezeigt ist, ein Tag 50b des Tag-Blatts 50, der einem Tag wie durch Bezugsziffer 60b des Bildes 60 identifiziert entspricht, als ein defekter Tag 50b identifiziert werden. Gemäß einem Aspekt der Erfindung wird bei Operation 304 der identifizierte defekte Tag 50b ebenfalls mit Hilfe eines gedruckten Etiketts als defekt markiert ((304) von 1), wodurch defekte Tags auf dem Tag-Blatt 50 klar angegeben werden.

Das Aufnehmen eines Bildes eines Tag-Blatts 50 mit der Infrarotkamera und Detektieren defekter Tags zum Analysieren des Bildes mit Hilfe von Thermographie werden in der vorliegenden Ausführungsform erläutert. Gemäß einem anderen Aspekt der Erfindung können jedoch defekte Tags auf dem Tag-Blatt 50, die Wärme nicht emittieren, auch mit einem Sensor detektiert werden, der die Temperatur jedes Tag 50a auf dem Tag-Blatt 50 mißt. Beispielsweise soll eine herkömmliche Tag-Schaltungsspannung eine meßbare Wärme von ungefähr 60 Grad Celsius erzeugen oder kann eine solche emittieren.

In einem herkömmlichen Tag-Testverfahren werden Tags nacheinander zu einem Abschirmkasten geschickt, und defekte Tags werden detektiert, indem bestimmt wird, ob die Tags auf die Funkwellen ansprechen, die von einer Funkwellen sendenden und empfangenden Vorrichtung gesendet werden, die innerhalb des Abschirmkastens vorgesehen ist. Folglich kann die Testgeschwindigkeit nicht ausreichend erhöht werden. Auf der anderen Seite werden in dem Tag-Testverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung die defekten Tags basierend auf einer Identifizierung dessen detektiert, ob jeder Tag Wärme emittiert (im Folgenden "Wärmeemissionsstatus"), wodurch ermöglicht wird, eine große Anzahl von Tags gleichzeitig zu testen. Die Testgeschwindigkeit kann so erhöht werden, und die auf dem Tag-Blatt 50 ausgebildeten Tags können en gros getestet werden, ohne jeden Tag vom Tag-Blatt zu trennen.

Ein anderer Aspekt der Erfindung berücksichtigt, daß es einen defekten Tag geben könnte, der Wärme wie ein nicht defekter Tag emittiert (das heißt ein defekter Tag mit einem korrekten "Wärmeemissionsstatus"), weil der Tag nicht auf die Funkwellen antwortet (d.h. nicht richtig aktiviert). Falls ein solcher nicht aktivierender Tag als ein defekter Tag detektiert werden kann, wenn das oben erwähnte, auf dem Wärmeemissionsstatus basierende Tag-Testverfahren genutzt wird, können die Zuverlässigkeit und Genauigkeit der Detektion defekter Tags gesteigert werden.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung sendet eine Tag-Testvorrichtung die Funkwellen en gros an das Tag-Blatt 50, empfängt en gros die Antworten von jedem Tag 50a, indem die Tag en gros gelesen werden, indem eine etwaige bekannte Antikollisionsfunktion(en) genutzt wird, um einen Status des Sendens und Empfangens en gros der Tags zu bestimmen, und kombiniert das oben erwähnte Tag-Testverfahren der Erfindung basierend auf Thermographie, um die Zuverlässigkeit und die Genauigkeit der Detektion defekter Tags zu erhöhen. Die Tag-Testvorrichtung schirmt ferner das Tag-Blatt 50 mit einer beweglichen Abschirmplatte teilweise ab. Indem der Abschirmbereich geändert wird, grenzt folglich die Tag-Testvorrichtung die möglichen defekten Tags auf dem Tag-Blatt ein und erhöht die Genauigkeit der Detektion defekter Tags, indem eine Stelle eines defekten Tag 50b auf dem Tag-Blatt 50 identifiziert wird.

Mit Verweis auf 2 wird eine Struktur einer Tag-Testvorrichtung als nächstes erläutert, die das Tag-Testverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung anwendet. 2 ist ein Funktionsblockdiagramm einer Tag-Testvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Wie in 2 gezeigt ist, enthält eine Tag-Testvorrichtung 1 eine Infrarotkamera 2, eine Funkwellen sendende und empfangende Sektion 3, eine eine Abschirmplatte bewegende Sektion 4, eine Kühlsektion 5, eine Drucksektion 6, einen Controller 10 und eine Speichersektion 20. Der Controller 10 enthält ferner eine Tag-Muster aufzeichnende Einheit 11, eine Bildverarbeitungseinheit 12, eine defekte Tags detektierende Einheit 13, eine Tag-Antworten zählende Einheit 14 und einen Abschirmplatten-Controller 15. Die Speichereinheit 20 enthält weiter ein Standard-Tag-Muster 21.

Die Infrarotkamera 2 nimmt ein Bild eines Tag-Blatts 50 auf, das getestet werden soll, und liefert Bilddaten an die Bildverarbeitungseinheit 12. Die Funkwellen sendende und empfangende Sektion 3 ist eine Vorrichtung, die die Funkwellen en gros an das Tag-Blatt 50 sendet und die Antworten von den Tags auf dem Tag-Blatt 50 en gros empfängt. Genauer gesagt liest die Funkwellen sendende und empfangende Sektion 3 en gros die Tags unter Verwendung einer Antikollisionsfunktion und liefert ein Ergebnis einer Antikollisionsfunktion an die Tag-Antworten zählende Einheit 14.

Die eine Abschirmplatte bewegende Einheit 4 ist eine Vorrichtung, die eine bewegliche Abschirmplatte 8 (siehe 8A und 8B) bewegt, die zwischen der Infrarotkamera 2, der Funkwellen sendenden und empfangenden Sektion 3 und dem Tag-Blatt 50 angeordnet ist. Genauer gesagt schirmt die eine Abschirmplatte bewegende Sektion 4 einen vorbestimmten Teil des Tag-Blatts 50 vor der Infrarotkamera 2 und der Funkwellen sendenden und empfangenden Sektion 3 basierend auf Anweisungen von dem Abschirmplatten-Controller 15 ab. Ferner kann die Abschirmplatte 8 in einer willkürlichen Richtung auf einer Oberfläche parallel zum Tag-Blatt bewegt werden. Gemäß einem Aspekt der Erfindung schirmt die eine Abschirmplatte bewegende Sektion 4 nur die Funkwellen sendende und empfangende Einheitssektion 3 ab.

Die eine Abschirmplatte bewegende Sektion 4 wird mit Verweis auf 8A und 8B erläutert. 8A veranschaulicht eine Montage der Tag-Testvorrichtung 1 in Draufsicht, und 8B ist eine Seitenansicht der Montage der Tag-Testvorrichtung 1. Wie in 8A gezeigt ist, bezeichnet eine "Tag-Teststrecke" einen Aufbau, in welchem Tag-Blätter 7 (50), die getestet werden sollen, auf einen Bewegungsmechanismus zum Beispiel einem Band 30 platziert und die Tag-Blätter 7 (50) sukzessiv zu einer Fläche geschickt (oder auf dem Band 30 vorgerückt oder bewegt) werden, in der die Infrarotkamera 2 und das Sendeund Empfangsgerät 3 angeordnet sind, um sukzessive Testflächen für die Tag-Blätter 7 (50) zu schaffen. Das Tag-Blatt 7 schreitet zum Beispiel von rechts nach links als Bewegungsrichtung wie in 8A ersichtlich fort.

