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No Patent No Titel
1 EP1861689 MESSUNG DER AMPLITUDE EINER OPTISCHEN MODULATION
2 DE60128292T2 Zeitverzögerungsmessung unter Verwendung von in mehreren Frequenrbereichen modulierten optischen Signalen
3 DE102006041847B3 Vorrichtung zur optischen Inspektion zum Zweck der Kontrolle eines technischen Prozesses
4 DE60129774T2 Messvorrichtung mit Bilderzeugungseinheit
5 EP1590646 VERFAHREN UND APPARAT ZUR MESSUNG DER POLARISATIONSMODENDISPERSION
6 DE60312266T2 Einphasen-Kipp Verschiebungsverfahren und Apparat zur Messung der chromatischen und polarisationsabhängigen Dispersion.
7 DE60218250T2 Interferometrische Analyse eines optischen Bauteils mittels orthogonalem Filter
8 DE102006015963A1 Verfahren zum optischen Überprüfen von Prüfobjekten mit variabler Parametrisierung sowie Vorrichtung hierfür
9 DE60216752T2 FASEROPTISCHE RÜCKSTREU-POLARIMETRIE
10 DE60032726T2 OPTISCHES ZEITBEREICHSREFLEkTOMETER
11 DE102007013038A1 Testvorrichtung für Oberflächen, insbesondere von Schweißelektroden
12 DE69737139T2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ÜBERWACHUNG EINER OPTISCHEN FASER MITTELS EINES OPTISCHEN ZEITBEREICHSREFLEKTOMETERS
13 EP1817561 ERKENNUNG EINER STÖRUNG BEI DER AUSBREITUNG VON LICHT IN EINEM OPTISCHEN WELLENLEITER
14 EP1195590 Optische Messvorrichtung mit Bilderzeugungseinheit
15 EP1816459 OPTISCHES ZEITBEREICHSREFLEKTOMETER UND OPTISCHES FASERMESSVERFAHREN UND -SYSTEM UNTER VERWENDUNG DESSELBEN
16 EP1810000 VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER EXZENTRIZITÄT EINES KERNS EINES LICHTWELLENLEITERS SOWIE VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM VERBINDEN VON LICHTWELLENLEITERN
17 DE202006004456U1 Testvorrichtung für Oberflächen, insbesondere von Schweißelektroden
18 DE102006007751A1 Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle von Wellenfrontfehlern und Leistungsparametern von Linsenanordnungen und Lasern
19 DE602004003125T2 VERFAHREN ZUR ERKENNUNG EINES DEFEKTEN PIXELS
20 DE102006007750A1 Verfahren und optische Anordnung zur Kontrolle der Fokustiefe eines abbildenden optischen Systems
21 EP1798537 Vorrichtung zur Endkontrolle von Lichtwellenleitern mit Ferrulen und Methode der Kalibrierung
22 EP1437586 VERFAHREN ZUR MESSUNG DER HALBWELLENSPANNUNG EINES OPTISCHEN MODULATORS DES MACH-ZEHNDER-TYPS
23 DE60127060T2 Messung der polarisationsabhängigen Eigenschaft optischer Einheiten
24 EP1160559 Zeitverzögerungsmessung unter Verwendung von in mehreren Frequenrbereichen modulierten optischen Signalen
25 DE60123928T2 System und Verfahren zur Messung von Gruppenverzögerung basiert auf Nulldurchgänge
26 DE60307934T2 Pilotton Multiplexierung der Polarisationszustände in der Heterodynanalyse eines optischen Elements
27 DE112004002826T5 Bildsensor-Prüfsystem
28 EP1387158 Einphasen-Kipp Verschiebungsverfahren und Apparat zur Messung der chromatischen und polarisationsabhängigen Dispersion.
