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Dokumentenidentifikation DE102006023115A1 22.11.2007
Titel Backlightsystem mit IR-Absorptionseigenschaften
Anmelder SCHOTT AG, 55122 Mainz, DE
Erfinder Fechner, Jörg Hinrich, Dr., 55118 Mainz, DE;
Hueber, Brigitte, Dr., 92421 Schwandorf, DE;
Ott, Franz, Dr., 95692 Konnersreuth, DE;
Hack, Hrabanus, Dr., 55126 Mainz, DE
Vertreter Sawodny, M., Dipl.-Phys. Dr.rer.nat., Pat.-Anw., 89073 Ulm
DE-Anmeldedatum 16.05.2006
DE-Aktenzeichen 102006023115
Offenlegungstag 22.11.2007
Veröffentlichungstag im Patentblatt 22.11.2007
IPC-Hauptklasse C03C 4/08(2006.01)A, F, I, 20060516, B, H, DE
IPC-Nebenklasse C03C 3/076(2006.01)A, L, I, 20060516, B, H, DE   C03C 17/245(2006.01)A, L, I, 20060516, B, H, DE   C03C 17/34(2006.01)A, L, I, 20060516, B, H, DE   G09F 9/00(2006.01)A, L, I, 20060516, B, H, DE   H01K 1/32(2006.01)A, L, I, 20060516, B, H, DE   
Zusammenfassung Die Erfindung betrifft ein Backlightsystem zur Hintergrundbeleuchtung von Displays oder Bildschirmen, umfassend mindestens ein Leuchtmittel, das ein Hüllenglas aufweist,
- wobei die Glaszusammensetzung des Hüllenglases mit einem oder mehreren Dotieroxiden, die IR-Strahlung absorbieren, dotiert ist
und/oder
-wobei das Hüllenglas eine Außenbeschichtung aufweist, die IR-Strahlung absorbiert,
und/oder
- wobei das Backlightsystem an anderen Bauelementen als am Hüllenglas eine Beschichtung aufweist, die IR-Strahlung absorbiert.

Beschreibung[de]

Die Erfindung betrifft ein Backlightsystem mit IR-Absorptionseigenschaften.

Ein übliches System zur Hintergrundbeleuchtung von Displays, insbesondere von Flachdisplays, Bildschirmen oder dergleichen, besteht, vereinfacht dargestellt, aus einer oder mehreren lichtemittierenden Einheiten, wie einer oder mehreren Leuchten bzw. Lampen, sowie einer Einheit, die das Licht gleichmäßig auf dem Display oder Schirm verteilt, einer sog. Lichtverteilereinheit. Diese Lichtverteilereinheit kann beispielsweise in Form einer Diffusoreinheit oder einer Lichtleiteinheit, d. h. einer Licht transportierenden bzw. lichtleitenden Platte, einer sog. light guiding plate (LGP), vorliegen.

Beispielsweise finden Gasentladungslampen, insbesondere miniaturisierte Gasentladungslampen, wie beispielsweise CCFL, EEFL, oder auch Flächenleuchten wie FFL, Anwendung in sog. Backlightsystemen zur Hintergrundbeleuchtung von zum Beispiel Flachbildschirmen. Gasentladungslampen enthalten zu Lichterzeugung Edelgase, wie z.B. Neon und Argon (außerdem häufig auch Quecksilber). Unter anderem emittieren die Lampen auch Strahlung im infraroten Wellenlängenbereich, z.B. im Bereich zwischen 910-920 nm, verursacht durch Neon-/Argon-Entladungen, insbesondere bei der Zündung der Lampe.

Geräte der Unterhaltungselektronik sind heutzutage fast immer über eine IR-Fernbedienung bedienbar. Diese Fernbedienungen arbeiten oft mit Wellenlängen im Bereich zwischen 850-950 nm. Durch Emission der Gasentladungslampen innerhalb dieses Wellenlängenbereichs kann es zu Störungen der Geräte kommen.

Ziel dieser Erfindung ist es nun, diese IR-Störstrahlung des Backlightsystems zu unterbinden.

Im Stand der Technik sind IR-Beschichtungen bereits beschrieben, die jedoch nur reflektierende Eigenschaften haben:

So betrifft die DE 102 13 036 A1 eine Kunststofffolie mit einem darauf aufgebrachten Interferenz-Mehrschichtsystem, umfassend mindestens zwei Schichten, die jeweils erhältlich sind durch Verfestigung und/oder Wärmebehandlung einer Beschichtungszusammensetzung, die nanoskalige anorganische Feststoffteilchen mit polymerisierbaren und/oder polykondensierbaren organischen Oberflächengruppen enthält, unter Bildung einer über die polymerisierbaren und/oder polykondensierbaren organischen Oberflächengruppen vernetzte Schicht. Die Folien können als optische Laminierfolien eingesetzt werden. Unter "nanoskaligen anorganischen Feststoffteilchen" werden hierbei mittlere Teilchendurchmesser von nicht mehr als 200 nm, z. B. 5 bis 10 nm, verstanden und diese können aus beliebigen Materialien bestehen, vorzugsweise aus Metallen und insbesondere aus Metallverbindungen, wie (gegebenenfalls hydratisierte) Oxide, Sulfide, Selenide und Telluride von Metallen und Mischungen derselben. Besonders bevorzugt sind nanoskalige Teilchen von SiO2, TiO2, ZrO2, ZnO, Ta2O5, SnO2 und Al2O3 in allen Modifikationen sowie Mischungen derselben, die mit polymerisierbaren und/oder polykondensierbaren organischen Oberflächengruppen versehenen sind.

Aus der US 5 344 718 werden ferner verschiedene Schichtsysteme auf einem Glassubstrat beschrieben, welche akzeptable niedere Werte der Emissionskraft („low-E") erreichen und hohe IR-Reflexionsstärke aufweisen. Diese Schichtsysteme verwenden zahlreiche Schichten aus Si3N4 und Nickel oder Nickelchrom, zwischen welche sandwichartig eine oder mehrere Schichten aus IR-reflektierendem, metallischem Silber in ausgewählter Reihenfolge angeordnet sind.

Demnach liegt der vorliegenden Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Backlightsystem zur Hintergrundbeleuchtung von Bildschirmen bzw. Displays zur Verfügung zu stellen, das die Nachteile des Standes der Technik vermeidet und keine Probleme und Störungen der Geräte durch Emission der Leuchtmittel, insbesondere Gasentladungslampen, verursacht.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, dass ein Backlightsystem zur Hintergrundbeleuchtung von Displays oder Bildschirmen bereitgestellt wird, umfassend mindestens ein Leuchtmittel, das ein Hüllenglas aufweist,

  • – wobei die Glaszusammensetzung des Hüllglases mit einem oder mehreren Dotieroxiden, die IR-Strahlung absorbieren, dotiert ist und/oder
  • – wobei das Hüllenglas eine Außenbeschichtung aufweist, die IR-Strahlung absorbiert, und/oder
  • – wobei das Backlightsystem an anderen Bauelementen als am Hüllenglas eine Beschichtung aufweist, die IR-Strahlung absorbiert.

Es sind demnach 7 erfindungsgemäße Varianten möglich:

  • (1) ein Hüllenglas mit einer IR-Strahlung absorbierenden Dotierung;
  • (2) ein Hüllenglas mit einer IR-Strahlung absorbierenden Beschichtung;
  • (3) eine IR-Strahlung absorbierende Beschichtung auf einem anderen Bauelement des Backlightsystems als dem Hüllenglas;
  • (4) ein Hüllenglas mit einer IR-Strahlung absorbierenden Dotierung, wobei das Hüllenglas gleichzeitig eine IR-Strahlung absorbierende Außenbeschichtung aufweist;
  • (5) ein Hüllenglas mit einer IR-Strahlung absorbierenden Dotierung und zudem einer IR-Strahlung absorbierenden Beschichtung an mindestens einem Bauelement des Backlightsystems außer dem Hüllenglas;
  • (6) ein Hüllenglas mit einer IR-Strahlung absorbierenden Außenbeschichtung zusammen mit einer IR-Strahlung absorbierenden Beschichtung an mindestens einem Bauelement des Backlightsystems außer dem Hüllenglas;

    und
  • (7) ein Hüllenglas mit einer IR-Strahlung absorbierenden Beschichtung, das gleichzeitig eine IR-Strahlung absorbierende Außenbeschichtung aufweist und zudem eine IR-Strahlung absorbierende Beschichtung an mindestens einem Bauelement des Backlightsystems.

Gegenstand der Erfindung ist auch die Verwendung eines Hüllenglases, das mit einem oder mehreren Dotieroxiden, die IR-Strahlung absorbieren, dotiert ist,

und/oder

Verwendung eines Hüllenglases, das eine Außenbeschichtung aufweist, die IR-Strahlung absorbiert,

und/oder

Verwendung einer Beschichtung an anderen Bauelementen als am Hüllenglas eines Backlight-Systems, die IR-Strahlung absorbiert, zur Absorption von IR-Strahlung in einem Backlightsystem.

Auch in diesem Fall sind demnach 7 erfindungsgemäße Varianten möglich:

  • (1) Verwendung eines Hüllenglases mit einer IR-Strahlung absorbierenden Dotierung;
  • (2) Verwendung eines Hüllenglases mit einer IR-Strahlung absorbierenden Beschichtung;
  • (3) Verwendung einer IR-Strahlung absorbierende Beschichtung auf einem anderen Bauelement des Backlightsystems als dem Hüllenglas;
  • (4) Verwendung eines Hüllenglas mit einer IR-Strahlung absorbierenden Dotierung, wobei das Hüllenglas gleichzeitig eine IR-Strahlung absorbierende Außenbeschichtung aufweist;
  • (5) Verwendung eines Hüllenglases mit einer IR-Strahlung absorbierenden Dotierung und zudem einer IR-Strahlung absorbierenden Beschichtung an mindestens einem Bauelement des Backlightsystems außer dem Hüllenglas;
  • (6) Verwendung eines Hüllenglases mit einer IR-Strahlung absorbierenden Außenbeschichtung zusammen mit einer IR-Strahlung absorbierenden Beschichtung an mindestens einem Bauelement des Backlightsystems außer dem Hüllenglas;

    und
  • (7) Verwendung eines Hüllenglases mit einer IR-Strahlung absorbierenden Beschichtung, das gleichzeitig eine IR-Strahlung absorbierende Außenbeschichtung aufweist und zudem eine IR-Strahlung absorbierende Beschichtung an mindestens einem Bauelement des Backlightsystems,
wobei jede der erfindungsgemäßen Varianten dazu dient, unerwünschte IR-Strahlung in einem Backlightsystem zu absorbieren.

Erfindungsgemäß können demnach mehrere Lösungswege zur Vermeidung von unerwünschten Störungen bei Bedienung von Backlightsystemen aufweisenden Geräte bereitgestellt werden:

Dies kann beispielsweise durch Dotierung des Hüllglases des Leuchtmittels, wie einer Gasentladungslampe mit einem oder mehreren Dotieroxiden, die IR-Strahlung absorbieren, erreicht werden. Hierbei handelt es sich z.B. um Ytterbiumoxid, Dysprosiumoxid, Samariumoxid, Eisen(II)oxid und Kupfer(II)oxid sowie Mischungen dieser. Ganz besonders bevorzugt ist die Dotierung mit Ytterbiumoxid.

Besonders bevorzugt beträgt die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-%. Ganz besonders bevorzugt enthält das Hüllenglas die folgenden Dotieroxide in den nachfolgenden Bereichen: Yb2O3 0-40 Gew.-%. Sm2O3 0-40 Gew.-%. Dy2O3 0-40 Gew.-%. FeO 0-10 Gew.-%. CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt.