Wenn die Tags getestet werden, wird das Tag-Blatt 7 an einer Position gestoppt, wo die Infrarotkamera 2 ein Bild des Tag-Blatts 7 aufnehmen kann, und Funkwellen werden durch die Antenne (die Funkwellen sendende und empfangende Einheit) 3 an das Tag-Blatt 7 gesendet. Typischerweise kann in der Erfindung eine Abschirmplatte 8 sich in einer vertikalen und/oder horizontalen Richtung auf einer Oberfläche parallel zum Tag-Blatt 7 bewegen, wodurch ein vorbestimmter Teil des Tag-Blatts 7 abgeschirmt wird. Ein Bewegen der Abschirmplatte 8 nur in der vertikalen Richtung, wie in 8B ersichtlich, und Bewegen der Infrarotkamera 2 und des Tag-Blatts 7 zusammen in der horizontalen Richtung auf der Oberfläche parallel zum Tag-Blatt 7 können das gleiche Ergebnis liefern. Die Tags können auch getestet werden, indem die Abschirmplatte 8 fixiert und die Infrarotkamera 2 und das Tag-Blatt 7 zusammen in der vertikalen oder der horizontalen Richtung auf einer Oberfläche parallel zum Tag-Blatt 7 bewegt werden.

Zurückkehrend zu 2 wird die Kühlsektion 5 als nächstes erläutert. Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Kühlsektion 5 (siehe Bezugsziffer 5 von 8B) unter dem Band vorgesehen, auf dem das Tag-Blatt 7 (siehe Bezugsziffer 7 der 8A und 8B) platziert ist. Die Kühlsektion 5 hält die Temperatur der Tag-Testfläche(n) unter dem Band mittels (in einem beschränkenden Beispiel) Wasserkühlrohre etc. bei einer vorbestimmten Temperatur, weil gewisse Arten von Tags weniger Wärme emittieren könnten. Wenn die Tags, die weniger Wärme emittieren, getestet werden, kann die Änderung in der Tag-Temperatur nicht genau erfasst werden, falls die Umgebungstemperatur sich ändert, so daß die Kühlsektion 5 eine geeignete Temperatur der Tag-Testfläche aufrechterhält. Mit anderen Worten kann zum Beispiel, falls ein Tag-Blatt 7 (50) kühler als die Raumtemperatur ist, eine Bestimmung des "Wärmeemissionsstatus" verbessert werden, wenn einige Tags nicht genug Wärme oder sehr wenig Wärme erzeugen könnten. Folglich können Änderungen in der Temperatur der Tag-Testfläche verhindert werden, indem die Kühlsektion 5 genutzt wird, wodurch die Testgenauigkeit erhöht wird. Wasser wird zum Kühlen der vorliegenden Erfindung genutzt. Andere Medien mit niedriger Temperatur als Wasser wie zum Beispiel flüssiger Stickstoff können jedoch ebenfalls verwendet werden. Die vorliegende Erfindung ist ferner nicht auf die Ausführungsform mit einer Kühlsektion 5 beschränkt, und jedes beliebige Gerät und/oder Verfahren, um eine geeignete Tag-Testfläche konstant oder gleich zu halten, wie zum Beispiel eine Beibehaltung der Temperatur, kann genutzt werden. Die Tag-Testfläche könnte ferner nicht auf eine Fläche unter dem Band beschränkt werden, und jede physische Fläche der Tag-Testvorrichtung 1, oder in der sich die Tag-Testvorrichtung 1 befindet, die ein Testen von Tags beeinflussen kann, kann einer geeigneten Konstant- oder Beibehaltung wie zum Beispiel der Beibehaltung der richtigen Temperatur unterzogen werden, um einen "Wärmeemissionsstatus" der Erfindung zu implementieren.

Die Drucksektion 6 druckt ein Etikett auf den durch die defekte Tags detektierende Einheit 13 detektierten defekten Tag 50b, was den Tag 50a als einen defekten Tag 50b auf dem Tag-Blatt 7 (50) markiert. Durch Vorsehen der Drucksektion 6 können die defekten Tags 50b unter den Tags 50a auf dem Tag-Blatt 50 zur Identifizierung markiert werden. Folglich können die defekten Tags 50b in einer Tag-Fertigungsstraße usw. leicht identifiziert werden. Die Erfindung ist ferner nicht auf ein Drucken von Etiketten beschränkt, um die defekten Tags eines Tag-Blatts zu identifizieren, und irgendein Gerät und Verfahren können genutzt werden, um defekte Tags 50b auf einem Tag-Blatt 50 ohne weiteres zu identifizieren.

Der Controller 10 detektiert die defekten Tags basierend auf den durch die Infrarotkamera 2 aufgenommenen Bilddaten. Wie hierin ausführlicher beschrieben wird, kann der Controller 10 auch die Zuverlässigkeit und die Genauigkeit einer Detektion defekter Tags mit Hilfe der Funkwellen sendenden und empfangenden Sektion 3 und der eine Abschirmplatte bewegenden Sektion 4 erhöhen.

Die Tag-Muster aufzeichnende Einheit 11 zeichnet vorher in der Speichersektion 20 das Wärmeemissionsmuster des Tag-Blatts als das Standard-Tag-Muster 21 auf. In einem typischen Tag-Herstellprozess wird eine große Anzahl von Tags auf einem einzelnen Tag-Blatt 7 (50) gebildet. Indem ein Blatt 50 mit nicht defekten Tags den Funkwellen ausgesetzt und ein Bild des Wärmeemissionsmusters des Tag-Blatts vorher aufgenommen wird, kann die Testgeschwindigkeit eines Tag-Blatts, das sich auf der Tag-Teststrecke bewegt, erhöht werden. Indem zum Beispiel mehrere Wärmeemissionsmuster als das Standard-Tag-Muster 21 aufgezeichnet werden, können außerdem verschiedene Arten von Tag-Blättern 50 unter Verwendung eines Tag-Musters 21 getestet werden, das der Art des sich auf der Tag-Teststrecke bewegenden Tag-Blatts 50 entspricht.

Die Bildverarbeitungseinheit 12 führt eine Bildverarbeitung aus, indem die durch die Infrarotkamera 2 aufgenommenen Bilddaten 60 des Tag-Blatts 50 mit einem Standard-Tag-Muster 21 verglichen werden, das vorher in der Speichersektion 20 durch die Tag-Muster aufzeichnende Einheit 11 aufgezeichnet wurden, und detektiert "defekte Tags" 60b gemäß einem "Wärmeemissionsstatus" eines Tag 50a (in nicht beschränkenden Beispielen ein Tags) 50, das Wärme nicht emittiert, Tag(s), das Wärme übermässig emittiert (einschließlich einer unzureichenden Wärmeemission, eines Tag-Status basierend auf Luminanzdaten oder auf anderen auf die die Tag-Wärme bezogenen Emissionsmessungen) oder etwaige Kombinationen davon) basierend auf vorbestimmten Kriterien, beispielsweise einem thermographiegestützten Vergleich, einer Temperaturerfassung basierend auf vorbestimmten Temperaturbereichen etc. Die Bildverarbeitungseinheit 12 informiert die defekte Tags detektierende Einheit 13 über die Positionen und die Anzahl der defekten Tags basierend auf dem Wärmeemissionsstatus, beispielsweise Positionen) und eine Anzahl defekter Tags 60b, 50b identifizierend. Obgleich die beschriebene Ausführungsform eine Infrarotkamera nutzt, um einen "Wärmeemissionsstatus" eines Tag zu bestimmen, ist die Erfindung nicht auf eine solche Konfiguration beschränkt, und der "Wärmeemissionsstatus" eines Tag kann basierend auf beliebigen anderen, Wärme erfassenden Techniken wie zum Beispiel (ohne Beschränkung) einen Temperatursensor etc. bestimmt werden.

