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No Patent No Titel
1 EP1855103 Bildprüfvorrichtung und die Bildprüfvorrichtung verwendendes Bildprüfverfahren
2 EP1852694 Kontrolle der Substratbearbeitung mittels reflektierter Strahlung
3 EP1840560 Verfahren zur Enthüllung von kristallinen Defekten in einem massiven Substrat
4 EP1832868 Vorrichtung und Verfahren zur Oberflächenzustandsprüfung
5 DE102006042956A1 Verfahren zur optischen Inspektion Visualisierung der von den scheibenförmigen Objekten gewonnenen optischen Messwerte
6 EP1817574 BELICHTUNGSVERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DES VORLIEGENS VON DEFEKTEN AUF DER OBERFLÄCHE EINES BEHÄLTERBUNDS
7 EP1408326 Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Oberflächen
8 EP1815235 SYSTEM ZUR LOKALISIERUNG EINER PHYSIKALISCHEN VERÄNDERUNG IN EINER STRUKTUR SOWIE VERFAHREN DAZU
9 DE60309467T2 Sichtungs-System
10 DE102007002251A1 Verfahren zum Durchführen eines Prüfsondentests sowie Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren von Abnormalitäten in einer Prüfsondenkarte
11 EP1801569 Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Rissen in Silizium-Wafern
12 EP1128179 Verfahren zur Identifikation von im wesentlichen fehlerfreien Werkstücken
13 DE60030193T2 Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Fehlern auf der Oberfläche eines Werkstücks
14 DE102005061785A1 Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Rissen in Silizium-Wafern
15 DE102005062618A1 Optische Abbildungseinrichtung mit Bestimmung von Abbildungsfehlern
16 DE60123996T2 MESSUNG VON OBERFLÄCHENDEFEKTEN
17 DE102005055113A1 Verfahren und Prüfkörper zur Qualitätsprüfung einer Klebung
18 EP1769234 MIT EINER BESCHÄDIGUNGSSCHUTZVORRICHTUNG AUSGERÜSTETES MESSGERÄT ZUR STEUERUNG VON LACKIERTEN KAROSSERIETEILEN
19 EP1769235 VERFAHREN UND STATION ZUR STEUERUNG DER LACKIERUNG VON KAROSSERIETEILEN VON KRAFTFAHRZEUGEN
20 DE60308471T2 Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Oberflächen
21 DE102005046006A1 Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion eines Wafers
22 EP1756552 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR INSPEKTION DES VERSCHLUSSES UND DER INTEGRITÄT VON BLISTERPACKUNGEN
23 DE102006008552A1 Prüfeinrichtung
24 EP1752760 Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion der Oberfläche eines Wafers
25 EP1744150 Entzerrungssystem und -verfahren bei der Überprüfung optischer Platten
26 DE102005038332A1 Vorrichtung und Verfahren zur Beleuchtung der Oberfläche eines Wafers in einer Waferinspektionsanlage
27 DE102005033036A1 Vorrichtung zur Inspektion eines Wafers
28 DE102005028427B3 Verfahren zur optischen Aufnahme und Inspektion eines Wafers im Rahmen der Randentlackung
29 DE112005000410T5 Einrichtung einer Entsprechung und einer Rückverfolgbarkeit zwischen Wafern und Solarzellen
30 DE102005025962A1 Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion der Oberfläche eines Wafers
31 DE102004051842B4 Bemassung eines ausgedehnten Defekts
32 DE102005014596B3 Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion der Oberfläche eines Wafers
33 DE10330005B4 Vorrichtung zur Inspektion eines Wafers
34 EP1716409 VERFAHREN ZUR PLANUNG EINER INSPEKTIONSBAHN UND ZUR BESTIMMUNG VON ZU INSPIZIERENDEN BEREICHEN
35 EP1514094 Sichtungs-SYSTEM
36 EP1716410 VERFAHREN UND SYSTEM ZUR INSPEKTION VON OBERFLÄCHEN
37 DE102006014812A1 Sichtprüfeinrichtung und Sichtprüfverfahren
38 EP1336095 MESSUNG VON OBERFLÄCHENDEFEKTEN
39 EP1706730 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM NACHWEIS VON EINSCHLÜSSEN IN GLAS
40 DE102006017833A1 Erscheinungsprüfungsvorrichtung und Erscheinungsprüfungsverfahren
41 DE102004029012B4 Verfahren zur Inspektion eines Wafers
42 EP1431752 Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Oberflächen
43 EP1698889 Vorrichtung zur Überprüfung der Vor- und Rückseite von Tabletten und Vorrichtung zur Überprüfung des Tablettenaussehens damit
44 EP1697729 VERFAHREN UND SYSTEME ZUR INSPEKTION EINES PRÄPARATS UNTER VERWENDUNG UNTERSCHIEDLICHER INSPEKTIONSPARAMETER
45 EP1696227 Verfahren und Vorrichtung zur Fehlerdetektion bei Wafern
46 DE102005014593A1 Vorrichtung zur Inspektion eines scheibenförmigen Objekts
47 EP1692494 HALBLEITER-ARRAY-TESTVORRICHTUNG
48 EP1041379 Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Fehlern auf der Oberfläche eines Werkstücks
49 DE102005014595A1 Verfahren zur visuellen Inspektion einer Randentlackungskante eines scheibenförmigen Objekts