Zu beachten ist, dass FeO [Fe(2+)] nur dann zur IR-Blockung verwendet werden sollte, sofern das Glas frei von TiO2 ist, d.h. keine UV-Blockung mit TiO2 besitzt. Ansonsten besteht die Gefahr einer Verfärbung des Glases. Bei Dotierung mit Fe(2+) besteht generell die Tendenz, dass es zu einer Grünfärbung des Glases kommen kann, so dass bevorzugt möglichst geringe Mengen zum Einsatz kommen.

Nach einer weiteren erfindungsgemäßen Ausführungsform kann zusätzlich oder alternativ eine Außenbeschichtung des Glases des Leuchtmittels, wie einer Gasentladungslampe, vorgesehen sein.

Nach noch einer weiteren Ausführungsform können zusätzlich oder alternativ auch andere Bauelemente des Backlightsystems, wie zum Beispiel die Lichtverteilereinheit (Light guide plate, LGP), insbesondere der Diffusorplatte, der Trägerplatte oder -scheibe, der Abdeck- oder Schutzscheibe, (Teil-)Flächen oder Bereichen des Backlightsystems oder Bauteilen hiervon, mit einer IR-absorbierenden Schicht versehen werden. Die IR-absorbierende Schicht kann auch für IR-Strahlung reflektierend sein. Besonders bevorzugt ist die IR-absorbierende Schicht beispielsweise aus mehreren Schichten SiO2 und TiO2 aufgebaut. Dies können zum Beispiel 10, 20 oder mehr verschiedende Schichten sein. Anstelle von TiO2 ist auch Ta2O5 geeignet. Die Beschichtung besteht in diesem Fall bevorzugt aus einem Vielschicht-Interferenzsystem aus hoch- und tiefbrechenden Schichten, vorzugsweise aus tiefbrechenden SiO2- und hochbrechenden TiO2- oder Ta2O5-Schichten. Geeignet wären auch Interferenzschichtsysteme, die anstelle von TiO2-Schichten Ta2O5-Schichte oder Nb2O5-Schichten oder Y2O3-Schichten oder ZrO2-Schichten umfassen.

Neben der Außen- oder Innenbeschichtung des Glases der Gasentladungslampe können auch andere Bauteile des Backlightsystems wie die Diffuserplatte oder die Light Guide Plate, die so genannte lichtleitende Platte bzw. lichttransportierenden Platte beschichtet werden.

Alternativ zu den o. g. Beschichtungen können auch leitfähige oxidische Schichten z. B. In2O3, SnO2, ZnO oder leitfähige oxidische Schichten z. B. aus In2O3, SnO2, ZnO, die mit geeigneten Elementen wie Sn, F dotiert sein können, um die Leitfähigkeit bzw. die Reflexion zu erhöhen, verwendet werden.

Weitere mögliche Beschichtungen sind dünne metallische Schichten beispielsweise aus Silber oder einem geeigneten silberbasierten Schichtsystem.

Diese erfindungsgemäßen Schichten bzw. Beschichtungen können nach unterschiedlichen Verfahren aufgebracht werden. Beispielsweise ist ein Tauchverfahren, wie in der EP 0 305 135 beschrieben, möglich oder das in der EP 0 369 253 beschriebene CVD-Verfahren. Auch kann ein PVD-Verfahren gemäss der EP 0 409 451 eingesetzt werden. Besonderes vorteilhaft ist jedoch die Verwendung des sog. PICVD-Verfahrens (Plasma-Impuls-CVD-Verfahren) gemäß der DE 198 52 454 A1, wonach die Beschichtung in einem Mikrowellenreaktor mittels eines Mikrowellenplasma-CVD-Verfahrens durchgeführt wird. Der Offenbarungsgehalt dieser Druckschrift wird hier durch Bezugnahme vollumfänglich in die vorliegende Offenbarung einbezogen.

Wie beschrieben, können können die beschriebenen Alternativen erfindungsgemäß auch kombiniert werden.

Als das erfindungsgemäß eingesetzte Leuchtmittel in Form eines so genannten Backlights kann jedes dem Fachmann für diesen Zweck bekannte Leuchtmittel eingesetzt werden, wie zum Beispiel eine Entladungslampe, wie eine Niederdruckentladungslampe, insbesondere eine Fluoreszenzlampe, ganz besonders bevorzugt eine miniaturisierte Fluoreszenzlampe.

Eine derartige Backlight-Lampe kann vorzugsweise aus einem gezogenen Rohrglas hergestellt werden. Das Leuchtmittel kann sich aufgliedern in einen Mittelteil, der bevorzugt weitgehend transparent ist, und in Form eines Hohlkörpers mit Innen- und Außenseite als Hüllenglas vorliegt, sowie zwei Enden, die mit entsprechenden Anschlüssen, durch Einbringen von Metall oder Metalllegierungsdrähten, versehen sein können. Es besteht die Möglichkeit, das Metall bzw. die Metalldrähte in einem Temperschritt mit dem Hüllenglas des Glaskörpers zu verschmelzen. Das Metall bzw. die Metalllegierungsdrähte sind Elektrodendurchführungen und/oder Elektroden.

Bevorzugt sind diese Durchführungen Wolfram- oder Molybdän-Metalle oder Kovar-Legierungen. Die thermische Längenausdehnung (CTE) der vorgenannten Glaszusammensetzung des Hüllenglases stimmt bevorzugt weitgehend mit der Längenausdehnung (CTE) der vorgenannten Durchführungen überein, so dass im Bereich der Durchführungen keine Spannungen bzw. nur definiert und gezielt eingesetzte Spannungen auftreten.

Neben der lichtemittierenden Einheit liegt im erfindungsgemäßen System in der Regel eine Lichtverteilereinheit vor. Diese ist im Rahmen der Erfindung nicht besonders beschränkt. Beispielsweise kann ein Diffusor bzw. eine Diffusorplatte oder -scheibe oder eine lichtleitende oder transportierende Platte oder Scheibe, wie eine LGP („light guide plate"), Verwendung finden.

Der Aufbau der Backlightanordnung, insbesondere der Aufbau und die Anordnung von Leuchtmittel und Lichtverteilereinheit sind erfindungsgemäß nicht besonders beschränkt. Nachfolgend werden einige erfindungsgemäße Varianten beschrieben, auf welche die erfindungsgemäße Lehre jedoch nicht beschränkt werden soll:

Das erfindungsgemäße Backlightsystem weist üblicherweise eine insbesondere reflektierende Grund- bzw. Trägerplatte sowie eine Deck- oder Substratplatte auf, in deren unmittelbarer Umgebung ein oder mehrere Leuchtmittel angeordnet sind. Insbesondere kommen erfindungsgemäß bevorzugt miniaturisierte Backlightlampenanordnungen zum Einsatz.

Bevorzugt werden daher ein oder mehrere einzelne, insbesondere miniaturisierte Leuchtmittel verwendet. Es können mehrere, insbesondere mindestens zwei Leuchtmittel vorzugsweise parallel zueinander angeordnet sein und sich beispielsweise zwischen einer Trägerplatte und Deckplatte befinden. Die Leuchtmittel können beispielsweise in ein oder mehreren Vertiefungen der Trägerplatte vorgesehen sein, wobei jeweils eine Vertiefung ein Leuchtmittel enthält. Als Substrat- oder Deckplatte bzw. -scheibe können beliebige für diesen Zweck übliche Platten oder Scheiben zum Einsatz kommen, die je nach Systemaufbau und Anwendungszweck als Lichtverteilereinheit oder lediglich als Abdeckung fungiert. Die Substrat- oder Deckplatte oder -scheibe kann demnach beispielsweise eine trübe Diffusorscheibe oder eine klare transparente Scheibe sein.

Erfindungsgemäß kann das Hüllenglas des Leuchtmittels mit einem oder mehreren Dotieroxiden dotiert sein, um die unerwünschte IR-Strahlung zu absorbieren. Alternativ kann auch eine IR-absorbierende Beschichtung zum Beispiel auf der Träger- oder Abdeckplatte oder als Außenbeschichtung auf dem Hüllenglas vorgesehen werden. Selbstverständlich können die erfindungsgemäßen Varianten auch kombiniert werden.

Diese Anordnung wird bevorzugt für größere Displays verwendet, wie zum Beispiel bei Fernsehgeräten verwendet.

Wahlweise können die Leuchtmittel, wie beispielsweise Leuchtstoffröhren, externe oder interne Elektroden besitzen, dies hängt von der gewählten Anordnung ab.

Nach einer weiteren erfindungsgemäßen Ausführungsform kann das Leuchtmittel entsprechend dem erfindungsgemäßen Backlightsystem zum Beispiel auch außerhalb der Lichtverteilereinheit angeordnet sein. So können das oder die Leuchtmittel beispielsweise außen an einem Display oder Schirm angebracht werden, wobei dann das Licht zweckmäßigerweise mittels einer als Lichtleiter dienenden lichttransportierenden Platte, einer sog. LGP (light guide plate), gleichmäßig über das Display oder den Schirm ausgekoppelt wird. Solche lichttransportierende Platten weisen beispielsweise eine rauhe Oberfläche auf, über die Licht ausgekoppelt wird. Als Hüllenglas des Leuchtmittels kann ein entsprechend IR-Strahlung absorbierendes Glas und/oder es kann eine IR-absorbierende Außenbeschichtung für das Hüllenglas und/oder eine IR-absorbierende Beschichtung auf ein oder mehrere Bauelemente des Backlightsystems, wie die lichtleitende Platte aufgebracht werden.

Für das erfindungsgemäße Backlightsystem kann auch ein elektrodenloses Lampensystem, d.h. ein so genanntes EEFL-System (external electrode fluorescent lamp) zum Einsatz kommen.

In einer bevorzugten Ausgestaltung dieser erfindungsgemäßen Variante der Erfindung weist die lichterzeugende Einheit beispielsweise einen umschlossenen Raum auf, der oberhalb durch eine vorzugsweise strukturierte Scheibe, unterhalb durch eine Trägerscheibe sowie an den Seiten durch Wände begrenzt wird.

Beispielsweise befinden sich die Leuchtmittel, wie Fluoreszenzlampen, an den Seiten der Einheit. Dieser umschlossene Raum kann beispielsweise weiter in einzelne Strahlungsräume unterteilt sein, die einen Entladungsleuchtstoff enthalten können, der zum Beispiel in einer vorbestimmten Dicke auf eine Trägerscheibe aufgebracht ist. Als Deckplatte oder -scheibe kann wieder, je nach Systemaufbau, eine trübe Diffuserscheibe oder eine klare transparente Scheibe oder dergleichen verwendet werden. Zur Absorption der IR-Strahlung kann entweder das Hüllenglas der EEFL-Lampe mit Dotieroxiden in geeigneter Menge dotiert werden und/oder Bauelemente der Backlightanordnung und/oder das Hüllenglas selbst können mit einer IR-absorbierenden Beschichtung versehen werden.

Ein erfindungsgemäßes Backlightsystem nach dieser Variante ist beispielsweise eine elektrodenlose Gasentladungslampe, d. h. es gibt keine Durchführungen, sondern lediglich äußere bzw. außenliegende Elektroden.

Prinzipiell ist jedoch auch eine innenliegende Kontaktierung möglich. In diesem Fall kann eine Zündung des Plasmas über innenliegende Elektroden erfolgen. Diese Art der Zündung ist eine alternative Technologie. Solche Systeme werden als CCFL-Systeme (cold-cathode fluorescent lamp) bezeichnet. Die Elektrodendurchführungen können insbesondere Wolfram- und Molydän-Metall als Durchführungsmaterial umfassen oder auch Kovar Legierung. Die zuvor beschriebenen Anordnungen bilden ein großes, flaches Backlight aus und werden daher auch als Flachbacklight bezeichnet.