Die defekte Tags detektierende Einheit 13 detektiert die defekten Tags mit Hilfe von Informationen über defekte Tags, die von der Bildverarbeitungseinheit 12 empfangen wird, basierend auf dem "Wärmeemissionsstatus" von Tags auf dem Tag-Blatt 50. Zusätzlich zu den von der Bildverarbeitungseinheit 12 empfangenen Informationen nimmt die defekte Tags detektierende Einheit 13 auch Bezug auf eine Anzahl von Tag-Antworten auf die Funkwellen, die von der Tag-Antworten zählenden Einheit 14 empfangen wird, um ein Fehlen anderer defekter Tags als die schon detektierten defekten Tags zu bestätigen (d.h. um zu bestätigen oder zu bestimmen, dass es keine anderen möglichen defekten oder nicht funktionierenden Tags gibt, zum Beispiel basierend auf einer Funkwellenantwort). Um die defekten Tags zu detektieren (identifizieren), die Wärme emittieren, nicht aber auf die Funkwellen ansprechen (um zum Beispiel Stelle(n) möglicher defekter Tags, die Wärme emittieren, auf dem Tag-Blatt 7 (50) zu identifizieren), ändert die defekte Tags detektierende Einheit 13 auch den Abschirmbereich, indem das Tag-Blatt 7 zum Teil mit der beweglichen Abschirmplatte 8 abgeschirmt wird, wodurch die möglichen defekten Tags eingegrenzt werden.

Ein Prozess, um die defekten Tags mit der von der Bildverarbeitungseinheit 12 empfangenen Information über defekte Tags basierend auf dem Wärmeemissionsstatus zu detektieren, wird zuerst erläutert (siehe Bezugsziffer 60 von 1). Ein Bild des Wärmeemissionsmusters der Tags, worin alle Tags auf dem Tag-Blatt 50 Wärme korrekt emittieren, wird als das Standard-Tag-Muster 21 aufgezeichnet. Falls zum Beispiel das durch die Bezugsziffer 60 von 1 angegebene Bild die von der Bildverarbeitungseinheit 12 basierend auf dem Wärmeemissionsstatus empfangene Information über defekte Tags ist, wird das Bild 60 mit dem Standard-Tag-Muster 21 verglichen, um 60b als das defekte Tag zu detektieren. Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung kann der Vergleichsprozeß von der Bildverarbeitungseinheit 12, der defekte Tags detektierenden Einheit 13 oder einer beliebigen Kombination davon durchgeführt werden. Falls Tags auf einem Tag-Blatt 50 von der gleichen Art sind, zeigt jeder Tag das gleiche Wärmeemissionsmuster, und gemäß einem Aspekt der Erfindung ist es in diesem Fall möglich, nur ein Wärmeemissionsmuster eines einzelnen Tag auf das Standard-Tag-Muster 21 aufzuzeichnen und es mit dem jedes Tag auf dem Tag-Blatt 50 zu vergleichen.

Als nächstes wird mit Verweis auf 3 ein Prozeß erläutert, um das Fehlen anderer defekter Tags als die Tags zu bestätigen, die aus der auf dem Wärmeemissionsstatus basierenden Information über defekte Tags detektiert wurden. 3 ist eine Zeichnung eines Konzepts eines Prozesses zur Detektion defekter Tags basierend auf der Anzahl von Tag-Antworten auf die Funkwellen und der Anzahl von Tags, die als Wärme emittierende Tags identifiziert werden, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Wie in 3 gezeigt ist, empfängt bei Operation 300 die defekte Tags detektierende Einheit 13 das Ergebnis des Lesung en gros der Tags auf dem Tag-Blatt 50, die von der Tag-Antworten zählenden Einheit 14 ausgeführt wird, indem die Antikollisionsfunktion genutzt wird (siehe (300) der 1 und 3). Wie in 3 gezeigt ist, enthält das Tag-Blatt 50 10 Tags, von denen 9 Tags auf die gesendeten Funkwellen antworten. Die Tag-Antworten zählende Einheit 14 informiert die defekte Tags detektierende Einheit 13 darüber, dass die Anzahl von Tag-Antworten (Anzahl nicht defekter Tags) 9 beträgt. Der Tag 50b, der auf die Funkwellen nicht antwortet, wird an dieser Stelle noch nicht identifiziert.

Auf der anderen Seite empfängt die defekte Tags detektierende Einheit 13 auch die Informationen über defekte Tags von der Bildverarbeitungseinheit 12 basierend auf dem Wärmeemissionsstatus. Wie in 3 gezeigt ist, identifiziert bei Operation 302 die Bildverarbeitungseinheit 12, dass der Tag 60b Wärme nicht emittiert, als Folge einer Bildverarbeitung und informiert die defekte Tags detektierende Einheit 13 darüber, dass 9 Tags mit Hilfe einer Bildanalyse als nicht defekte Tags identifiziert werden (siehe (302) der 1 und 3). Bei Operation 304 identifiziert die defekte Tags detektierende Einheit 13 den Tag 50b (den den Bilddaten 60b entsprechenden Tag) als den defekten Tag, wenn die Anzahl von Tags, die basierend auf dem Wärmeemissionsstatus als Wärme emittierende Tags identifiziert werden, mit der Anzahl von Tag-Antworten auf die Funkwellen übereinstimmt und weist zum Beispiel die Drucksektion 6 an, den Tag 50b mit einem gedruckten Etikett als den defekten Tag 50b zu markieren (siehe (304) der 1 und 3).

Das Fehlen anderer defekter Tags als die Tags, die durch den Wärmeemissionsstatus detektiert werden (d.h. anderer defekter Tags als die defekten Tags, die basierend auf dem Wärmeemissionsstatus detektiert werden) kann folglich bestätigt werden, indem auch auf die Anzahl von Tag-Antworten auf die Funkwellen Bezug genommen wird. Die Anzahl von Tag-Antworten auf die Funkwellen wird als Folge eines Lesens en gros der Tags unter Verwendung der Antikollisionsfunktion erhalten. Die Zuverlässigkeit des Prozesses zur Detektion von defekten Tags wird daher gesteigert.

Als nächstes wird mit Verweis auf 4 und 5 ein Prozeß erläutert, der die möglichen defekten Tags eingrenzt, indem das Tag-Blatt teilweise abgeschirmt und der Abschirmbereich mit der beweglichen Abschirmplatte geändert wird, um die defekten Tags zu detektieren (identifizieren), die Wärme korrekt emittieren, nicht aber auf Funkwellen ansprechen. 4 ist eine Zeichnung eines Konzepts des Prozesses zur Detektion defekter Tags, der die bewegliche Abschirmplatte nutzt, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. 5 ist eine Zeichnung, die den Prozeß zur Detektion defekter Tags veranschaulicht, der die bewegliche Abschirmplatte nutzt, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Insbesondere ist 4 eine Zeichnung, die den Prozeß der Detektion defekter Tags veranschaulicht, wenn die Anzahl von Tag-Antworten auf die Funkwellen und die Anzahl von Tags, die als Wärme emittierende Tags identifiziert werden, nicht übereinstimmen. Wie in 4 gezeigt ist, beträgt bei Operation 300 die Anzahl von Tag-Antworten auf die Funkwellen 8, und die Anzahl von Tags, die basierend auf dem Wärmeemissionsstatus als Wärme emittierende Tags identifiziert werden, beträgt 9 (siehe (300) von 4). Dies zeigt das Vorhandensein eines anderen defekten Tag als die defekten Tags an, die durch den Wärmeemissionsstatus detektiert werden. Mit anderen Worten gibt es einen defekten Tag, der Wärme korrekt emittiert, aber wegen zum Beispiel eines partiellen Defekts in der Schaltung des Tag nicht auf die Funkwellen anspricht.