29 EP1191320 Messung der polarisationsabhängigen Eigenschaft optischer Einheiten
30 DE102005021649B4 Optische Höhenabtastung einer Oberfläche
31 DE102005045854B3 Verfahren und System zur Kalibrierung einer Kamera in Produktionsmaschinen
32 EP1286150 Interferometrische Analyse eines optischen Bauteils mittels orthogonalem Filter
33 EP1747445 AUSWERTUNG DER POSITION EINER ZEITLICH VERÄNDERLICHEN STÖRUNG
34 EP1746403 Optische Reflektometrieanalyse mit einer Zeitanpassung auf Teil-Ansprechsignalen
35 EP1744141 Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Hohlfaserbündels
36 DE10330003B4 Vorrichtung, Verfahren und Computerprogramm zur Wafer-Inspektion
37 DE102004009095B4 Verfahren zum Bestimmen der Überlagerungsgenauigkeit einer Maskenstruktur auf einer Halbleiterschicht anhand von Justiermarken
38 EP1740920 VISUELLE UNTERSUCHUNG OPTISCHER ELEMENTE
39 DE112004002813T5 Prüfgerät für Bildsensoren
40 EP1130376 OPTISCHES ZEITBEREICHSREFLEkTOMETER
41 EP1450149 Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der chromatischen Dispersion von optischen Komponenten
42 EP0854360 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ÜBERWACHUNG EINER OPTISCHEN FASER MITTELS EINES OPTISCHEN ZEITBEREICHSREFLEKTOMETERS
43 DE69931650T2 ERZEUGUNG EINER ELEKTROMAGNETISCHEN IMPULSFOLGE ZUM PRÜFEN VON GLASFASERN
44 EP1390707 FASEROPTISCHE RÜCKSTREU-POLARIMETRIE
45 EP1731892 Detektion verschiedener Spektralkomponenten eines optischen Signals mittels eines optischen Verschlusses
46 DE102005031845A1 Messstand für eine Düse, insbesondere eine Kraftfahrzeug-Luftdüse
47 EP1725853 VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER SPINNMERKMALEN VON OPTISCHEN SPINNFASERN
48 DE10235658B4 Prüfungseinrichtung und Prüfungsverfahren für Dichtungen von Verschlüssen
49 EP1721138 INTERFEROMETRISCHE BESTIMMUNG DER TRANSFER-FUNKTION
50 EP1583946 VERFAHREN ZUR ERKENNUNG EINES DEFEKTEN PIXELS
51 DE10360536B4 Verfahren zur Inspektion von Masken eines Maskensatzes für eine Mehrfachbelichtung
52 DE19842112B4 Einrichtung zur Einstellung und Steuerung der Beleuchtungsstärke von Kontrolleuchten
53 EP1717568 Verfahren zur Vermessung eines solarthermischen Konzentrators
54 DE102006021671A1 Außeraxiales Segment einer rotationssymmetrischen optischen Komponente
55 EP1256791 System und Verfahren zur Messung von Gruppenverzögerung basiert auf Nulldurchgänge
56 EP1712888 Laufzeitmessung mittels Impulsfolgen
57 EP1709414 BESTIMMUNG EINER OPTISCHEN EIGENSCHAFT EINER ZU TESTENDEN VORRICHTUNG (DUT) MITTELS OTDR MESSUNG
58 EP1709415 SYSTEM UND VERFAHREN ZUR MESSUNG OPTISCHER PARAMETER UND CHARAKTERISIERUNG VON OPTISCHEN MEHRPORT-EINRICHTUNGEN
59 DE102005021649A1 Optische Höhenabtastung einer Oberfläche
60 DE102005020622A1 Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Lage eines Faserkerns in einer optischen Faser
61 DE102005021119A1 Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung einer Dämpfung an einer Verbindungsstelle zweier optischer Fasern
62 EP1705471 Verfahren zur Messung der modenabhängigen Verzögerung einer multimodalen Glasfaser
63 EP1376091 Pilotton Multiplexierung der Polarisationszustände in der Heterodynanalyse eines optischen Elements
64 EP1310782 Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Informationen für die Überwachung einer Laseranordnung
65 EP1687604 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DER FOKUSSIERUNG EINES ABBILDUNGSSYSTEMS