Das Hüllenglas des Leuchtmittels enthält eine Glaszusammensetzung oder besteht aus dieser, wobei als Gläser für die Verwendung in den erfindungsgemäß verwendeten Leuchtmitteln Borosilikatgläser besonders bevorzugt sind. Borosilikatgläser umfassen als erste Komponente SiO2 sowie B2O3 und als weitere Komponente Alkali- und/oder Erdalkalioxid, wie z.B. Li2O, Na2O, K2O, CaO, MgO, SrO und BaO.

Borosilikatgläser mit einem Gehalt von B2O3 zwischen 5 und 15 Gew.-% zeigen eine hohe chemische Beständigkeit. Des Weiteren können derartige Borosilkatgläser auch in der thermischen Längenausdehnung (sog. CTE) durch die Wahl des Zusammensetzungsbereiches an Metalle, beispielsweise Wolfram oder Metalllegierungen, wie KOVAR, angepasst werden. Hierdurch werden Spannungen im Bereich der Durchführung vermieden.

Borosilikatgläser mit einem Gehalt von B2O3 zwischen 15 und 25 Gew.-% zeigen eine gute Prozessierbarkeit sowie ebenfalls eine gute Anpassung der thermischen Längenausdehnung (CTE) an das Metall Wolfram und die Legierung KOVAR (Fe-Co-Ni-Legierung).

Borosilikatgläser mit einem B2O3-Gehalt im Bereich von 25-35 Gew.-% sind insbesondere bei Einsatz in elektrodenlosen Gasentladungslampen, d. h. Lampen, deren Elektroden außerhalb des Lampenkolbens angebracht werden, von Vorteil.

In einer ersten Ausführungsform der Erfindung enthält das Grundglas üblicherweise bevorzugt mindestens 50 Gew.-% bzw. mindestens 55 Gew.-% SiO2, wobei mindestens 60 Gew.-% und vorzugsweise mindestens 63 Gew.-% insbesondere bevorzugt sind. Eine ganz besonders bevorzugte Mindestmenge an SiO2 beträgt 65 Gew.-%. Es kann aber auch in Einzelfällen ein Mindestgehalt von 35 Gew.-% SiO2 möglich sein. Die Höchstmenge an SiO2 beträgt 85 Gew.-%, insbesondere 83 Gew.-%, wobei 79 Gew.-% und insbesondere maximal 75 Gew.-% SiO2 ganz besonders bevorzugt sind. B2O3 ist erfindungsgemäß in einer Menge von über 0 Gew.-%, bevorzugt mehr als 3 Gew.-%, vorzugsweise mehr als 5 Gew.-% und insbesondere mindestens 10 Gew.-% enthalten, wobei mindestens 15 Gew.-% besonders bevorzugt ist. Die Höchstmenge an B2O3 beträgt maximal 35 Gew.-%, vorzugsweise jedoch maximal 32 Gew.-%, wobei maximal 30 Gew.-% besonders bevorzugt sind.

Obwohl die Glaszusammensetzung des Hüllenglases in einzelnen Fällen auch frei von Al2O3 sein kann, so enthält es doch üblicherweise Al2O3 in einer Mindestmenge von 0,1, insbesondere 0,2 Gew.-%. Al2O3 ist in der Regel in einer Menge von 0-25 Gew.-%, bevorzugt 0-20 Gew.-%, noch bevorzugter 0-10 Gew.-%, enthalten, wobei eine Mindestmenge von 0,5 Gew.-% bzw. 1 Gew.-% und insbesondere 2 Gew.-% bevorzugt ist. Die Maximalmenge beträgt üblicherweise 25 Gew.-%, vorzugsweise 10 Gew.-%.

Die Summe der Alkalioxide beträgt bevorzugt < 5 Gew.-%, bevorzugt < 1 Gew.-%. Ganz besonders bevorzugt ist die Glaszusammensetzung frei von Alkali, bis auf unvermeidbare Verunreinigungen. Li2O wird bevorzugt in einer Menge von 0-5, insbesondere < 1,0 Gew.-%, Na2O wird bevorzugt in einer Menge von 0-3, insbesondere < 3,0 Gew.-%, und K2O wird bevorzugt in einer Menge von 0-9, insbesondere < 5,0 Gew.-%, eingesetzt, wobei eine Mindestmenge von jeweils ≤ 0,1 Gew.- %, bzw. ≤ 0,2 und insbesondere ≤ 0,5 Gew.-% bevorzugt ist.

Erdalkalioxide, wie Mg, Ca, Sr, sind erfindungsgemäß jeweils in einer Menge von 0-20 Gew.-% und insbesondere in einer Menge von 0-8 Gew.-% bzw. 0-5 Gew.-% enthalten. BaO kann bevorzugt in einer Menge vom 0 bis 80 Gew.-% vorliegen. Die Summe der Erdalkalioxide beträgt erfindungsgemäß 0-80 Gew.-%, insbesondere 0-60 Gew.-%, vorzugsweise 0-40 Gew.-%.

Um eine möglichst geringe Verlustleistung Ploss und damit einen hohen Wirkungsgrad des verwendeten Leuchtmittels, insbesondere im Fall von Gasentladungslampen mit außenliegenden Elektroden, zu erzielen hat es sich als besonders vorteilhaft herausgestellt, wenn der Quotient aus dem Verlustwinkel tan&dgr; und der Dielekrizitätszahl &egr;' möglichst niedrig gewählt wird. Dies resultiert aus der Gleichung:

wobei
&ohgr;:
Kreisfrequenz
tan&dgr;
Verlustwinkel
&egr;'
Dielektrizitätszahl
d:
Dicke des Kondensators (Hier Dicke des Glases)
A:
Elektrodenfläche
I:
Stromstärke

Für eine Verwendung für EEFL liegt dieser Quotient bevorzugt < 5 × 10–4 und < 4 × 10–4, besonders bevorzugt < 3 × 10–4 und < 2,5 × 10–4, ganz besonders bevorzugt < 2 × 10–4 und < 1 × 10–4.

Um den Quotienten aus tan &dgr; und &egr;' erfindungsgemäß möglichst klein einzustellen, enthält die Glaszusammensetzung besonders bevorzugt hoch polarisierbare Elemente in oxidischer Form, eingebaut in die Glasmatrix. Derartige hochpoiarisierbare Elemente in oxidischer Form können ausgewählt sein aus der Gruppe, bestehend aus den Oxiden von Ba, Cs, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Pb, Bi, La, Ce, Pr, Nd, Eu, Gd, Tb, Ho, Er, Tm, und/oder Lu.

Bevorzugt ist mindestens eines dieser Oxide in der Glaszusammensetzung enthalten. Es können auch Mischungen von zwei oder mehreren dieser Oxide vorliegen. Mindestens eines dieser Oxide ist daher bevorzugt in einer Menge von > 0 bis 80 Gew.-%, bevorzugt von 5 bis 75, besonders bevorzugt 10 bis 70 Gew.-%, insbesondere 15 bis 65 Gew.-% enthalten. Weiterhin bevorzugt sind 15 bis 60 Gew.-%. Noch bevorzugter sind 20 bis 45 Gew.-%, insbesondere 20 bis 40 Gew.-%. Besonders bevorzugt werden 15, insbesondere 18, bevorzugt 20 Gew.-% nicht unterschritten.

Insbesondere bevorzugt sind Cs2O, BaO, PbO, Bi2O3 sowie die Seltenen Erdenmetalloxide Lanthanoxid, Gadoliniumoxid, Ytterbiumoxid in der erfindungsgemäßen Glaszusammensetzung vorhanden.

Besonders bevorzugt sind mindestens 15 Gew.-%, noch bevorzugter 18 Gew.-%, insbesondere 20 Gew.-%, ganz besonders bevorzugt mehr als 25 Gew.-% von einem oder mehreren der hoch polarisierbaren Elemente in Oxidform in der Glaszusammensetzung enthalten.

Der Gehalt an CeO2 im Hüllenglas beträgt bevorzugt 0-10 Gew.-%, wobei Mengen von 0-5 und insbesondere 0-1 Gew.-% bzw. 0-0,5 Gew.-% bevorzugt sind. Der Gehalt an Nd2O3 beträgt bevorzugt 0-5 Gew.-%, wobei Mengen von 0-2, insbesondere 0-1 Gew.-% besonders bevorzugt sind. Besonders bevorzugt liegt Bi2O3 in einer Menge von 0-80 Gew.-% vor, bevorzugt von 5 bis 75, besonders bevorzugt 10 bis 70 Gew.-%, insbesondere 15 bis 65 Gew.-%. Weiterhin bevorzugt sind 15 bis 60 Gew.-%, 20 bis 55 oder 20 bis 50 Gew.-%. Noch bevorzugter sind 20 bis 45 Gew.-%, insbesondere 20 bis 40 Gew.-% oder 20 bis 35 Gew.-%.

Die Summe sämtlicher Erdalkalioxide beträgt erfindungsgemäß somit bevorzugt 0-80 Gew.-%, insbesondere 5-75, bevorzugt 10-70 Gew.-%, besonders bevorzugt 20-60 Gew.-%, ganz besonders bevorzugt 20-55 Gew.-%. Weiterhin bevorzugt sind 20-40 Gew.-%.

Das Glas kann frei von ZnO sein, enthält jedoch vorzugsweise eine Mindestmenge von 0,1 Gew.-% und einen Maximalgehalt von höchstens 30 Gew.-%, wobei Höchstgehalte von 20 Gew.-%, bevorzugt 10 Gew.-%, insbesondere 3 Gew.-% durchaus noch zweckmäßig sein können. ZrO2 ist in einer Menge von 0-5 Gew.-%, insbesondere 0-3 Gew.-%, enthalten, wobei sich ein Höchstgehalt von 3 Gew.-% in vielen Fällen als ausreichend erwiesen hat. Darüber hinaus können noch WO3 und MoO3 unabhängig voneinander jeweils in einer Menge von 0-5 Gew.-% bzw. 0-3 Gew-%, insbesondere von jedoch 0,1-3 Gew.-% enthalten sein.

Als besonders bevorzugt hat es sich erfindungsgemäß erwiesen, wenn die Summe Al2O3 + B2O3 + Cs2O + BaO + Bi2O3 + PbO im Bereich von 15 bis 80 Gew.-%, bevorzugt bei 15 bis 75 Gew.-%, insbesondere 20 bis 70 Gew.-% liegt. Da B2O3 üblicherweise mit einer Maximalmenge von 35 Gew.-% eingesetzt wird, verteilen sich die restlichen 45 Gew.-% auf eines oder mehrere der polarisierbaren Oxide BaO, Bi2O3 Cs2O und PbO.

Nach einer bevorzugten Ausführungsform wird der PbO-Gehalt vorteilhafterweise auf 0 bis 70 Gew.-%, bevorzugt 10-65 Gew.-%, bevorzugter 15-60 Gew.-% eingestellt. Besonders bevorzugt sind 20 bis 50 Gew.-% enthalten.