Bei Operation 302 wird das Tag-Blatt 7 (50) vor den Funkwellen teilweise abgeschirmt, indem die bewegliche Abschirmplatte 8 bewegt wird (siehe (302) von 4), und die Anzahl von Tag-Antworten wird gezählt, indem der Abschirmbereich Schritt für Schritt geändert wird (siehe (304) von 4). Bei Operation 304 kann folglich die mögliche Position defekter Tags eingegrenzt werden, um den oben erwähnten defekten Tag zu detektieren, der Wärme richtig emittiert, aber dabei scheitert, auf Funkwellen zu antworten. Der Prozeß zum Eingrenzen der möglichen defekten Tags wird mit Verweis auf 5 im Detail weiter erläutert.

Wie in 5 gezeigt ist, sprechen 8 Tags auf einem Tag-Blatt 51 auf die Funkwellen an. Ein Tag B-4 und ein Tag B-5 sind die beiden defekten Tags. Der Tag B-4 wird basierend auf Bilddaten 61 als ein defekter Tag identifiziert. Es wird jedoch angenommen, daß der Tag B-5 noch nicht als defekter Tag identifiziert ist. Wie in 5 gezeigt ist, werden Tags B-1 bis B-5 abgeschirmt, indem die oben erwähnte bewegliche Abschirmplatte 8 in der horizontalen Richtung (siehe Bezugsziffer 52 von 5) bewegt wird. In diesem Zustand wird ein Lesen en gros unter Verwendung der Antikollisionsfunktion durchgeführt. Wie in 5 gezeigt ist, beträgt, da Tags A-1 bis A-5 auf die Funkwellen ansprechen, die Anzahl von Tag-Antworten 5, welche mit der Anzahl von Tags übereinstimmt, die basierend auf dem Wärmeemissionsstatus als Wärme emittierende Tags identifiziert werden (siehe Bezugssymbole A-1 bis A-5 von Bezugziffer 61von 5). Folglich identifiziert die defekte Tags identifizierende Einheit 13 die Tags A-1 bis A-5 als nicht defekte Tags. Mit anderen Worten wird die die Tags A-1 bis A-5 enthaltende Fläche als Fläche der nicht defekten Tags identifiziert und aus dem Bereich einer Detektion defekter Tags ausgeschlossen.

Als nächstes wird die bewegliche Abschirmplatte 8 in einer vertikalen Richtung bewegt. Wie in 5 gezeigt ist, wird die Abschirmplatte zu einer durch Bezugsziffer 53 bezeichneten Position bewegt, und die Tags werden unter Verwendung der Antikollisionsfunktion en gros gelesen. Die Anzahl von Tag-Antworten beträgt 6, welche mit der Anzahl von Tags übereinstimmt, die basierend auf dem Wärmeemissionsstatus als Wärme emittierende Tags identifiziert wurden (siehe Bezugssymbol A-1 bis A-3 und B-1 bis B-3 von Bezugsziffer 61 von 5). Folglich wird die die Tags B-1 bis B-3 enthaltende Fläche durch die defekte Tags detektierende Einheit 13 als Fläche mit defekten Tags identifiziert und aus dem Bereich zur Detektion defekter Tags ausgeschlossen.

Wie in 5 gezeigt ist, enthält das Tag-Blatt 51 10 Tags. Wenn alle Tags unter Verwendung der Antikollisionsfunktion en gros gelesen werden, beträgt die Anzahl von Tag-Antworten 8, was bedeutet, dass die Anzahl defekter Tags 2 beträgt. Bis zu dem Zeitpunkt, zu dem der durch Bezugsziffer 53 von 5 angegebene Schritt ausgeführt ist, sind die Tags A-1 bis A-5 und die Tags B-1 bis B-3 als nicht defekte Tags identifiziert, was insgesamt acht Tags ausmacht. Die verbleibenden Tags B-4 und B-5 können folglich als die defekten Tags identifiziert werden. Indem das Tag-Blatt 7 (50) durch Verwenden der beweglichen Abschirmplatte 8 teilweise abgeschirmt wird, können folglich die defekten Tags, die Wärme korrekt emittieren, aber nicht auf die Funkwellen antworten, detektiert werden, wodurch die Genauigkeit der Detektion defekter Tags gesteigert wird.

Zurückkehrend zu 2 wird als nächstes die Tag-Antworten zählende Einheit 14 erläutert. Die Tag-Antworten zählende Einheit 14 liest en gros die Tags unter Verwendung der Antikollisionsfunktion mit Hilfe der Funkwellen sendenden empfangenden und Sektion 3 und informiert die defekte Tags detektierende Einheit 13 über die Anzahl von Tag-Antworten auf die Funkwellen. Falls die defekte Tags detektierende Einheit 13 die Existenz anderer defekter Tags als die defekten Tags bestimmt, die basierend auf einem Wärmeemissionsstatus von Tags identifiziert wurden, weist die defekte Tags detektierende Einheit 13 den Abschirmplatten-Controller 15 an, die eine Abschirmplatte bewegende Sektion 4 zu steuern, um die Anzahl von Tags auf dem Tag-Blatt zu ändern, die getestet werden sollen, indem eine willkürliche Fläche des Tag-Blatts teilweise abgeschirmt wird, indem die Abschirmplatte 8 bewegt und von der Testfläche eine Fläche mit nicht defekten Tags Schritt für Schritt ausgeschlossen wird, wobei eine durch die Tag-Antworten zählende Einheit 14 gezählte Anzahl mit einer Anzahl übereinstimmt, die von der Bildverarbeitungseinheit 12 gezählt wurde, um solche anderen defekten Tags zu detektieren.

Die Speichersektion 20 enthält eine Speichervorrichtung wie z.B. einen Direktzugriffsspeicher (RAM) etc. der das durch die Tag-Muster aufzeichnende Einheit 11 aufgezeichnete Standard-Tag-Muster 21 speichert. Ein einzelnes Tag-Muster oder mehrere Tag-Muster können als das Standard-Tag-Muster 21 aufgezeichnet werden. Wie früher beschrieben wurde, wird in einem typischen Tag-Herstellprozess eine große Anzahl von Tags auf einem einzelnen Tag-Blatt 7 (50) gebildet. Indem ein defektfreies Tag-Blatt 7 (50) den Funkwellen ausgesetzt und ein Bild des Wärmeemissionsmusters des Tag-Blatts vorher als ein Standard-Tag-Bildmuster 21 aufgenommen wird, kann daher die Testgeschwindigkeit eines sich auf einer Tag-Teststrecke bewegenden Tag-Blatts erhöht werden. Indem mehrere Wärmeemissionsmuster als das Standard-Tag-Muster 21 aufgezeichnet werden, können außerdem verschiedene Arten von Tag-Blättern getestet werden, indem ein Tag-Muster genutzt wird, das dem Typ des sich auf der Tag-Teststrecke bewegenden Tag-Blatt entspricht.

Eine Sequenz des Prozesses zur Detektion defekter Tags basierend auf der Anzahl von Tag-Antworten auf Funkwellen und der Anzahl von Tags, die als Wärme emittierende Tags identifiziert werden (siehe 3), wird mit Verweis auf 6 erläutert. 6 ist ein Flussdiagramm der Sequenz des Prozesses zur Detektion defekter Tags gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Wie in 6 gezeigt ist, zeichnet die Tag-Muster aufzeichnende Einheit 11 das Standard-Tag-Muster 21 in der Speichersektion 21 (Schritt S101) auf. Die Infrarotkamera 2 nimmt ein Bild des zur Testfläche geschickten Tag-Blatts 7 (50) auf (Schritt S102). Die Bildverarbeitungseinheit 12 vergleicht die Bilddaten 60 des Tag-Blattes mit dem Standard-Tag-Muster 21, das vorher gespeichert wurde (Schritt S103).