66 DE102005010798A1 Verfahren zur Detektion von Geometriefehlern und Streifigkeiten auf zweidimensionalen optischen Strukturen
67 EP1676111 UNTERSUCHUNGSSYSTEM UND -VERFAHREN FÜR OPTISCHE EINRICHTUNGEN UNTER VERWENDUNG EINER GROSSEN FELDTIEFE
68 DE60023764T2 Verfahren zur Bestimmung einer Eigenschaft einer optischen Faser durch Reflektometrie
69 EP1119756 ERZEUGUNG EINER ELEKTROMAGNETISCHEN IMPULSFOLGE ZUM PRÜFEN VON GLASFASERN
70 EP1659387 Vorrichtung und Verfahren zur chromatischen Dispersionsmessung
71 DE102004051301A1 Vorrichtung zur optischen Prüfung von Bauteilen
72 EP1650541 TESTSYSTEM DES STRAHLWEGES ZUM SUCHEN NACH SCHWIERIGKEITEN IM STRAHLWEG VON DER OPTISCHEN ANSCHLUSSSEITE DES BENUTZERS AUS
73 EP1645861 Vorrichtung und Verfahren zum Messen der chromatischen Dispersion einer optischen Übertragungsstrecke
74 DE102004055524A1 Optisches Verfahren und optische Einrichtung zur Überwachung eines elektrischen Leiters
75 DE10048447B4 Verfahren und Vorrichtung zum Testen von selbstleuchtenden optoelektronischen Komponenten
76 DE202006000410U1 Optisches Inspektionsgerät
77 EP1632766 Verfahren zum reflektometrischen Über-prüfen einer optischen Übertragungs-leitung, sowie optische Einrichtung und optische Sende- und Empfangseinrichtung
78 EP1628121 Bestimmung polarisationsabhängiger Eigenschaften
79 DE202005018964U1 Vorrichtung zum Prüfen der Echtheit von Dokumenten
80 EP1613942 EINZELDURCHGANGSMESSUNG MEHRERER OPTISCHER EIGENSCHAFTEN
81 DE102004049170A1 Inspektionsgerät, insbesondere Dachrinnenprüfgerät
82 EP1247083 VORRICHTUNG ZUM MESSTECHNISCHEN ERFASSEN VON TRANSMISSIONSVERLUSTEN
83 DE102004009390B4 Vorrichtung zur Bestimmung der Qualität der Bebilderung von Druckplatten
84 DE60017579T2 VERFAHREN ZUR MESSUNG DES TWISTS VERLIEHEN AN EINEN OPTISCHEN FIBER UND VORGEHEN BEI DEM VERFAHREN ZUR VERARBEITUNG EINES OPTISCHEN FIBERS
85 DE69829896T2 Lichtquelle mit variabler Wellenlänge und OTDR Apparat
86 EP1585953 MEHRSIGNALBESTIMMUNG EINER POLARISATIONSABHÄNGIGENCHARAKTERISTIK
87 DE60017377T2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM SICHEREM TESTEN VON OPTISCHEN SYSTEMEN IN GEFÄHRLICHEN UMGEBUNGEN
88 DE10258248B4 System zur interferometrischen Passeprüfung
89 DE102004033195A1 Vorrichtung zur Inspektion eines mikroskopischen Bauteils
90 DE102004033603A1 Mikroskopisches Abbildungssystem und Verfahren zur Emulation eines hochaperturigen Abbildungssystems, insbesondere zur Maskeninspektion
91 DE102004033602A1 Abbildungssystem zur Emulation hochaperturiger Scannersysteme
92 DE102004034160A1 Vorrichtung zur Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften
93 DE102004033208A1 Vorrichtung zur Inspektion eines mikroskopischen Bauteils mit einem Immersionsobjektiv
94 EP1608944 POLARISATIONSABHÄNGIGE EINZELWELLENLÄNGEN-SWEEP-VERLUSTMESSUNG
95 EP1024353 Verfahren zur reflektrometrischen Bestimmung einer Charakteristik einer optischen Faser
96 DE102004023383A1 Vorrichtung zur Inspektion eines ringförmigen Gegenstandes, insbesondere O-Rings
97 EP1586884 Verfahren zur Feststellung den Ursprung eines Fehlers einer optischen Faser und Verfahren zur Herstellung einer optischen Faser
98 EP1582854 System und Verfahren zur Messung von optischen Störungen
99 DE60111151T2 Prüfanordnung für optische Vorrichtungen
100 WO2004048920 Verfahren und Anordnung zur Ermittlung von Fehlstellen in optischen Fasern
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