Die Gläser können zur Einstellung der „UV-Kante" (Absorption von UV-Strahlung) auch TiO2 enthalten, obwohl sie prinzipiell auch frei davon sein können. Der Höchstgehalt an TiO2 beträgt vorzugsweise 10 Gew.-%, insbesondere höchstens 8 Gew.-%, wobei höchstens 5 Gew.-% bevorzugt sind. Ein bevorzugter Mindestgehalt an TiO2 beträgt 1 Gew.-%. Vorzugsweise liegen mindestens 80 % bis 99 %, insbesondere 99,9 oder 99,99 % des enthaltenen TiO2 als Ti4+ vor. In einigen Fällen haben sich Ti4+-Gehalte von 99,999 % als sinnvoll erwiesen, wobei die Schmelze bevorzugt unter oxidativen Bedingungen erzeugt wird. Unter oxidativen Bedingungen sind daher insbesonders solche zu verstehen, bei denen Titan in der zuvor angegebenen Menge als Ti4+ vorliegt oder auf diese Stufe oxidiert wird. Diese oxidativen Bedingungen lassen sich in der Schmelze beispielsweise leicht durch Zugabe von Nitraten, insbesondere Alkalinitraten und/oder Erdalkalinitraten, erreichen. Auch durch Einblasen von Sauerstoff und/oder trockener Luft kann eine oxidative Schmelze erreicht werden. Außerdem ist es möglich, eine oxidative Schmelze mittels einer oxidierenden Brenner-Einstellung, z. B. beim Aufschmelzen des Gemenges, zu erzeugen.

Falls die TiO2-Gehalte der Glaszusammensetzung > 2 Gew.-% sind und ein Gemenge mit einem Gesamt-Fe2O3 Gehalt von > 5 ppm verwendet wird, wird bevorzugt mit As2O3 geläutert und mit Nitrat geschmolzen. Die Nitratzugabe erfolgt bevorzugt als Alkalinitrat mit Gehalten > 1 Gew.-%, um eine Färbung des Glases im sichtbaren Bereich (die Bildung des Ilmenit (FeTiO3)-Mischoxids) zu unterdrücken. Weiterhin ist auch eine Läuterung mit Sb2O3 und Nitrat möglich.

Obwohl dem Glas beim Aufschmelzen Nitrat, vorzugsweise in Form von Alkali- und/oder Erdalkalinitraten, zugesetzt wird, beträgt die Nitrat-Konzentration im fertigen Glas nach der Läuterung lediglich maximal 0,01 Gew.-% und in vielen Fällen höchsten 0,001 Gew.-%.

Der Gehalt an Fe2O3 beträgt bevorzugt 0-5 Gew.-%, wobei Mengen von 0-1 und insbesondere 0-0,5 Gew.-% bevorzugt sind. Der Gehalt an MnO2 beträgt bevorzugt 0-5 Gew.-%, wobei Mengen von 0-2, insbesondere 0-1 Gew.-% noch bevorzugter sind. Der Bestandteil MoO3 ist bevorzugter in einer Menge von 0-5 Gew.-%, vorzugsweise 0-4 Gew.-% enthalten.

Fe2O3 kann dem Glas in einer Menge bis 5 Gew.-% zugesetzt werden. Bevorzugt liegen die Gehalte jedoch deutlich darunter. Sofern Eisen enthalten ist, wird dieses durch die oxidierenden Bedingungen während der Schmelze beispielsweise durch Einsatz von nitrathaltigen Rohstoffen in seine Oxidationsstufe 3+ überführt, wodurch die Verfärbungen im sichtbaren Wellenlängenbereich minimiert werden. Fe2O3 ist im Glas bevorzugt in Gehalten < 500 ppm enthalten. Fe2O3 liegt im Allgemeinen als Verunreinigung vor.

Insbesondere läßt sich eine Verfärbung der Gläser insbesondere bei Zugabe von TiO2 in Gehalten von > 1 Gew.-% im sichtbaren Wellenlängenbereich zumindest teilweise dadurch vermeiden, dass die Glasschmelze im Wesentlichen frei von Chlorid ist und insbesondere kein Chlorid und/oder Sb2O3 zur Läuterung bei der Glasschmelze zugegeben wird. Es wurde gefunden, dass sich eine Blaufärbung des Glases, wie sie insbesondere bei der Verwendung von TiO2 auftritt, vermeiden lässt, wenn auf Chlorid als Läutermittel verzichtet wird. Der Maximalgehalt an Chlorid sowie Fluorid beträgt erfindungsgemäß 2, insbesondere 1 Gew.-%, wobei Gehalte von max. 0,1 Gew.-% bevorzugt sind.

Des weiteren hat sich gezeigt, dass auch Sulfate, wie sie z. B. als Läutermittel eingesetzt werden, ebenso wie die zuvor genannten Mittel zu einer Verfärbung des Glases im sichtbaren Wellenlängenbereich führen. Es wird daher vorzugsweise auch auf Sulfate verzichtet. Der Maximalgehalt an Sulfat beträgt erfindungsgemäß 2 Gew.-%, insbesondere 1 Gew.-%, wobei Gehalte von max. 0,1 Gew.-% bevorzugt sind. Als sichtbarer Wellenlängenbereich wird im vorliegenden Schutzrecht der Wellenlängenbereich zwischen 320 nm und 780 nm verstanden.

Außerdem wurde für die Gläser gefunden, dass sich die zuvor geschilderten Nachteile noch weiter vermeiden lassen, wenn eine Läuterung mit As2O3 und zwar unter oxidierenden Bedingungen durchgeführt wird. Bevorzugt enthält das Glas 0,01-1 Gew.-% As2O3.

Es hat sich gezeigt, dass, obwohl die Gläser sehr stabil gegen eine Solarisation bei UV-Bestrahlung sind, die Solarisationsstabilität durch geringe Gehalte von PdO, PtO3, PtO2, PtO, RhO2, Rh2O3, IrO2 und/oder Ir2O3 weiter erhöht werden kann. Der übliche Maximalgehalt an solchen Substanzen beträgt maximal 0,1 Gew.-%, vorzugsweise maximal 0,01 Gew.-%, wobei maximal 0,001 Gew.-% besonders bevorzugt ist. Das Minimalgehalt beträgt für diese Zwecke üblicherweise 0,01 ppm, wobei mindestens 0,05 ppm und insbesondere mindestens 0,1 ppm bevorzugt ist.

Die zweite Ausführungsform eines geeigneten Hüllenglases für ein Leuchtmittel im erfindungsgemäßen Backlightsystem weist einen Mindestgehalt an SiO2 von 60 Gew.-%, vorzugsweise mindestens 62 Gew.-% auf, wobei ein Mindestgehalt von 64 Gew.-% besonders bevorzugt ist. Der Maximalgehalt an SiO2 im erfindungsgemäßen Glas beträgt höchstens 85 Gew.-%, insbesondere 79 Gew.-%, wobei ein Gehalt von höchstens 75 Gew.-% bevorzugt ist. Ein besonders bevorzugter Höchstgehalt beträgt 72 Gew.-%. Gläser mit einem sehr hohen SiO2-Gehalt zeichnen sich durch einen geringen dielektrischen Verlustfaktor tan &dgr; aus und sind daher insbesondere für elektrodenlose Fluoreszenzlampen geeignet.

Der Gehalt an B2O3 beträgt höchstens 15 Gew.-%, insbesondere höchstens 10 Gew.-%, wobei ein Gehalt von höchstens 5 Gew.-% bevorzugt ist. Besonders bevorzugt ist ein Maximalgehalt an B2O3 von höchstens 3 Gew.-%, wobei ein Gehalt von höchstens 2 Gew.-% ganz besonders bevorzugt ist. In einzelnen Fällen kann das erfindungsgemäße Glas auch vollkommen frei von B2O3 sein. Es enthält jedoch in einer bevorzugten Ausführungsform mindestens 0,1 Gew.-%, wobei 0,5 Gew.-% bevorzugt ist. Besonders bevorzugt ist ein Mindestgehalt von 0,75 Gew.-%, wobei 0,9 Gew.-% ganz besonders bevorzugt ist.

Obwohl das Glas gemäß der zweiten Ausführungsform der Erfindung in einzelnen Fällen auch frei von Al2O3 sein kann, so enthält es doch üblicherweise Al2O3 in einer Mindestmenge von 0,1, insbesondere 0,2 Gew.-%. Bevorzugt ist ein Mindestgehalt von 0,3, wobei Mindestmengen von 0,7, insbesondere mindestens 1,0 Gew.-% besonders bevorzugt sind. Die Höchstmenge an Al2O3 beträgt üblicherweise 10 Gew.-%, wobei maximal 8 Gew.-% bevorzugt sind. In vielen Fällen hat sich eine Höchstmenge von 5 Gew.-%, insbesondere 4 Gew.-% als ausreichend erwiesen.

Die Gläser gemäß der zweiten Ausführungsform enthalten Alkali- und Erdalkalioxide. Dabei beträgt der Gesamtgehalt an Alkalioxiden mindestens 5 Gew.-%, insbesondere mindestens 6 Gew.-%, vorzugsweise jedoch mindestens 8 Gew.-%, wobei eine Mindestgesamtmenge an Alkalioxiden von mindestens 10 Gew.-% besonders bevorzugt ist. Der Maximalgehalt aller Alkalioxide beträgt höchstens 25 Gew.-%, wobei eine Höchstmenge von 22 Gew.-% und insbesondere 20 Gew.-% besonders bevorzugt ist. In vielen Fällen hat sich eine Höchstmenge von 18 Gew.-% als ausreichend erwiesen. Davon beträgt der Gehalt an Li2O erfindungsgemäß bevorzugt 0 Gew.-% bis höchstens 10 Gew.-%, wobei eine Höchstmenge von maximal 8 Gew.-% und insbesondere maximal 6 Gew.-% bevorzugt ist. K2O ist in einer Menge von mindestens 0 Gew.-% und höchstens 20 Gew.-% enthalten, wobei ein Mindestgehalt von 0,01 Gew.-%, vorzugsweise von 0,05 Gew.-% bevorzugt ist. In einzelnen Fällen hat sich ein Mindestgehalt von 1,0 Gew.-% als geeignet erwiesen. Der Höchstgehalt an K2O beträgt in einer bevorzugten Ausführungsform maximal 20 Gew.-%, wobei maximal 15 und insbesondere maximal 10 Gew.-% bevorzugt sind. In vielen Fällen hat sich ein Maximalgehalt von 5 Gew.-% als völlig ausreichend erwiesen.

Der Einzelgehalt an Na2O beträgt in Einzelfällen 0 Gew.-% und maximal 20 Gew.-%. Vorzugsweise beträgt der Gehalt an Na2O jedoch mindestens 3 Gew.-%, insbesondere mindestens 5 Gew.-%, wobei Gehalte von mindestens 8 Gew.-%, insbesondere mindestens 10 Gew.-%, bevorzugt sind. In besonders bevorzugten Ausführungsformen ist Natriumoxid erfindungsgemäß in einer Menge von mindestens 12 Gew.-% enthalten. Bevorzugte Höchstmengen an Na2O betragen 18 Gew.-% bzw. 16 Gew.-%, wobei eine Obergrenze von 15 Gew.-% besonders bevorzugt ist.