Die Funkwellen sendende und empfangende Sektion 3 liest en gros die Tags des Tag-Blatts 7 (50) unter Verwendung der Antikollisionsfunktion (Schritt S104), und die Tag-Antworten zählende Einheit 14 zählt die Anzahl der Tag-Antworten (Schritt S105). Als nächstes bestimmt die defekte Tags detektierende Einheit 13, ob die Anzahl identifizierter Tags mit der Anzahl von Tag-Antworten übereinstimmt (Schritt S106). Falls die Anzahl identifizierter Tags mit der Anzahl von Tag-Antworten übereinstimmt ("Ja" bei Schritt S106), weist die defekte Tags detektierende Einheit 13 die Drucksektion 6 an, die defekten Tags, die als Folge der durch die Bildverarbeitungseinheit 12 ausgeführten Bildverarbeitung detektiert wurden, mit einem gedruckten Etikett zu markieren (Schritt S108), wodurch der Prozess endet.

Falls die Anzahl identifizierter Tags mit der Anzahl von Tag-Antworten nicht übereinstimmt ("Nein" bei Schritt S106), führt der Abschirmplatten-Controller 15 gemäß dem mit Verweis auf 4, 5 und 7 beschriebenen nicht beschränkenden beispielhaften Prozess einen Prozess zur Steuerung der Abschirmplatte (Schritt S107) aus. Wenn die defekten Tags schließlich identifiziert sind, führt die Drucksektion 6 einen defekte Tags markierenden Prozess aus (Schritt 108), wodurch der Prozess endet.

Der Prozess zur Steuerung der Abschirmplatte, der in dem Prozess zur Detektion defekter Tags enthalten ist, wird mit Verweis auf 7 erläutert. 7 ist ein Flussdiagramm einer Sequenz des im Prozess zur Detektion defekter Tags enthaltenen Prozesses zur Steuerung einer Abschirmplatte gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Das in 7 gezeigte Flussdiagramm entspricht dem Prozess zur Steuerung einer Abschirmplatte (Schritt S107), der in 8 dargestellt ist. Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung kann der Prozess zur Steuerung einer Abschirmplatte vom Abschirmplatten-Controller 15, der defekte Tags detektierenden Einheit 13 oder jeder Kombination davon ausgeführt werden. Wie in 7 gezeigt ist, weist der Abschirmplatten-Controller 15 die die Abschirmplatte bewegende Sektion 4 an, die Abschnittplatte 8 zu bewegen und das Tag-Blatt 7 (50) teilweise abzuschirmen, wodurch die den Funkwellen ausgesetzte Testfläche des Tag-Blatts reduziert wird (Schritt S201). Die Funkwellen sendende und empfangende Sektion 3 liest en gros die Tags in der reduzierten Testfläche des Tag-Blatts unter Verwendung der Antikollisionsfunktion (Schritt S202). Als nächstes zählt die Tag-Antworten zählende Einheit 14 die Anzahl von Tag-Antworten (Schritt S203). Die defekte Tags detektierende Einheit 13 bestimmt, ob die Anzahl von Tag-Antworten mit der Anzahl identifizierter Tags in der reduzierten Fläche übereinstimmt. Falls die Anzahl von Tag-Antworten mit der Anzahl identifizierter Tags in der reduzierten Testfläche des Tag-Blatts übereinstimmt ("Ja" bei Schritt S204), identifiziert die defekte Tags detektierende Einheit 13 die Testfläche des Tag-Blatts als eine defektfreie Testfläche des Tag-Blatts (Schritt S205) und schließt die defektfreie Testfläche des Tag-Blatts aus dem Bereich der Detektion defekter Tags aus. Falls die Anzahl von Tag-Antworten nicht mit der Anzahl identifizierter Tags in der reduzierten Testfläche des Tag-Blatts übereinstimmt ("Nein" bei Schritt S204)), identifiziert die defekte Tags detektierende Einheit 13 die Testfläche des Tag-Blatts als eine Testfläche des Tag-Blatts mit Defekten (Schritt S206).

Als nächstes bestimmt die defekte Tags detektierende Einheit 13, ob alle defekten Tags detektiert sind (Schritt S207), und beendet den Prozess zur Detektion defekter Tags, falls alle defekten Tags detektiert sind ("Ja" bei Schritt S207). Falls nicht alle defekten Tags identifiziert sind (nicht alle defekten Tags detektiert sind) ("Nein" bei Schritt S207), fährt die defekte Tags detektierende Einheit 13 damit fort, die möglichen defekten Tags einzugrenzen, indem der Prozess zur Detektion defekter Tags von Schritt S201 an wiederholt wird, bis alle defekten Tags detektiert wurden. Gemäß einem Aspekt der Erfindung kann bei Operation 201 jeder beliebige flächenreduzierende Algorithmus genutzt werden. Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung werden Lagen oder Positionen defekter Tags in einer Testfläche mehrerer Tags gemäß den "Wärmeemissionsstatus" der Tags identifiziert. Gemäß einem anderen Aspekt der Erfindung werden Lagen oder Positionen defekter Tags innerhalb der Testfläche mehrerer Tags gemäß einer Kombination des "Wärmeemissionsstatus" und des Sendens und Empfangens en gros von Funkwellen der Tags identifiziert. Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung werden Lagen oder Positionen(en) auf dem Tag-Blatt defekter Tags gemäß einem "Wärmeemissionsstatus" der Tags oder einer Kombination des "Wärmeemissionsstatus" und des Sendens und Empfangens von Funkwellen en gros der Tags bezüglich eines Test-Tag-Blatts identifiziert.

Gemäß einer vorliegenden Ausführungsform nimmt eine Bildverarbeitungseinheit unter Verwendung einer Infrarotkamera 2 ein Bild eines Tag-Blatts 50 auf, vergleicht die Bilddaten 60 mit einem Bild 21 eines Standard-Tag-Musters, das in einer Speichersektion gespeichert ist, und eine defekte Tags detektierende Einheit 13 detektiert basierend auf dem Ergebnis des Vergleichs defekte Tags auf dem Tag-Blatt 50. Eine Funkwellen sendende und empfangende Sektion 3 liest en gros die Tags auf dem Tag-Blatt 50 unter Verwendung einer Antikollisionsfunktion. Eine Tag-Antworten zählende Einheit 14 zählt die Anzahl von Tag-Antworten, und die defekte Tags detektierende Einheit 13 vergleicht die Anzahl identifizierter Tags, die durch die Bildverarbeitungseinheit identifiziert werden, mit der Anzahl von Tag-Antworten. Falls die Anzahl identifizierter Tags nicht mit der Anzahl von Tag-Antworten übereinstimmt, bewegt ein Abschirmplatten-Controller 15 eine Abschirmplatte, um das Tag-Blatt 50 teilweise abzuschirmen, und die Funkwellen sendende und empfangende Sektion 3 liest en gros wiederholt die Tags unter Verwendung der Antikollisionsfunktion, während der Abschirmbereich Schritt für Schritt geändert wird, wodurch die möglichen defekten Tags eingegrenzt werden, die Wärme emittieren, nicht aber auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen antworten. Folglich kann eine Tag-Testgeschwindigkeit zusätzlich erhöht werden, und Tags können getestet werden, ohne vom Tag-Blatt 50 getrennt zu werden.

Die vorliegende Erfindung ist nicht auf ein Testen von Tags beschränkt, die an einem Tag-Blatt angebracht sind. Beispielsweise können gleichzeitig an einem Tag-Blatt angebrachte passive Tags getestet werden. Zum Beispiel können in einer vorbestimmten Sequenz angeordnete Tags gleichzeitig getestet werden. Nicht passive oder aktive Tags, die in einem Gehäuse angeordnet sind, können beispielsweise ebenfalls gleichzeitig getestet werden. Gemäß einem Aspekt der Erfindung können passive Tags, aktive Tags oder beliebige Kombinationen dieser getestet werden. Folglich können Tags gleichzeitig getestet werden, wodurch die Tag-Testgeschwindigkeit erhöht wird.

