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Dokumentenidentifikation DE202007001076U1 09.08.2007
Titel Vorrichtung zur Bestimmung der Verschiebung der Peakwellenlängen an Luminiszenzdioden
Anmelder Baars, Georg, 06507 Stecklenberg, DE
DE-Aktenzeichen 202007001076
Date of advertisement in the Patentblatt (Patent Gazette) 09.08.2007
Registration date 05.07.2007
Application date from patent application 18.01.2007
IPC-Hauptklasse G01J 3/28(2006.01)A, F, I, 20070118, B, H, DE
IPC-Nebenklasse G01R 33/26(2006.01)A, L, I, 20070118, B, H, DE   

Beschreibung[de]

Bei LEDs ändert sich bei Temperaturänderungen auch die Peakwellenlänge, was zu Farbänderungen führt. Diese Farbänderungen können über eine Temperaturmessung abgeschätzt werden und gegebenenfalls entsprechende Maßnahmen zur Minderung des Fehlers ergriffen werden.

Bei schnellen Lastwechseln kann ein Temperatursensor nur langsam folgen, was zu zeitweiligen Farbfehlern führen kann.

Bei LED Leuchten werden oft eine große Anzahl von LEDs eingesetzt, was eine entsprechend große Anzahl von Sensoren und Auswerteeinrichtungen führt, falls eine Stabilisierung gewünscht wird.

Die Erfindung dient zur Stabilisierung der Eigenschaften von Halbleiterbauelementen.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde schnell und mit geringem Aufwand die durch Temperatureinflüsse zu erwartende Abweichung von Parametern wie der Peakwellenlänge an LEDs zu bestimmen.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, dass zur Bestimmung der Verschiebung der Peakwellenlänge an Lumineszenzdioden ein erstes Messelement die Spannung über der Halbleiterschicht misst, ein zweites Element den Strom durch die Halbleiterschicht misst und eine Auswertevorrichtung anhand eines bekannten Zusammenhanges die Abweichung bestimmt.

Anstelle des Strom messenden Elementes kann ein Bauteil in den Stromkreis eingeführt werden, welches den Strom auf einen bekannten Wert konstant hält.

Im Ausführungsbeispiel wird die Erfindung näher erläutert.

Durch das zu messende Bauteil, die Lumineszenzdiode mit Sperrschicht 1, fließt betriebsmäßig ein Strom, der mit dem Strommesser 3 gemessen wird. Gleichzeitig wird die Spannung durch den Spannungsmesser 2 gemessen. Bei schnellwechselnden Strömen am Bauteil sind entsprechend schnelle Messgeräte einzusetzen.

Die Auswerteeinheit 4 registriert die gleichzeitigen Messwerte und vergleicht sie mit einer hinterlegten Kurvenschar um dadurch die Temperatur zu ermitteln.

In der praktischen Ausführung wird der Strommesser 1 durch eine Konstantstromquelle ersetzt. Der Spannungsmesser ist der ADC Eingang eines Mikrorechners, der auch die Auswertung übernimmt. Die Spannung der LED wurde einmal im kalten Zustand zusammen mit der Peakwellenlänge gemessen und ein zweites Mal mit der Peakwellenlänge im heißen Zustand bei bekannten Temperaturen. Die Messwerte wurden im Mikrokontroller gespeichert. Die Auswertevorrichtung ermittelt nun anhand der Spannung der LED die momentane Abweichung der Peakwellenlänge. Weiterhin wird die Temperatur der Sperrschicht ermittelt und bei zu hoher Temperatur eine Reduzierung der Leistung vorgenommen.

Der Zusammenhang zwischen Abweichung der Peakwellenlänge, Strom und Spannung kann in einem vorherigen Messverfahren für jedes Bauteil separat ermittelt werden.

Der Zusammenhang Strom, Spannung und Abweichung der Peakwellenlänge kann durch einen ersten Messschritt bei geringer Leistung und niedriger Temperatur und in einem zweiten Messschritt bei hoher Leistung und hoher Temperatur ermittelt werden.

Ebenso kann der Zusammenhang Strom, Spannung und Abweichung durch nur einen Messschritt ermittelt werden, wenn der weitere Verlauf bekannt ist.

Anstelle der LED kann die Sperrschicht eines anderen elektronischen Bauteiles vermessen werden.

Durch die Messung ist auch die Temperatur der Sperrschicht feststellbar.

1
LED mit Sperrschicht
2
Spannungsmesser
3
Strommesser
4
Auswerteeinheit


Anspruch[de]
Vorrichtung zur Bestimmung der Verschiebung der Peakwellenlänge an Lumineszenzdioden, dadurch gekennzeichnet, dass ein erstes Messelement die Spannung über der Halbleiterschicht misst, ein zweites Element den Strom durch die Halbleiterschicht misst und eine Auswertevorrichtung anhand eines bekannten Zusammenhanges die Abweichung bestimmt. Vorrichtung gemäß Punkt 1, dadurch gekennzeichnet, dass anstelle des Strom messenden Elementes, ein Bauteil in den Stromkreis eingeführt ist, welches den Strom auf einen bekannten Wert konstant hält.






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