Der Gehalt der einzelnen Erdalkalioxide beträgt für CaO maximal 20 Gew.-%; in Einzelfällen sind jedoch Maximalgehalte von 18, insbesondere maximal 15 Gew.-% ausreichend. Obwohl das erfindungsgemäße Glas auch frei von Kalziumbestandteilen sein kann, so enthält das erfindungsgemäße Glas jedoch üblicherweise mindestens 1 Gew.-% CaO, wobei Gehalte von mindestens 2 Gew.-%, insbesondere mindestens 3 Gew.-% bevorzugt sind. In der Praxis hat sich ein Mindestgehalt von 4 Gew.-% als zweckmäßig erwiesen. Die Untergrenze für MgO beträgt in Einzelfällen 0 Gew.-%, wobei jedoch mindestens 1 Gew.-% und vorzugsweise mindestens 2 Gew.-% bevorzugt sind. Der Höchstgehalt an MgO im erfindungsgemäßen Glas beträgt 8 Gew.-%, wobei maximal 7 und insbesondere maximal 6 Gew.-% bevorzugt sind. SrO und/oder BaO können im erfindungsgemäßen Glas völlig entfallen; vorzugsweise ist jedoch mindestens eines oder auch beide Substanzen in einer Menge von jeweils 1 Gew.-%, vorzugsweise mindestens 2 Gew.-% enthalten. Der Gesamtgehalt aller im Glas erhaltenen Erdalkalioxide beträgt mindestens 3 Gew.-% und höchstens 30 Gew.-%, insbesondere 20 Gew.-%, wobei ein Mindestgehalt von 4 Gew.-%, insbesondere 5 Gew.-% bevorzugt ist. In vielen Fällen haben sich Mindestgehalte von 6 bzw. 7 Gew.-% als zweckmäßig erwiesen. Eine bevorzugte Höchstgrenze an Erdalkalioxiden beträgt 18 Gew.-%, wobei maximal 15 Gew.-% bevorzugt sind. In etlichen Fällen hat sich ein Maximalgehalt von 12 Gew.-% als ausreichend erwiesen.

Das Glas gemäß der zweiten Ausführungsform kann frei von ZnO sein, enthält jedoch vorzugsweise eine Mindestmenge von 0,1 Gew.-% und einen Maximalgehalt von höchstens 30 Gew.-%, insbesondere 8 Gew.-%, vorzugsweise höchstens 5 Gew.-%, wobei Höchstgehalte von 3 Gew.-% bzw. 2 Gew.-% durchaus noch zweckmäßig sein können. ZrO2 ist in einer Menge von 0-8 Gew.-%, insbesondere 0-5 Gew.-%, bevorzugt 0-5 Gew.-% enthalten, wobei ein Höchstgehalt von 3 Gew.-% sich in vielen Fällen als ausreichend erwiesen hat.

Der Höchstgehalt an TiO2 beträgt vorzugsweise 10 Gew.-%, wobei höchstens 5 Gew.-% bevorzugt sind. Ein bevorzugter Mindestgehalt an TiO2 beträgt 1 Gew.-%. Das Glas enthält bevorzugt 0-5 Gew.-% PbO, wobei ein max. Gehalt von 2 Gew.-%, insbesondere max. 1 Gew.-% zweckmäßig ist. Vorzugsweise ist das Glas bleifrei. Der Gehalt an Fe2O3 und/oder CeO2 beträgt jeweils für sich 0-5 Gew.-%, wobei Mengen von 0-1 und insbesondere 0-0,5 Gew.-% bevorzugt sind. Der Gehalt an MnO2 und/oder Nd2O3 beträgt 0-5 Gew.-%, wobei Mengen von 0-2, insbesondere 0-1 Gew.-% bevorzugt sind. Die Bestandteile Bi2O3 und/oder MoO3 sind jeweils für sich in einer Menge von 0-5 Gew.-%, vorzugsweise 0-4 Gew.-% enthalten und As2O3 und/oder Sb2O3 sind jeweils für sich im erfindungsgemäßen Glas in einer Menge von 0-1 Gew.-% enthalten, wobei die Untermenge der Mindestgehalte vorzugsweise 0,1, insbesondere 0,2 Gew.-% beträgt. Die Gesamtmenge an Fe2O3, CeO2, TiO2, PbO, As2O3 und Sb2O3 beträgt dabei bevorzugt 0,1-10 Gew.-%, besonders bevorzugt > 1-8 Gew.-%. Das erfindungsgemäße Glas enthält in einer bevorzugten Ausführungsform gegebenenfalls geringe Mengen an SO4 2– von 0-2 Gew.-%, sowie Cl und/oder F ebenfalls in einer Menge von jeweils 0-2 Gew.-%.

Bevorzugte Zusammensetzungen der erfindungsgemäßen Hüllengläser liegen demnach im nachfolgenden Bereich: SiO2 55-85 Gew.-% B2O3 0-35 Gew.-% Al2O3 0-20 Gew.-% Li2O 0-10 Gew.-% Na2O 0-20 Gew.-% K2O 0-20 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0-25 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-5 Gew.-% BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere BaO 0-5 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere 0-20 Gew.-% beträgt, und TiO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-3 Gew.-% WO3 0-3 Gew.-% Bi2O3 0-3 Gew.-% MoO3 0-3 Gew.-% Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt,

sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen, insbesondere Chloride, Sulfate, As2O3 und Sb2O3.

Bevorzugt weisen die Leuchtmittel der Erfindung Hüllengläser der folgenden Zusammensetzung auf: SiO2 55-79 Gew.-% B2O3 3-25 Gew.-% Al2O3 0-10 Gew.-% Li2O 0-10 Gew.-% Na2O 0-10 Gew.-% K2O 0-10 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0,5-16 Gew.-% beträgt, und MgO 0-2 Gew.-% CaO 0-3 Gew.-% SrO 0-3 Gew.-% BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere BaO 0-3 Gew.-%, ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere ZnO 0-3 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO + ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere 0-10 Gew.-% beträgt, und ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-1 Gew.-% Fe2O3 0-1 Gew.-% WO3 0-3 Gew.-% Bi2O3 0-3 Gew.-% MoO3 0-3 Gew.-%, TiO2 0-10 Gew.-% TiO2 bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt,

sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen, insbesondere Chloride, Sulfate, As2O3 und Sb2O3. SiO2 60-75 Gew.-% B2O3 > 25-35 Gew.-% Al2O3 0-10 Gew.-% Li2O 0-10 Gew.-% Na2O 0-20 Gew.-% K2O 0-20 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0-25 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-5 Gew.-% BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere BaO 0-5 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere 0-20 Gew.-%, beträgt und ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere 0-3 Gew.-%, und ZrO2 0-5 Gew.-% TiO2 0-10 Gew.-% Fe2O3 0-0,5 Gew.-% CeO2 0-0,5 Gew.-% MnO2 0-1 Gew.-% Nd2O3 0-1 Gew.-% WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-5 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% As2O3 0-1 Gew.-% Sb2O3 0-1 Gew.-% SO4 2– 0-2 Gew.-% Cl 0-2 Gew.-% F 0-2 Gew.-%, wobei die Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt und

die &Sgr; Fe2O3 + CeO2 + TiO2 + PbO + As2O3 + Sb2O3 0-10 Gew.-% beträgt, und

wobei

&Sgr; PdO + PtO3 + PtO2 + PtO + RhO2 + Rh2O3 + IrO2 + Ir2O3

0,00001-0,1 Gew.-% beträgt.

Auch für Leuchtmittel mit außenliegenden Elektroden, bei denen keine Einschmelzung des Glases mit Elektrodendurchführungen erfolgt, können die zuvor genannten Glaszusammensetzungen ebenfalls eingesetzt werden. Dies sind die sogenannten EEFLs (external electrode fluorescent lamp). Derartige EEFL-Leuchtvorrichtungen sind Leuchtvorrichtungen ohne Elektrodendurchführung. Da bei einem elektrodenlosen EEFL-Backlight die Einkoppelung mit Hilfe elektrischer Felder erfolgt, sind Glaszusammensetzungen besonders geeignet, die sich durch besonders gute elektrische Eigenschaften und einen geringen Quotienten aus dielektrischen Verlustwinkel tan &dgr; sowie Dielektrizitätszahl auszeichnen. Besonders geeignete Hüllengläser sind z. B. solche mit den nachfolgenden Zusammensetzungen, die der oben beschriebenen ersten Ausführungsform zuzurechnen sind:

Für eine EEFL-Entladungslampe besitzt das Glas daher bevorzugt folgende Zusammensetzung: SiO2 55-85 Gew.-% B2O3 > 0-35 Gew.-% Al2O3 0-25 Gew.-%, bevorzugt 0-20 Gew.-%, Li2O < 1,0 Gew.-% Na2O < 3,0 Gew.-% K2O < 5,0 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O < 5,0 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-20 Gew.-% BaO 0-80 Gew.-%, insbesondere BaO 0-60 Gew.-%, wobei die TiO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-10 Gew.-% Fe2O3 0-3 Gew.-%, bevorzugt 0-1 Gew.-%, WO3 0-3 Gew.-% Bi2O3 0-80 Gew.-% MoO3 0-3 Gew.-% ZnO 0-15 Gew.-%, bevorzugt 0-5 Gew.-%, PbO 0-70 Gew.-%, wobei
die &Sgr; Al2O3 + B2O3 + BaO + PbO + Bi2O3 15-80 Gew.-% ist,

wobei Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, La, Pr, Nd, Eu, Gd, Tb, Ho, Er, Tm, und/oder Lu in oxidischer Form in Gehalten von 0-80 Gew.-% vorliegen,

sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen und Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt.

Eine besonders bevorzugte Ausführungsform für die Verwendung als Hüllengläser in EEFL-Lampen ist auch: SiO2 55-85 Gew.-% B2O3 > 0-35 Gew.-% Al2O3 0-20 Gew.-% Li2O < 0,5 Gew.-% Na2O < 0,5 Gew.-% K2O < 0,5 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O < 1,0 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-20 Gew.-% BaO 15-60 Gew.-%, insbesondere BaO 20-35 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 15-70 Gew.-%, insbesondere 20-40 Gew.-% beträgt, und TiO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt 0-1 Gew.-%, Fe2O3 0-1 Gew.-% WO3 0-3 Gew.-% Bi2O3 0-80 Gew.-% MoO3 0-3 Gew.-% ZnO 0-10 Gew.-%, bevorzugt 0-5 Gew.-%, PbO 0-70 Gew.-%, wobei Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt,

die &Sgr; Al2O3 + B2O3 + BaO + Cs2O+ PbO + Bi2O3 15-80 Gew.-% beträgt, sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen.

Bevorzugt ist das Glas ebenfalls bis auf unvermeidbare Verunreinigungen frei von Alkalien.

Weitere bevorzugte Glaszusammensetzungen für die Verwendung in EEFL-Lampen umfassen: SiO2 35-65 Gew.-% B2O3 0-15 Gew.-% Al2O3 0-20 Gew.-%, bevorzugt 5-15 Gew.-%, Li2O 0-0,5 Gew.-% Na2O 0-0,5 Gew.-% K2O 0-0,5 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0-1 Gew.-% beträgt, und MgO 0-6 Gew.-% CaO 0-15 Gew.-% SrO 0-8 Gew.-% BaO 1-20 Gew.-%, insbesondere BaO 1-10 Gew.-%, TiO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-1 Gew.-% CeO2 0-0,5 Gew.-% Fe2O3 0-0,5 Gew.-%, WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-20 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% ZnO 0-5 Gew.-%, bevorzugt 0-3 Gew.-%, PbO 0-70 Gew.-%, wobei die &Sgr; Al2O3 + B2O3 + BaO + PbO + Bi2O3 8-65 Gew.-% beträgt, Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt.