Funktionen der Tag-Testvorrichtung 1 gemäß der vorliegenden Erfindung wurden in der vorliegenden Ausführungsform erläutert. Jede Funktion der Tag-Testvorrichtung 1 kann in Form eines Programms vorgesehen sein, das fallweise von einem Computer wie z.B. einem Personal Computer oder einer Workstation ausgeführt werden. Mit anderen Worten kann jeder in der vorliegenden Ausführungsform erläuterte Prozess in Form eines vorher entworfenen Programms vorgesehen sein, das von einem Computer ausgeführt wird. Die so entworfenen Programme können über Netzwerke wie das Internet verteilt werden. Die Programme können auch in computerlesbaren Speichermedien wie z.B. einer Festplatte, einer Diskette (FD), einer Compact Disc-Read-Only Memory (CD ROM), einer Digital Versatile Disc (DVD) etc. gespeichert und durch Lesen von den Speichermedien mit Hilfe eines Computers ausgeführt werden. Insbesondere kann die Tag-Testvorrichtung 1 in Software, programmierbarer Computerhardware, Hardware/Vorrichtungen zum Verarbeiten von Informationen einschließlich beliebiger Formen von Schaltungen, beliebiger Formen von computerlesbaren Datenspeichermedien (z.B. Speicher, Festplatte etc.) oder Geräten/Hardware einschließlich elektromechanischer, optischer Geräte oder Mechanismen etc. (z.B. einer Infrarotkamera, einer Bewegungseinrichtung für eine Abschirmplatte, eines Kühlers für eine Tag-Testfläche, eines Druckers, einer Welle eines elektromagnetischen Spektrums, wie z.B. eines Sende-Empfangsgeräts für Funkwellen, einer Welle eines elektromagnetischem Spektrums, wie z.B. einer Funkwelle, einer Abschirmung) oder beliebigen Variationen davon implementiert sein. Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung kann ein Controller 10 für die Tag-Testvorrichtung 1 in Software implementiert sein.

Dementsprechend kann die vorliegende Erfindung eine Tag-Testvorrichtung schaffen, die mehrere berührungslose Funkfrequenz-Tags mit integrierter Schaltung (IC) (z.B. Tags zur Funkfrequenzidentifizierung (RFID)) Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen aussetzt und defekte IC-Tags unter den berührungslosen IC-Tags detektiert, welche Tag-Testvorrichtung einen Transceiver oder ein Sende-Empfangsgerät umfasst, das Funkwellen oder elektromagnetische Wellen an die berührungslosen IC-Tags en gros sendet; und einen Detektor, der die defekten IC-Tags basierend darauf detektiert, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn das Sende-Empfangsgerät Funkwellen oder elektromagnetische Wellen an die berührungslosen IC-Tags sendet. Die Tag-Testvorrichtung umfasst ferner ein Aufzeichnungsgerät für ein Tag-Musterbild, das ein Bild eines Standard-Tag-Musters aufzeichnet, das ein defektfreies Wärmeemissionsmuster berührungsloser IC-Tags repräsentiert; und eine Kamera, die ein Bild eines Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags aufnimmt, die Funkwellen oder elektromagnetische Wellen empfangen, die vom Sende-Empfangsgerät gesendet wurden, wobei der Detektor das aufgezeichnete Bild eines Standard-Tag-Musters und das Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, das von der Kamera aufgenommen wurde, vergleicht, um die defekten IC-Tags zu detektieren. Ferner empfängt das Sende-Empfangsgerät Antworten der berührungslosen IC-Tags auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen, die vom Sende-Empfangsgerät gesendet wurden, detektiert der Detektor eine Anzahl der defekten IC-Tags basierend auf den empfangenen Antworten, und der Detektor bestimmt das Fehlen anderer defekter IC-Tags als die defekten IC-Tags, die basierend auf dem Wärmeemissionsmuster der berührungslosen IC-Tags detektiert werden, wenn die Anzahl antwortender Tags mit de Anzahl Wärme emittierender Tags übereinstimmt.

Die Tag-Testvorrichtung umfasst ferner eine bewegliche Abschirmung, die eine Anzahl der berührungslosen IC-Tags, die getestet werden sollen, ändert, indem eine Testfläche teilweise abgeschirmt wird, die die berührungslosen IC-Tags enthält, wobei der Detektor die bewegliche Abschirmung anweist, die Anzahl berührungsloser IC-Tags zu ändern, die getestet werden sollen, wenn eine Anzahl antwortender Tags nicht mit einer Anzahl von Wärme emittierenden Tags übereinstimmt, und die bewegliche Abschirmung eine Fläche mit IC-Tags ohne Defekte aus der Testfläche ausschließt, wobei die Anzahl antwortender Tags mit der Anzahl von Wärme emittierenden Tags übereinstimmt, um defekte IC-Tags zu detektieren, die Wärme emittieren, nicht aber auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen antworten.

Die Tag-Testvorrichtung umfasst ferner einen Markierer für defekte Tags, der einen durch den Detektor detektierten defekten IC-Tag als defekt etikettiert. Die Tag-Testvorrichtung umfasst ferner einen Kühler, der eine Testfläche kühlt, die die berührungslosen IC-Tags enthält, die getestet werden sollen.

Ein Tag-Testverfahren, um mehrere berührungslose IC-Tags Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen auszusetzen und defekte IC-Tags unter den berührungslosen IC-Tags zu detektieren, umfasst: en gros Senden von Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen an die berührungslosen IC-Tags und Detektieren der defekten IC-Tags basierend darauf, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn Funkwellen oder elektromagnetische Wellen zu den berührungslosen IC-Tags gesendet werden. Das Tag-Testverfahren umfasst ferner ein Aufzeichnen eines Standard-Musterbildes, das ein Wärmeemissionsmuster ohne Defekte der berührungslosen IC-Tags repräsentiert, und ein Aufnehmen eines Bildes eines Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, die die gesendeten Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen empfangen, wobei der Detektierprozess ein Vergleichen des aufgenommenen Bildes des Standardmusters und des aufgenommenen Bildes des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags umfasst, um die defekten IC-Tags zu detektieren.

Das Tag-Testverfahren umfasst ferner ein Empfangen von Antworten der berührungslosen IC-Tags auf die gesendeten Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen; ein Zählen einer Anzahl der defekten IC-Tags basierend auf den empfangenen Antworten; und Zählen einer Anzahl der defekten IC-Tags, indem das aufgenommene Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags analysiert wird, wobei des Detektieren ein Bestimmen eines Fehlens anderer defekter IC-Tags als die defekten IC-Tags beinhaltet, die basierend auf dem Wärmeemissionsmuster der berührungslosen IC-Tags detektiert werden, wenn eine Anzahl antwortender Tags mit einer Anzahl Wärme emittierender Tags übereinstimmt.

Das Tag-Testverfahren umfasst ferner ein Ändern einer Anzahl der berührungslosen IC-Tags, die getestet werden sollen, indem eine Testfläche teilweise abgeschirmt wird, die die berührungslosen IC-Tags enthält, wobei das Detektieren ein Anweisen, die Anzahl berührungsloser IC-Tags, die getestet werden sollen, zu ändern, beinhaltet, wenn die Anzahl antwortender Tags nicht mit der Anzahl Wärme emittierender Tags übereinstimmt, und Schritt für Schritt Ausschließen einer Fläche mit nicht defekten IC-Tags aus der Testfläche, wobei eine Anzahl antwortender Tags mit einer Anzahl Wärme emittierender Tags übereinstimmt, um defekte IC-Tags zu detektieren, die Wärme emittieren, nicht aber auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen antworten.

Das Tag-Testverfahren umfasst ferner ein Markieren eines beim Detektieren detektierten defekten IC-Tags. Das Tag-Testverfahren umfasst ferner ein Kühlen einer Testfläche, die die berührungslosen IC-Tags enthält, die getestet werden sollen.

