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Dokumentenidentifikation DE112005002106A5 12.07.2007
Titel Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Form einer Oberflächentopologie eines Messobjektes
Anmelder SENTECH Instruments GmbH, 12489 Berlin, DE
Erfinder Wielsch, Uwe, 10317 Berlin, DE;
Krüger, Albrecht, 12623 Berlin, DE;
Witek, Helmut, 82152 Krailling, DE;
Dittmar, Georg, 12587 Berlin, DE;
Richter, Uwe, 15537 Wernsdorf, DE;
Sandner, Thilo, ., ZZ;
Gao, Sai, 01099 Dresden, DE;
Schreiber, Jürgen, 01189 Dresden, DE
Vertreter Maikowski & Ninnemann, Pat.-Anw., 10707 Berlin
DE-Aktenzeichen 112005002106
Vertragsstaaten AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW, EP, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR, OA, BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG, AP, BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW, EA, AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM
Sprache des Dokument DE
WO-Anmeldetag 25.08.2005
PCT-Aktenzeichen PCT/DE2005/001509
WO-Veröffentlichungsnummer 2006021205
WO-Veröffentlichungsdatum 02.03.2006
Veröffentlichungstag im Patentblatt 12.07.2007
IPC-Hauptklasse G01B 11/30(2006.01)A, F, I, 20050825, B, H, DE
IPC-Nebenklasse G01B 11/24(2006.01)A, L, I, 20050825, B, H, DE   








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