Noch weitere Gläser, die – wie die vorgenannten Glaszusammensetzungen aufgrund der Gegenwart mindestens eines hochpolarisierbaren Oxids in einer relativ hohen Menge – ebenfalls einen Quotienten von tan&dgr;/&egr;' < 5 × 10–4 haben und insbesondere für die Verwendung in EEFL-Lampen vorteilhaft sind, weisen die nachfolgenden Zusammensetzungen auf: SiO2 50-65 Gew.-% B2O3 0-15 Gew.-% Al2O3 1-17 Gew.-%, Li2O 0-0,5 Gew.-% Na2O 0-0,5 Gew.-% K2O 0-0,5 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0-1 Gew.-% beträgt, und MgO 0-5 Gew.-% CaO 0-15 Gew.-% SrO 0-5 Gew.-% BaO 20-60 Gew.-%, insbesondere BaO 20-40 Gew.-%, TiO2 0-1 Gew.-%, ZrO2 0-1 Gew.-% CeO2 0-0,5 Gew.-% Fe2O3 0-0,5 Gew.-%, bevorzugt 0-1 Gew.-%, WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-40 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% ZnO 0-3 Gew.-%, PbO 0-30 Gew.-%, insbesondere PbO 10-20 Gew.-%, wobei Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt,

die &Sgr; Al2O3 + B2O3 + BaO + PbO + Bi2O3 10-80 Gew.-% beträgt,

wobei Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, La, Pr, Nd, Eu, Gd, Tb, Ho, Er, Tm, und/oder Lu in oxidischer Form in Gehalten von 0-80 Gew.-% vorliegen,

sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen.

Ferner sind unabhängig vom verwendeten Leuchtmittel auch die folgenden Glaszusammensetzungen bevorzugt: SiO2 63-72 Gew.-% B2O3 15-22 Gew.-% Al2O3 0-5 Gew.-% Li2O 0-5 Gew.-% Na2O 0-8 Gew.-% K2O 0-8 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0,5-10 Gew.-% beträgt, und MgO 0-3 Gew.-% CaO 0-5 Gew.-% SrO 0-3 Gew.-% BaO 0-30 Gew.-%, insbesondere BaO 0-3 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 0-30 Gew.-%, insbesondere 0-5 Gew.-% beträgt, und ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere ZnO 0-3 Gew.-%, ZrO2 0-5 Gew.-% TiO2 > 0,5-10 Gew.-% CeO2 0-0,5 Gew.-% MnO2 0-1,0 Gew.-% Nd2O3 0-1,0 Gew.-% WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-5 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% As2O3 0-1 Gew.-% Sb2O3 0-1 Gew.-% SO4 (2–) 0-2 Gew.-% Cl 0-2 Gew.-% F 0-2 Gew.-%, wobei Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt und

die &Sgr; Fe2O3 + CeO2 + TiO2 + PbO + As2O3 + Sb2O3 0,5-10 Gew.-% beträgt.

Eine weitere bevorzugte Zusammensetzung enthält: SiO2 67- 74 Gew.-% B2O3 5-10 Gew.-% Al2O3 3-10 Gew.-% Li2O 0-4 Gew.-% Na2O 0-10 Gew.-% K2O 0-10 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0,5-10,5 Gew.-% beträgt, MgO 0-2 Gew.-% CaO 0-3 Gew.-% SrO 0-3 Gew.-% BaO 0-30 Gew.-%, insbesondere BaO 0-3 Gew.-%, ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere ZnO 0-3 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO + ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere 0-6 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-1 Gew.-%
und dass TiO2, Bi2O3 und/oder MoO3 in einer Menge von jeweils unabhängig voneinander 0-10 Gew.-% enthalten sind,

wobei &Sgr; TiO2 + Bi2O3 + MoO3 0,1-10 Gew.-% beträgt,

sowie Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt.

Die nachfolgenden Glaszusammensetzungen sind ebenfalls für Leuchtmittel, insbesondere Lampen, die außenliegende Elektroden mit Elektrodendurchführungen aufweisen, besonders geeignet, wobei keine Einschmelzung des Glases erfolgt. Diese zeichnen sich zudem durch eine besonders hohe chemische Beständigkeit gegenüber Säuren, Laugen und Wasser aus und sind einer zweiten Ausführungsform der Erfindung zuzurechnen: SiO2 60-85 Gew.-% B2O3 0-10 Gew.-% Al2O3 0-10 Gew.-% Li2O 0-10 Gew.-% Na2O 0-20 Gew.-% K2O 0-20 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 5-25 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-5 Gew.-% BaO 0-30 Gew.-%, insbesondere BaO 0-5 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 3-30 Gew.-%, insbesondere 3-20 Gew.-% beträgt, und ZnO 0-20 Gew.-%, insbesondere ZnO 0-8 Gew.-%, ZrO2 0-5 Gew.-% TiO2 0-10 Gew.-% Fe2O3 0-5 Gew.-% CeO2 0-5 Gew.-% MnO2 0-5 Gew.-% Nd2O3 0-1,0 Gew.-% WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-5 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% PbO 0-5 Gew.-% As2O3 0-1 Gew.-% Sb2O3 0-1 Gew.-%,
wobei die

&Sgr; Fe2O3 + CeO2 + TiO2 + PbO + As2O3 + Sb2O3

0-10 Gew.-% beträgt

und wobei die

&Sgr; PdO + PtO3 + PtO2 + PtO + RhO2 + Rh2O3 + IrO2 + Ir2O3

0,1 Gew.-% beträgt, sowie SO4 2– 0-2 Gew.-% Cl 0-2 Gew.-% F 0-2 Gew.-% Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt.

Die Gläser gemäß der ersten und der zweiten Ausführungsform eignen sich insbesondere zur Herstellung von Flachglas, besonders nach dem Float-Verfahren, wobei die Herstellung von Röhrenglas besonders bevorzugt ist. Ganz besonders eignet es sich zur Herstellung von Röhren mit einem Durchmesser von mindestens 0,5 mm, insbesondere mindestens 1 mm und einer Obergrenze von höchstens 2 cm, insbesondere höchstens 1 cm. Besonders bevorzugte Röhrendurchmesser betragen zwischen 2 mm und 5 mm. Es hat sich gezeigt, dass derartige Röhren eine Wandstärke von mindestens 0,05 mm, insbesondere mindestens 0,1 mm aufweisen, wobei mindestens 0,2 mm besonders bevorzugt sind. Maximale Wandstärken betragen höchstens 1 mm, wobei Wandstärken von höchstens < 0,8 mm bzw. < 0,7 mm bevorzugt sind.

Die für Leuchtmitteln der Erfindung angegebenen Gläser sind besonders zur Verwendung von Fluoreszenzlampen mit externen Elektroden als auch für Fluoreszenzlampen, bei denen die Elektroden mit dem Lampenglas verschmolzen sind und durch dieses hindurch treten, wie beispielsweise Kovar-Legierungen, Molybdän und Wolfram etc., geeignet. Bei externen Elektroden können diese beispielsweise durch eine elektrisch leitende Paste gebildet werden.

Weiterhin bevorzugt ist die Verwendung der hier beschriebenen Gläser in Form von Flachglas für flache Gasentladungslampen.

Die genannten Gläser werden bevorzugt zunächst zu einem Halbzeug geformt. Die Herstellung der Halbzeuge beispielsweise durch einen Heißformgebungsprozess kann zum Beispiel direkt aus der Schmelze erfolgen. Beispielsweise wird ein Rohr hergestellt, indem das flüssige Glas aus dem Schmelztank auf eine so genannte Dannerpfeife läuft, von dort zu einem Rohr ausgezogen wird. Das Rohr kann auch über andere Verfahren, wie zum Beispiel dem Velo-Zug oder A-Zug hergestellt werden. Dem Fachmann sind diese Prozesse bekannt.

Flachglas kann über einen Up-Draw oder auch Down-Draw oder über das Float-Verfahren hergestellt werden. Auch diese Prozesse sind dem Fachmann bekannt. Hohlglas kann gepresst oder geblasen werden.

Die in diesem Schutzrecht angegebenen Gläser, insbesondere Borosilikatgläser, eignen sich insbesondere zur Verwendung in Gasentladungsröhren sowie Fluoreszenzlampen, insbesondere miniaturisierten Fluoreszenzlampen und sind ganz besonders zur Beleuchtung, insbesondere zur Hintergrundbeleuchtung von elektronischen Anzeigevorrichtungen, wie Displays und LCD-Bildschirmen, wie beispielsweise bei Mobiltelefonen und Computermonitoren, geeignet und finden bei der Herstellung von Flüssigkristallanzeigen (LCD) sowie bei rückseitig beleuchteten Anzeigen (passive Displays, sog. Displays mit einer Backlighteinheit) als Lichtquelle Verwendung. Für diese Anwendung weisen derartige Fluoreszenzleuchten sehr kleine Dimensionen auf und dementsprechend hat das Lampenglas nur eine äußerst geringe Dicke. Bevorzugte Displays sowie Bildschirme sind so genannte Flachdisplays, verwendet in Laptops, insbesondere flache Backlightanordnungen. Besonders bevorzugt sind halogenfreie Leuchtmittel, wie beispielsweise solche, die auf der Entladung von Xenonatomen basieren (Xenonlampen). Diese Ausführung hat sich als besonders umweltfreundlich erwiesen.

Die Erfindung soll nachfolgend anhand der Zeichnungen näher beschrieben werden. Es zeigen:

1 ein Leuchtmittel, bevorzugt in Form eines sog. Backlights mit Elektroden, die in das Innere des Glaskolbens geführt werden;

2 die Grundform einer reflektierenden Grund- bzw. Träger- und Substratplatte für eine miniaturisierte Backlightanordnung;

3 eine Backlightanordnung mit äußeren Elektroden und

4 eine Displayanordnung mit seitlich angebrachten Fluoreszenzleuchten.

In 1 ist die prinzipielle Ansicht einer Niederdruckentladungslampe, insbesondere einer Fluoreszenzlampe, ganz besonders bevorzugt einer miniaturisierten Fluoreszenzlampe gezeigt.

In 1 ist eine so genannte Backlight-Lampe hergestellt aus einem gezogenen Rohrglas dargestellt. Der Mittelteil 10 ist weitgehend transparent und bildet den Lampenkörper aus. In die beiden offenen Enden 12.1, 12.2 sind Metalldrähte 14.1, 14.2 der Durchführungen eingelegt. Diese werden beispielsweise in einem Temperschritt mit dem transparenten Rohrglas verschmolzen. Bevorzugt ist das Glas im Bereich der Durchführungen so gewählt, dass der Ausdehnungskoeffizient des Glases weitgehend mit dem Ausdehnungskoeffizienten der Metalldrähte 14.1, 14.2 übereinstimmt.

Erfindungsgemäß kann das Hüllenglas der Backlight-Lampe mit einem oder mehreren Dotieroxiden, vorzugsweise ausgewählt aus Ytterbiumoxid, Dysprosiumoxid, Samariumoxid, Eisen(II)oxid und Kupfer(II)oxid sowie Mischungen, dotiert sein. Alternativ oder zusätzlich kann auch eine Außenbeschichtung, vorzugsweise ausgewählt aus SiO2 und TiO2-Schichten oder SiO2 und Ta2O5-Schichten, S2O2- und Nb2O5-Schichten, SiO2- und Y2O3-Schichten, SiO2- und ZrO2-Schichten aufgebracht sein (nicht gezeigt). In der Regel handelt es sich bei den Schichtsystemen aus den vorgenannten Substanzen um Interferenzschichtsysteme mit 20 oder mehr Schichten Andere mögliche Beschichtungen sind Systeme aus leitfähigen oxidischen Schichten z. B. aus In2O3, SnO2, sowie ZnO gegebenenfalls dotiert mit Sn oder F zur Erhöhung der Leitfähigkeit und IR-Reflexion.

Alternativ sind auch Beschichtungen bestehend aus einer dünnen metallischen Schicht z. B. aus Silber oder einem silberbasierten Schichtsystem möglich.

In den 2 bis 4 ist die Verwendung einer Backlight-Lampe beispielhaft in verschiedenen Backlightsystemen gezeigt.