Ein Tag-Testprogramm, um mehrere berührungslose IC-Tags Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen auszusetzen und defekte IC-Tags unter den berührungslosen IC-Tags zu detektieren, ist vorgesehen, wobei das Programm einen Computer veranlasst, Funkwellen oder elektromagnetische Wellen en gros an die berührungslosen IC-Tags zu senden; und die defekten IC-Tags basierend darauf zu detektieren, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn Funkwellen oder elektromagnetische Wellen zu den berührungslosen IC-Tags gesendet werden. Das Tag-Testprogramm veranlasst ferner einen Computer, ein Bild eines Standardmusters aufzuzeichnen, das ein Wärmeemissionsmuster ohne Effekte der berührungslosen IC-Tags repräsentiert; und ein Bild eines Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags aufzunehmen, die die gesendeten Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen empfangen, wobei das Detektieren ein Vergleichen des aufgezeichneten Standardmusters und des aufgenommenen Bildes des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags umfasst, um die defekten IC-Tags zu detektieren.

Das Tag-Testprogramm veranlasst ferner einen Computer, Antworten der berührungslosen IC-Tags auf die gesendeten Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen zu empfangen, eine Anzahl der defekten IC-Tags basierend auf den empfangenen Antworten zu zählen und eine Anzahl der defekten IC-Tags zu zählen, indem das aufgenommene Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags analysiert wird, wobei das Detektieren ein Bestimmen eines Fehlens von anderen defekten IC-Tags als die defekten IC-Tags einschließt, die basierend auf dem Wärmeemissionsmuster der berührungslosen IC-Tags detektiert werden, wenn eine Anzahl ansprechender Tags mit einer Anzahl Wärme emittierender Tags übereinstimmt.

Das Tag-Testprogramm veranlasst ferner einen Computer ein Ändern einer Zahl der berührungslosen IC-Tags zu steuern, die getestet werden sollen, indem eine Testfläche, die die berührungslosen IC-Tags enthält, teilweise abgeschirmt wird, indem ein beweglicher Abschirmmechanismus genutzt wird, wobei das Detektieren ein Anweisen des beweglichen Abschirmmechanismus beinhaltet, die Anzahl berührungsloser IC-Tags, die getestet werden sollen, zu ändern, wenn die Anzahl ansprechender Tags nicht mit der Anzahl Wärme emittierender Tags übereinstimmt, und ein Ausschliessen einer Fläche mit nicht defekten IC-Tags Schritt für Schritt aus der Testfläche, wobei eine Anzahl antwortender Tags mit einer Anzahl Wärme emittierender Tags übereinstimmt, um defekte IC-Tags zu detektieren, die Wärme emittieren, nicht aber auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen antworten.

Wie oben beschrieben wurde, sind eine Tag-Testvorrichtung, ein Tag-Testverfahren und ein Tag-Testprogramm gemäß der vorliegenden Erfindung beim Testen der großen Anzahl berührungsloser IC-Tags mit hoher Geschwindigkeit anwendbar. Die vorliegende Erfindung ist insbesondere anwendbar, wenn in (während) einem Herstellprozess der berührungslosen IC-Tags eine große Anzahl der berührungslosen IC-Tags mit hoher Geschwindigkeit getestet werden muss, während sie an einem Tag-Blatt angebracht sind. Eine Tag-Testvorrichtung nutzt eine Infrarotkamera, um ein Bild mehrerer Tags zur Funkfrequenzidentifizierung aufzunehmen, vergleicht das Bild mit einem gespeicherten Bild eines Standard-Tag-Musters und detektiert basierend auf dem Vergleich defekte Tags. Ein Sende-Empfangsgerät für Funkwellen liest en gros die Tags unter Verwendung einer Antikollisionsfunktion, ein Zähler für die Tag-Antworten zählt eine Anzahl von Tag-Antworten, und ein Detektor für defekte Tags vergleicht eine Anzahl Wärme emittierender Tags basierend auf der Bildverarbeitung mit einer Anzahl von Tag-Antworten, die vom Zähler von Tag-Antworten gezählt wurde. Falls eine Anzahl Wärme emittierender Tags nicht mit einer Anzahl antwortender Tags übereinstimmt, wird eine Anzahl der Tags, die getestet werden, geändert, indem die Tags teilweise abgeschirmt werden, und das Sende-Empfangsgerät für Funkwellen liest en gros wiederholt die Tags auf dem Tag-Blatt unter Verwendung der Antikollisionsfunktion, während ein Abschirmbereich Schritt für Schritt geändert wird, wodurch andere mögliche defekte, aber Wärme emittierende Tags eingegrenzt werden.

Obgleich wenige bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung dargestellt und beschrieben wurden, erkennt der Fachmann, dass Änderungen in diesen Ausführungsformen vorgenommen werden können, ohne von den Grundlagen oder dem Geist der Erfindung abzuweichen, deren Umfang in den Ansprüchen und den Äquivalenten definiert ist.


Anspruch[de]
Tag-Testvorrichtung, die mehrere berührungslose IC-Tags Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen aussetzt und unter den berührungslosen IC-Tags defekte IC-Tags detektiert, welche Test-Vorrichtung umfasst:

eine sendende Einheit, die Funkwellen oder elektromagnetische Wellen en gros an die berührungslosen IC-Tags sendet; und

eine detektierende Einheit, die defekte IC-Tags basierend darauf detektiert, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn die sendende Einheit Funkwellen oder elektromagnetische Wellen an die berührungslosen IC-Tags sendet.
Tag-Testvorrichtung nach Anspruch 1, ferner mit:

einer Aufzeichnungseinheit, die ein Bild eines Standardmusters aufzeichnet, das ein Wärmeemissionsmuster ohne Defekte der berührungslosen IC-Tags repräsentiert; und

einer Abbildungseinheit, die ein Bild eines Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags aufnimmt, die Funkwellen oder elektromagnetische Wellen empfangen, die von der sendenden Einheit gesendet werden, wobei

die detektierende Einheit das in der Aufzeichnungseinheit aufgezeichnete Bild eines Standardmusters und das Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, das von der Abbildungseinheit aufgenommen wurde, vergleicht, um die defekten IC-Tags zu detektieren.
Tag-Testvorrichtung nach Anspruch 2, ferner mit:

einer Empfangseinheit, die Antworten der berührungslosen IC-Tags auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen empfängt, die von der sendenden Einheit gesendet wurden;

einer Tag-Antworten zählenden Einheit, die eine Anzahl der defekten IC-Tags basierend auf den von der Empfangseinheit empfangenen Antworten zählt; und

einer Bildverarbeitungseinheit, die eine Anzahl der defekten IC-Tags zählt, indem das Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags analysiert wird, das von der Abbildungseinheit aufgenommen wurde, wobei

die detektierende Einheit ein Fehlen anderer defekter IC-Tags als die defekten IC-Tags bestimmt, die basierend auf dem Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags detektiert werden, wenn eine von der Tag-Antworten zählenden Einheit gezählte Anzahl mit der von der Bildverarbeitungseinheit gezählten Anzahl übereinstimmt.
Tag-Testvorrichtung nach Anspruch 3, ferner mit:

einer Abschirmeinheit, die eine Anzahl der berührungslosen IC-Tags, die getestet werden sollen, ändert, indem eine Testfläche, die die berührungslosen IC-Tags enthält, unter Verwendung eines beweglichen Abschirmmechanismus teilweise abgeschirmt wird, wobei

die detektierende Einheit die Abschirmeinheit anweist, die Anzahl berührungsloser IC-Tags, die getestet werden sollen, zu ändern, wenn die von der Tag-Antworten zählenden Einheit gezählte Anzahl nicht mit der Anzahl übereinstimmt, die von der Bildverarbeitungseinheit gezählt wird, und aus der Testfläche eine Fläche mit nicht defekten IC-Tags Schritt für Schritt ausschließt, wobei die durch die Tag-Antworten zählende Einheit gezählte Anzahl mit der Anzahl übereinstimmt, die von der Bildverarbeitungseinheit gezählt wurde, um defekte IC-Tags zu detektieren, die Wärme emittieren, nicht aber auf Funkwellen oder elektromagnetische Wellen antworten.
Tag-Testvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, ferner mit einer Druckeinheit, die ein Etikett auf den von der detektierenden Einheit detektierten defekten IC-Tag druckt, um den defekten IC-Tag als defekt zu markieren. Tag-Testvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, ferner mit einer Kühleinheit, die eine Testfläche kühlt, die die berührungslosen IC-Tags enthält, die getestet werden sollen. Tag-Testverfahren, um mehrere berührungslose IC-Tags Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen auszusetzen und unter den berührungslosen IC-Tags defekte IC-Tags zu detektieren, welches Verfahren die Schritte umfaßt:

en gros Senden von Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen an die berührungslosen IC-Tags; und