50 DE102005014594A1 Verfahren zur Erkennung unvollständiger Randentlackung eines scheibenförmigen Objekts
51 DE202006009819U1 Vorrichtung zur visuellen Inspektion von Prüflingen
52 DE112004001903T5 Optische Messung von Strukturmerkmalen von Bauelementen unter Verwendung einer Beleuchtung durch ein Mikrolinsen-Array
53 EP1679504 GERÄT ZUR INSPEKTION DER ÄUSSEREN ERSCHEINUNG
54 DE102004056698B3 Inspektionsvorrichtung für ein Substrat, das mindestens eine aufgedruckte Schicht aufweist
55 DE10230891B4 Photolithographisches System und photolithographes Verfahren zur Erfassung von Verunreinigungen aufder Oberfläche von Wafern
56 DE102005011237B3 Verfahren zur Bestimmung von Defekten in Bildern
57 EP1669741 Verfahren und System zur Inspektion eines Wafers
58 DE10330006B4 Vorrichtung zur Inspektion eines Wafers
59 DE102004029212B4 Vorrichtung und Verfahren zur optischen Auf- und/oder Durchlichtinspektion von Mikrostrukturen im IR
60 DE102004017690B4 Vorrichtung und Verfahren zur Aufnahme eines Gesamtbildes einer Oberfläche eines Halbleitersubstrats
61 EP1469301 Gerät zur optischen Überprüfung der Qualität der Aussenoberfläche von gewölbt geformtem Obst und Gemüse verschiedenster Form und Grösse
62 DE102004029014B4 Verfahren und System zur Inspektion eines Wafers
63 DE102004058126A1 Vorrichtung zur Inspektion der Vorder- und Rückseite eines scheibenförmigen Objekts
64 DE102004058128A1 System zur Inspektion eines scheibenförmigen Objekts
65 DE102004062592B3 System zur Untersuchung eines scheibenförmigen Substrats
66 DE102004055250A1 Verfahren zur Inspektion eines Wafers
67 EP1636572 SYSTEME ZUR INSPEKTION DER STRUKTURIERTEN ODER UNSTRUKTURIERTEN WAFERS UND ANDERER PROBEN
68 EP1636573 OPTISCHES SYSTEM ZUR DETEKTION VON ANOMALIEN UND/ODER CHARAKTERISTIKA VON OBERFLÄCHEN
69 DE10324474B4 Vorrichtung zur Wafer-Inspektion
70 DE10157244B4 Verfahren und Vorrichtung zur Defektanalyse von Wafern
71 EP1625388 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN QUALITÄTSPRÜFUNG VON OBJEKTEN MIT VOR-ZUGSWEISE KREISFÖRMIG UMLAUFENDEM RAND
72 EP1611434 AUTOMATISIERTE ÜBERPRÜFUNG VON VERPACKUNGSMATERIALIEN AUF VERPACKUNGSFEHLERFREIHEIT
73 DE112004000472T5 Verfahren und System zum automatischen Detektieren von Defekten bei der ferngesteuerten Videoinspektion
74 DE102004029212A1 Vorrichtung und Verfahren zur optischen Auf- und/oder Durchlichtinspektion von Mikrostrukturen im IR
75 DE102004029012A1 Verfahren und System zur Inspektion eines Wafers
76 DE102004029014A1 Verfahren und System zur Inspektion eines Wafers
77 DE102004008038A1 Elektrodenzustandsmeßeinrichtung
78 EP1597565 INSPEKTIONSEINRICHTUNG FÜR LOSE GEGENSTÄNDE, WIE TABLETTEN
79 DE102005013860A1 Metalloberflächen-Prüfvorrichtung für Metallringe für einen Riemen in einem kontinuierlich variablen Getriebe
80 DE102005014168A1 Vorrichtung zum Prüfen von Metalloberflächen
81 DE102004017690A1 Vorrichtung und Verfahren zur Aufnahme eines Gesamtbildes einer Oberfläche eines Halbleitersubstrats
82 DE10131665B4 Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion des Randbereichs eines Halbleiterwafers
83 DE102004059154A1 Verfahren zum Überprüfen einer laserbearbeiteten verschlechterten Schicht
84 EP1553406 Verfahren zur doppelseitigen optischen Inspektion von Dünnfilmscheiben oder Wafer
85 EP1546693 DUNKELFELD-INSPEKTIONSSYSTEM
86 EP1541996 VORRICHTUNG ZUM MESSEN DES DEFEKTS EINES OPTISCHEN DATENTRÄGERS
87 EP1523670 VORRICHTUNG ZUR WAFER-INSPEKTION
88 EP1522846 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM ERKENNEN VON FREMDSTOFFEN AUF EINEM GEGENSTAND UND OPTISCHES PLATTENGERÄT
89 DE10343148A1 Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion eines Wafers
90 EP1508799 Verbessertes Prüfsystem für Proben
91 EP1498727 Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Halbleitern
92 EP1494017 Vorrichtung und Verfahren zur Wafer-Inspektion
93 EP1494016 Vorrichtung zur Inspektion eines Wafers
94 EP1494015 Vorrichtung zur Inspektion eines Wafers
95 DE10330006A1 Vorrichtung zur Inspektion eines Wafers
96 EP1491880 Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Halbleiterelementen
97 DE10330005A1 Vorrichtung zur Inspektion eines Wafers
98 DE10352936A1 Verfahren und Vorrichtung zur optischen Qualitätsprüfung von Objekten mit vorzugsweise kreisförmig umlaufendem Rand
99 DE10324474A1 Vorrichtung zur Wafer-Inspektion
100 DE10313202B3 Vorrichtung und Verfahren zur Kanteninspektion an Halbleiterwafern
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