In 2 ist eine spezielle Verwendung für solche Anwendungen, bei denen einzelne miniaturisierte Leuchtstoffröhren 110 parallel zueinander verwendet werden und sich in einer Platte 130 mit Vertiefungen 150 befinden, die das ausgesendete Licht auf dem Display reflektieren. Oberhalb der reflektierenden Platte 130 ist eine Reflektionsschicht 160 aufgebracht, die das von der Leuchtstoffröhre 110 in Richtung der Platte 130 abgestrahlte Licht als eine Art Reflektor gleichmäßig streut und somit für eine homogene Ausleuchtung des Displays sorgt. Diese Anordnung wird bevorzugt für größere Displays verwendet wie z. B. bei Fernsehgeräten.

Gemäß der Ausführungsform in 3 kann das Leuchtmittel 210 auch außen am Display 202 angebracht werden, wobei dann das Licht mittels einer als Lichtleiter dienenden lichttransportierenden Platte 250, einer sog. LGP (light guide plate), gleichmäßig über das Display ausgekoppelt wird. Solche lichttransportierende Platten weisen beispielsweise eine raue Oberfläche auf, über die Licht ausgekoppelt wird. Die Leuchtmittel können externe oder interne Elektroden besitzen.

Darüber hinaus ist es auch möglich, diese für solche Backlightanordnungen zu verwenden, bei denen sich die lichterzeugende Einheit 310 direkt in einer strukturierten Scheibe 315 befindet. Dies ist in 4 gezeigt. Dabei ist die Strukturierung derart, dass mittels parallelen Erhöhungen, so genannten Barrieren 380 mit einer vorgegebenen Breite (Wrib) in der Scheibe Kanäle mit vorgegebener Tiefe und vorgegebener Breite (dchannel bzw. Wchannel) erzeugt werden, in denen sich ein Entladungsleuchtstoff 350 befindet. Dabei bilden die Kanäle zusammen mit einer mit einer Phosphorschicht 370 versehenen Scheibe mehrere Strahlungshohlräume 360.

Die in 4 gezeigte Backlightanordnung ist eine elektrodenlose Gasentladungslampe, d. h. es gibt keine Durchführungen, sondern lediglich äußere Elektroden 330a, 330b. Die in 4 gezeigte Deckplatte oder -scheibe 410 kann je nach Systemaufbau eine trübe Diffusorscheibe oder eine klare transparente Scheibe sein.

Bei dem in 4 dargestellten elektrodenlosen Lampensytem spricht man von einem so genannten EEFL-System (external electrode fluorescent lamp). Die zuvor beschriebenen Anordnungen bilden ein großes flaches Backlight aus und werden daher auch als Flachbacklight bezeichnet.

Eine oder mehrere der Bauelemente der Backlightanordnungen, die in den 2 bis 4 schematisch dargestellt sind, kann erfindungsgemäß eine IR-Strahlung absorbierende Beschichtung aufweisen (nicht gezeigt). Dies können beispielsweise die Trägerplatte, die Deckplatte oder -scheibe, eine Seitenfläche der Backlightanordnung oder Lichtverteilereinheit oder Bereiche hiervon sein.

Nachfolgend wird die vorliegende Erfindung anhand von Beispielen erläutert, welche die erfindungsgemäße Lehre veranschaulichen, diese aber nicht beschränken sollen.

Ausführungsbeispiele

In den nachfolgenden Tabellen 1 bis 3 sind verschiedene erfindungsgemäße Glaszusammensetzungen aufgeführt, welche als Hüllengläser für Leuchtmittel in Backlightsystemen durch entsprechende Dotierung mit Dotieroxiden die unerwünschte IR-Strahlung absorbieren:

Tabelle 1

Tabelle 2

Tabelle 3

Fortsetzung Tabelle 3

Mit der vorliegenden Erfindung wird somit erstmals ein Backlightsystem bereitgestellt, das es ermöglicht, unerwünschte IR-Strahlung zu absorbieren. Dies kann durch Bereitstellen eines entsprechend dotierten Hüllenglases des Leuchtmittels und/oder einer entsprechenden Außenbeschichtung des Hüllenglases und/oder einer Beschichtung anderer Bauelement des Backlightsystems erfolgen. Hierdurch werden Störungen beim Betrieb derartiger Backlightsysteme vermieden.


Anspruch[de]
Backlightsystem zur Hintergrundbeleuchtung von Displays oder Bildschirmen, umfassend mindestens ein Leuchtmittel, das ein Hüllenglas aufweist,

– wobei die Glaszusammensetzung des Hüllglases mit einem oder mehreren Dotieroxiden, die IR-Strahlung absorbieren, dotiert ist

und/oder

– wobei das Hüllenglas eine Außenbeschichtung aufweist, die IR-Strahlung absorbiert,

und/oder

– wobei das Backlightsystem an anderen Bauelementen als am Hüllenglas eine Beschichtung aufweist, die IR-Strahlung absorbiert.
Backlightsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Dotieroxide ausgewählt sind aus Ytterbiumoxid, Dysprosiumoxid, Samariumoxid, Eisen(II)oxid und Kupfer(II)oxid sowie Mischungen dieser. Backlightsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Bauelemente, die mit einer IR-absorbierenden Beschichtung versehen sind, ausgewählt sind aus der Lichtverteilereinheit (Light guide plate, LGP), insbesondere der Diffusorplatte, der Trägerplatte oder -scheibe, der Abdeck- oder Schutzscheibe, (Teil-)Flächen oder Bereichen des Backlightsystems oder Bauteilen hiervon. Backlightsystem nach Anspruch 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung auch IR-reflektierend ist. Backlightsystem nach mindestens einem der vorangehenden Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung ausgewählt ist aus einem oder Kombinationen nachfolgender Beschichtungen:

– SiO2- und TiO2-Schichten

– SiO2- und Ta2O5-Schichten

– SiO2- und Nb2O5-Schichten

– SiO2- und Y2O3-Schichten

– SiO2- und ZrO2-Schichten

– transparent leitfähigen Schichten,

– In2O3-Schichten

– SnO2-Schichten

– ZnO-Schichten

– transparent leitfähigen Schichten dotiert mit Sn, F

– In2O3-Schichten dotiert mit Sn, F

– SnO2-Schichten dotiert mit Sn, F

– ZnO-Schichten dotiert mit Sn, F

– Silberschichten

– Silberbasierten Schichtsystemen.
Backlightsystem nach mindestens einem der vorangehenden Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Leuchtmittel eine Entladungslampe darstellt. Backlightsystem nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Entladungslampe einen Entladungsraum umfasst und der Entladungsraum mit Entladungsstoffen, wie Neon, Argon, Xenon und/oder Selten Erden-Ionen und/oder Quecksilber, gefüllt ist. Backlightsystem nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass auf die Innenseite des Hüllenglases der Entladungslampe eine Fluoreszenzschicht aufgebracht ist. Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 55-85 Gew.-% B2O3 0-35 Gew.-% Al2O3 0-20 Gew.-% Li2O 0-10 Gew.-% Na2O 0-20 Gew.-% K2O 0-20 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0-25 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-5 Gew.-% BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere BaO 0-5 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere 0-20 Gew.-% beträgt, und TiO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-3 Gew.-% WO3 0-3 Gew.-% Bi2O3 0-3 Gew.-% MoO3 0-3 Gew.-% Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt,

sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen, insbesondere Chloride, Sulfate, As2O3 und Sb2O3.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 55-79 Gew.-% B2O3 3-25 Gew.-% Al2O3 0-10 Gew.-% Li2O 0-10 Gew.-% Na2O 0-10 Gew.-% K2O 0-10 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0,5-16 Gew.-% beträgt, und MgO 0-2 Gew.-% CaO 0-3 Gew.-% SrO 0-3 Gew.-% BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere BaO 0-3 Gew.-%, ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere ZnO 0-3 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO + ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere 0-10 Gew.-% beträgt, und ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-1 Gew.-% Fe2O3 0-1 Gew.-% WO3 0-3 Gew.-% Bi2O3 0-3 Gew.-% MoO3 0-3 Gew.-%, TiO2 0-10 Gew.-% TiO2 bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt,

sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen, insbesondere Chloride, Sulfate, As2O3 und Sb2O3.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 60-75 Gew.-% B2O3 > 25-35 Gew.-% Al2O3 0-10 Gew.-% Li2O 0-10 Gew.-% Na2O 0-20 Gew.-% K2O 0-20 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0-25 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-5 Gew.-% BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere BaO 0-5 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 0-45 Gew.-%, insbesondere 0-20 Gew.-%, beträgt und ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere 0-3 Gew.-%, und ZrO2 0-5 Gew.-% TiO2 0-10 Gew.-% Fe2O3 0-0,5 Gew.-% CeO2 0-0,5 Gew.-% MnO2 0-1 Gew.-% Nd2O3 0-1 Gew.-% WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-5 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% As2O3 0-1 Gew.-% Sb2O3 0-1 Gew.-% SO4 2– 0-2 Gew.-% Cl 0-2 Gew.-% F 0-2 Gew.-%, wobei Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt,

die &Sgr; Fe2O3 + CeO2 + TiO2 + PbO + As2O3 + Sb2O3 0-10 Gew.-% beträgt, und wobei

die &Sgr; PdO + PtO3 + PtO2 + PtO + RhO2 + Rh2O3 + IrO2 + Ir2O3

0,00001-0,1 Gew.-% beträgt.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas, bevorzugt für die Verwendung in EEFL-Lampen, eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 55-85 Gew.-% B2O3 > 0-35 Gew.-% Al2O3 0-25 Gew.-%, bevorzugt 0-20 Gew.-%, Li2O < 1,0 Gew.-% Na2O < 3,0 Gew.-% K2O < 5,0 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O < 5,0 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-20 Gew.-% BaO 0-80 Gew.-%, insbesondere BaO 0-60 Gew.-%, wobei die TiO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-10 Gew.-% Fe2O3 0-3 Gew.-%, bevorzugt 0-1 Gew.-%, WO3 0-3 Gew.-% Bi2O3 0-80 Gew.-% MoO3 0-3 Gew.-% ZnO 0-15 Gew.-%, bevorzugt 0-5 Gew.-%, PbO 0-70 Gew.-%, wobei die &Sgr; Al2O3 + B2O3 + BaO + PbO + Bi2O3 15-80 Gew.-% ist,
wobei Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, La, Pr, Nd, Eu, Gd, Tb, Ho, Er, Tm, und/oder Lu in oxidischer Form in Gehalten von 0-80 Gew.-% vorliegen, sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen, und Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas, bevorzugt für die Verwendung in EEFL-Lampen, eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 55-85 Gew.-% B2O3 > 0-35 Gew.-% Al2O3 0-20 Gew.-% Li2O < 0,5 Gew.-% Na2O < 0,5 Gew.-% K2O < 0,5 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O < 1,0 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-20 Gew.-% BaO 15-60 Gew.-%, insbesondere BaO 20-35 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 15-70 Gew.-%, insbesondere 20-40 Gew.-% beträgt, und TiO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt 0-1 Gew.-%, Fe2O3 0-1 Gew.-% WO3 0-3 Gew.-% Bi2O3 0-80 Gew.-% MoO3 0-3 Gew.-% ZnO 0-10 Gew.-%, bevorzugt 0-5 Gew.-%, PbO 0-70 Gew.-%, wobei Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt,