Detektieren der defekten IC-Tags basierend darauf, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn die Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen an die berührungslosen IC-Tags gesendet werden.
Tag-Testverfahren nach Anspruch 7, ferner mit den Schritten:

Aufzeichnen eines Standardmusters, das ein Wärmeemissionsmuster ohne Defekte der berührungslosen IC-Tags repräsentiert;

Aufnehmen eines Bildes eines Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags, die die gesendeten Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen empfangen, wobei

das Detektieren ein Vergleichen des aufgezeichneten Standardmusters und des aufgenommenen Bildes des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags beinhaltet, um die defekten IC-Tags zu detektieren.
Tag-Testverfahren nach Anspruch 8, ferner mit den Schritten:

Empfangen von Antworten der berührungslosen IC-Tags auf die gesendeten Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen;

Zählen einer Anzahl der defekten IC-Tags basierend auf den empfangenen Antworten; und

Zählen einer Zahl der defekten IC-Tags, indem das aufgenommene Bild des Wärmeemissionsmusters der berührungslosen IC-Tags analysiert wird, wobei

das Detektieren ein Bestimmen eines Fehlens anderer defekter IC-Tags als der defekten IC-Tags einschließt, die basierend auf dem Wärmeemissionsmuster der berührungslosen IC-Tags detektiert werden, wenn die Anzahl, die beim Zählen der Tag-Antwort gezählt wurde, mit der Anzahl übereinstimmt, die durch Analysieren des aufgenommenen Bildes gezählt wird.
Tag-Testprogramm, um mehrere berührungslose IC-Tags Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen auszusetzen und defekte IC-Tags unter den berührungslosen IC-Tags zu detektieren, wobei das Programm einen Computer veranlaßt, die Schritte auszuführen:

en gros Senden von Funkwellen oder elektromagnetischer Wellen an die berührungslosen IC-Tags; und

Detektieren der defekten IC-Tags basierend darauf, ob die berührungslosen IC-Tags Wärme emittieren, wenn die Funkwellen oder elektromagnetischen Wellen an die berührungslosen IC-Tags gesendet werden.
Verfahren, mit den Schritten:

Bestimmen eines Wärmeemissionsstatus mehrerer berührungsloser IC-Tags mit integrierter Schaltung (IC), wenn elektromagnetische Wellen oder Funkwellen en gros an die Tags gesendet werden;

Bestimmen eines Status eines en gros Senden und Empfangens von elektromagnetischen Wellen oder Funkwellen der Tags;

Detektieren defekter Tags, indem eine oder mehrere Positionen defekter Tags in einer Testfläche der mehreren Tags gemäß einer Kombination eines Wärmeemissionsstatus und des Status eines en gros Sendens und Empfangens von elektromagnetischen Wellen oder Funkwellen identifiziert werden.
Gerät, das das Verfahren nach Anspruch 11 ausführt. Gerät, mit:

einer Infrarotkamera, um ein Bild mehrerer berührungsloser IC-Tags mit integrierter Schaltung (IC) aufzunehmen; und

einem Controller, um die mehreren Tags gemäß einem Wärmeemissionsmuster für jeden Tag gleichzeitig zu testen, wenn elektromagnetische Wellen oder Funkwellen en gros an die Tags gesendet werden.
Gerät nach Anspruch 13, wobei der Controller den Wärmeemissionsstatus gemäß Thermographie bestimmt, indem das Bild der Infrarotkamera der Tags mit einem gespeicherten Bild eines Tag-Musters funktionierender Tags verglichen wird, um einen defekten Tag zu detektieren. Gerät nach Anspruch 14, wobei der Controller die Tags unter Verwendung einer Antikollisionsfunktion en gros liest, eine Anzahl von Tag-Antworten zählt und eine Anzahl von Wärme emittierenden Tags basierend auf dem Wärmeemissionsstatus der Tags mit einer Anzahl von Tag-Antworten vergleicht, um eine Position des nicht aktiven Tag mit einem korrekten Wärmeemissionsstatus als den defekten Tag zu detektieren. Gerät nach Anspruch 15, ferner mit:

einer Abschirmung,

wobei, falls die Anzahl Wärme emittierender Tags nicht mit der Anzahl antwortender Tags übereinstimmt, der Controller die Abschirmung steuert, um eine Tag-Testfläche, die elektromagnetischen Wellen oder Funkwellen ausgesetzt wird, Schritt für Schritt zu ändern und die Tags unter Verwendung der Antikollisionsfunktion wiederholt en gros zu lesen, um die Position des nicht aktiven Tag mit korrektem Wärmeemissionsstatus als den defekten Tag einzugrenzen.
Gerät nach Anspruch 13, wobei die Tags passive Tags zur Funkfrequenzidentifizierung (RFID) auf einem Tag-Blatt, gekapselte aktive RFID-Tags oder beliebige Kombinationen davon sind. Gerät nach Anspruch 13, wobei der Wärmeemissionsstatus einen Status umfasst, der darauf basiert, ob ein Tag dabei scheitert, Wärme zu emittieren, übermäßige Wärme emittiert, unzureichende Wärme emittiert, oder beliebigen Kombinationen davon. Gerät nach Anspruch 18, wobei der Controller den Wärmeemissionsstatus gemäß Thermographie, einer Temperaturerfassung, Luminanz oder beliebiger Kombinationen davon bestimmt. Gerät nach Anspruch 16, wobei die Abschirmung eine bewegliche Abschirmung ist, die in einer willkürlichen Richtung auf einer Oberfläche parallel zur Tag-Testfläche gemäß Anweisungen vom Controller bewegbar ist. Gerät nach Anspruch 14, ferner mit:

einem computerlesbaren Medium, das mehrere Bilder von Tag-Mustern funktionierender Tags verschiedener Typen speichert,

wobei der Controller mehrere Tags verschiedener Typen gemäß Thermographie basierend auf den Bildern von Tag-Mustern funktionierender Tags verschiedener Typen testet, um einen defekten Tag zu detektieren.
Verfahren, mit dem Schritt:

Bestimmen eines Wärmeemissionsstatus mit Thermographie mehrerer berührungsloser IC-Tags mit integrierter Schaltung (IC), um unter den mehreren Tags einen defekten Tag zu detektieren, wenn elektromagnetische Wellen oder Funkwellen an die Tags gesendet werden.
Gerät, mit:

Mittel zum Detektieren eines defekten berührungslosen Tag mit integrierter Schaltung (IC) unter mehreren Tags basierend auf einem Wärmeemissionsstatus der Tags, wenn elektromagnetische Wellen oder Funkwellen an die Tags gesendet werden.
Gerät nach Anspruch 23, ferner mit:

Mittel zum Detektieren einer Position eines nicht aktiven Tag mit einem korrekten Wärmeemissionsstatus als den defekten Tag.






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