die &Sgr; Al2O3 + B2O3 + BaO + Cs2O + PbO + Bi2O3 15-80 Gew.-% beträgt, sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen, wobei das Glas bevorzugt bis auf unvermeidbare Verunreinigungen frei von Alkalien ist.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas, bevorzugt für die Verwendung in EEFL-Lampen, eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 35-65 Gew.-% B2O3 0-15 Gew.-% Al2O3 0-20 Gew.-%, bevorzugt 5-15 Gew.-%, Li2O 0-0,5 Gew.-% Na2O 0-0,5 Gew.-% K2O 0-0,5 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0-1 Gew.-% beträgt, und MgO 0-6 Gew.-% CaO 0-15 Gew.-% SrO 0-8 Gew.-% BaO 1-20 Gew.-%, insbesondere BaO 1-10 Gew.-%, TiO2 0-10 Gew.-%, bevorzugt > 0,5-10 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-1 Gew.-% CeO2 0-0,5 Gew.-% Fe2O3 0-0,5 Gew.-%, WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-20 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% ZnO 0-5 Gew.-%, bevorzugt 0-3 Gew.-%, PbO 0-70 Gew.-%, wobei die &Sgr; Al2O3 + B2O3 + BaO + PbO + Bi2O3 8-65 Gew.-% beträgt, Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas, bevorzugt für die Verwendung in EEFL-Lampen, eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 50-65 Gew.-% B2O3 0-15 Gew.-% Al2O3 1-17 Gew.-%, Li2O 0-0,5 Gew.-% Na2O 0-0,5 Gew.-% K2O 0-0,5 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0-1 Gew.-% beträgt, und MgO 0-5 Gew.-% CaO 0-15 Gew.-% SrO 0-5 Gew.-% BaO 20-60 Gew.-%, insbesondere BaO 20-40 Gew.-%, TiO2 0-1 Gew.-%, ZrO2 0-1 Gew.-% CeO2 0-0,5 Gew.-% Fe2O3 0-0,5 Gew.-%, bevorzugt 0-1 Gew.-%, WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-40 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% ZnO 0-3 Gew.-%, PbO 0-30 Gew.-%, insbesondere PbO 10-20 Gew.-%, wobei Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-4 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt,

die &Sgr; Al2O3 + B2O3 + BaO + PbO + Bi2O3 10-80 Gew.-% beträgt,

wobei Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, La, Pr, Nd, Eu, Gd, Tb, Ho, Er, Tm, und/oder Lu in oxidischer Form in Gehalten von 0-80 Gew.-% vorliegen, sowie Läutermittel in üblichen Konzentrationen.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 63-72 Gew.-% B2O3 15-22 Gew.-% Al2O3 0-5 Gew.-% Li2O 0-5 Gew.-% Na2O 0-8 Gew.-% K2O 0-8 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0,5-10 Gew.-% beträgt, und MgO 0-3 Gew.-% CaO 0-5 Gew.-% SrO 0-3 Gew.-% BaO 0-30 Gew.-%, insbesondere BaO 0-3 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 0-30 Gew.-%, insbesondere 0-5 Gew.-% beträgt, und ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere ZnO 0-3 Gew.-%, ZrO2 0-5 Gew.-% TiO2 > 0,5-10 Gew.-% CeO2 0-0,5 Gew.-% MnO2 0-1,0 Gew.-% Nd2O3 0-1,0 Gew.-% WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-5 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% As2O3 0-1 Gew.-% Sb2O3 0-1 Gew.-% SO4 (2–) 0-2 Gew.-% Cl 0-2 Gew.-% F 0-2 Gew.-%, wobei Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt und

die &Sgr; Fe2O3 + CeO2 + TiO2 + PbO + As2O3 + Sb2O3 0,5-10 Gew.-% beträgt.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 67-74 Gew.-% B2O3 5-10 Gew.-% Al2O3 3-10 Gew.-% Li2O 0-4 Gew.-% Na2O 0-10 Gew.-% K2O 0-10 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 0,5-10,5 Gew.-% beträgt, MgO 0-2 Gew.-% CaO 0-3 Gew.-% SrO 0-3 Gew.-% BaO 0-30 Gew.-%, insbesondere BaO 0-3 Gew.-%, ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere ZnO 0-3 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO + ZnO 0-30 Gew.-%, insbesondere 0-6 Gew.-% beträgt, ZrO2 0-3 Gew.-% CeO2 0-1 Gew.-%
und dass TiO2, Bi2O3 und/oder MoO3 in einer Menge von jeweils unabhängig voneinander 0-10 Gew.-% enthalten sind,

wobei die &Sgr; TiO2 + Bi2O3 + MoO3 0,1-10 Gew.-% beträgt,

sowie Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas, bevorzugt für die Verwendung in EEFL-Lampen, eine der folgenden Zusammensetzungen umfasst: SiO2 60-85 Gew.-% B2O3 0-10 Gew.-% Al2O3 0-10 Gew.-% Li2O 0-10 Gew.-% Na2O 0-20 Gew.-% K2O 0-20 Gew.-%, wobei die &Sgr; Li2O + Na2O + K2O 5-25 Gew.-% beträgt, und MgO 0-8 Gew.-% CaO 0-20 Gew.-% SrO 0-5 Gew.-% BaO 0-30 Gew.-%, insbesondere BaO 0-5 Gew.-%, wobei die &Sgr; MgO + CaO + SrO + BaO 3-30 Gew.-%, insbesondere 3-20 Gew.-% beträgt, und ZnO 0-20 Gew.-%, insbesondere ZnO 0-8 Gew.-%, ZrO2 0-5 Gew.-% TiO2 0-10 Gew.-% Fe2O3 0-5 Gew.-% CeO2 0-5 Gew.-% MnO2 0-5 Gew.-% Nd2O3 0-1,0 Gew.-% WO3 0-2 Gew.-% Bi2O3 0-5 Gew.-% MoO3 0-5 Gew.-% PbO 0-5 Gew.-% As2O3 0-1 Gew.-% Sb2O3 0-1 Gew.-%,
wobei die

&Sgr; Fe2O3 + CeO2 + TiO2 + PbO + As2O3 + Sb2O3

0-10 Gew.-% beträgt

und wobei die

&Sgr; PdO + PtO3 + PtO2 + PtO + RhO2 + Rh2O3 + IrO2 + Ir2O3

0,1 Gew.-% beträgt, sowie SO4 2– 0-2 Gew.-% Cl 0-2 Gew.-% F 0-2 Gew.-% Yb2O3 0-40 Gew.-% Sm2O3 0-40 Gew.-% Dy2O3 0-40 Gew.-% FeO 0-10 Gew.-% CuO 0-10 Gew.-%,
wobei die Summe aus Yb2O3, Sm2O3, Dy2O3, FeO und CuO 0,3-50 Gew.-% beträgt.
Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass das Leuchtmittel eine Fluoreszenzlampe ist und die Fluoreszenzlampe eine EEFL-Lampe, Gasentladungslampe, eine Beleuchtung für LCD-Anzeigen, Computermonitore, Telefondisplay sowie für Displays ist. Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 19, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas des Leuchtmittels eine rohrförmige oder eine rohrähnliche Form aufweist. Backlightsystem nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, dass der Durchmesser des rohrförmigen oder rohrähnlichen Körpers < 0,8 cm ist und/oder die Wandstärke < 1 mm ist. Backlightsystem nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 21, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas des Leuchtmittels ein Flachglas mit einer Dicke von < 1 cm umfasst. Hüllenglas zur Verwendung in einem Backlightsystem

– wobei die Glaszusammensetzung des Hüllglases mit einem oder mehreren Dotieroxiden, die IR-Strahlung absorbieren, dotiert ist und/oder

– wobei das Hüllenglas eine Außenbeschichtung aufweist, die IR-Strahlung absorbiert.
Hüllenglas nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, dass die Dotieroxide ausgewählt sind aus Ytterbiumoxid, Dysprosiumoxid, Samariumoxid, Eisen(II)oxid und Kupfer(II)oxid sowie Mischungen dieser. Hüllenglas nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung auch IR-reflektierend ist. Hüllenglas nach mindestens einem der vorangehenden Ansprüche 23 bis 25, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung ausgewählt ist aus SiO2- und TiO2-Schichten oder SiO2- und Ta2O5-Schichten. Hüllenglas nach mindestens einem der vorangehenden Ansprüche 23 bis 25, dadurch gekennzeichnet, dass es eine der Glaszusammensetzung wie in einem der vorangehenden Ansprüche 9 bis 18 aufweist. Verwendung eines Hüllenglases, das mit einem oder mehreren Dotieroxiden, die IR-Strahlung absorbieren, dotiert ist,

und/oder

Verwendung eines Hüllenglases, das eine Außenbeschichtung aufweist, die IR-Strahlung absorbiert,

und/oder

Verwendung einer Beschichtung an anderen Bauelementen als am Hüllenglas eines Backlight-Systems, die IR-Strahlung absorbiert,

zur Absorption von IR-Strahlung in einem Backlightsystem.
Verwendung nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, dass die Dotieroxide ausgewählt sind aus Ytterbiumoxid, Dysprosiumoxid, Samariumoxid, Eisen(II)oxid und Kupfer(II)oxid sowie Mischungen dieser. Verwendung nach Abspruch 28, dadurch gekennzeichnet, dass die Bauelemente, die mit einer IR-absorbierenden Beschichtung versehen sind, ausgewählt sind aus der Lichtverteilereinheit (Light guide plate, LGP), insbesondere der Diffusorplatte, der Trägerplatte oder -scheibe, der Abdeck- oder Schutzscheibe, (Teil-)Flächen oder Bereichen des Backlightsystems oder Bauteilen hiervon. Verwendung nach Anspruch 28 oder 30, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung auch IR-reflektierend ist. Verwendung nach mindestens einem der vorangehenden Ansprüche 28 bis 31, dadurch gekennzeichnet,

dass die Beschichtung ausgewählt ist aus einem oder Kombinationen nachfolgender Beschichtungen:

– SiO2- und TiO2-Schichten

– SiO2- und Ta2O5-Schichten

– SiO2- und Nb2O5-Schichten

– SiO2- und Y2O3-Schichten

– SiO2- und ZrO2-Schichten

– transparent leitfähigen Schichten,

– In2O3-Schichten

– SnO2-Schichten

– ZnO-Schichten

– transparent leitfähigen Schichten dotiert mit Sn, F

– In2O3-Schichten dotiert mit Sn, F

– SnO2-Schichten dotiert mit Sn, F

– ZnO-Schichten dotiert mit Sn, F

– Silberschichten

– silberbasierten Schichtsystemen.
Verwendung nach mindestens einem der vorangehenden Ansprüche 28 bis 32, dadurch gekennzeichnet, dass das Leuchtmittel eine Entladungslampe darstellt. Verwendung nach Anspruch 33, dadurch gekennzeichnet, dass die Entladungslampe einen Entladungsraum umfasst und der Entladungsraum mit Entladungsstoffen, wie Neon, Argon, Xenon und/oder Selten Erden-Ionen und/oder Quecksilber, gefüllt ist. Verwendung nach Anspruch 33 oder 34, dadurch gekennzeichnet, dass auf die Innenseite des Hüllenglases der Entladungslampe eine Fluoreszenzschicht aufgebracht ist. Verwendung nach mindestens einem der Ansprüche 28 bis 35, dadurch gekennzeichnet, dass das Hüllenglas eine der Glaszusammensetzungen wie in einem der Ansprüche 9 bis 18 aufweist. Verfahren zur Herstellung einer Beschichtung auf einem Hüllenglas nach einem der Ansprüche 23 bis 27, wonach die Beschichtung in einem Mikrowellenreaktor mittels eines Mikrowellenplasma-CVD-Verfahrens durchgeführt wird. Verwendung des Backlightsystems zur Hintergrundbeleuchtung von Displays oder Schirmen nach einem der Ansprüche 1 bis 22 in elektronischen Vorrichtungen, insbesondere LCD-Anzeigen, Computermonitoren und Telefondisplays.






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