PatentDe  


No Patent No Titel
1 DE19525081B4 Verfahren und Vorrichtung zum Testen der Funktion von Mikrostrukturelementen
2 DE60206971T2 STREULICHTMESSUNGSSTRUKTUR MIT EINGEBETTETEM RINGOSZILLATOR, UND VERFAHREN ZU DESSEN ANWENDUNG
3 DE60108043T2 Zerstörungsfreies Inspektionsverfahren
4 EP1485724 STREULICHTMESSUNGSSTRUKTUR MIT EINGEBETTETEM RINGOSZILLATOR, UND VERFAHREN ZU DESSEN ANWENDUNG
5 DE69824226T2 Kontaktlose Prüfung von Anschlusspuffern auf einem Wafer
6 EP1202069 Zerstörungsfreies Inspektionsverfahren
7 EP1431771 Kontaktlose Prüfung von Anschlusspuffern auf einem Wafer
8 DE69630065T2 Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung im Terahertzbereich
9 EP0867727 Kontaktlose Prüfung von Anschlusspuffern auf einem Wafer
10 DE10240060A1 Verfahren und Anordnung zur strahlungsinduzierten Bestimmung der lokalen Verteilung von Verlustströmen bzw. Verlustleistung in Halbleiterbauelementen
11 DE19511869B4 Verfahren und Anordnung zur Responseanalyse von Halbleitermaterialien mit optischer Anregung
12 EP0727671 Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung im Terahertzbereich
13 EP1095285 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DER ABHÄNGIGKEIT EINER ERSTEN MESSGRÖSSE VON EINER ZWEITEN MESSGRÖSSE
14 EP1204875 SYSTEM ZUM AUSRICHTEN RECHTECKIGER HALBLEITERSCHEIBEN
15 EP1155337 BELASTUNGSSTROMREGELUNG FÜR NICHTLINEARE LEDS
16 EP1109029 Apparat und Verfahren zum Nutzen des photoelektrischen Effektes zwecks Testung elektrischer Verbindungen
17 EP0987556 Vorrichtung zur Diffusionslängenmessung in Halbleiterkörpern
18 EP0828162 Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung im Terahertzbereich
19 EP0780694 Herstellung einer Referenzprobe für einer Vorrichtung zur Bestimmung der implantierten Dotierung
20 DE19525081A1 Verfahren und Vorrichtung zum Testen der Funktion von Mikrostrukturelementen
21 EP0735378 Verfahren und Anordnung zur Responseanalyse von optisch angeregten Halbleitermaterialien
22 DE19511869A1 Verfahren und Anordnung zur Responseanalyse von Halbleitermaterialien mit optischer Anregung
23 DE4440167A1 Verfahren und Anordnung zur Messung der lateralen Stromverteilung in Halbleiterbauelementen
1

IPC
A Täglicher Lebensbedarf
B Arbeitsverfahren; Transportieren
C Chemie; Hüttenwesen
D Textilien; Papier
E Bauwesen; Erdbohren; Bergbau
F Maschinenbau; Beleuchtung; Heizung; Waffen; Sprengen
G Physik
H Elektrotechnik

Anmelder
Datum

Patentrecherche

Copyright © 2008 Patent-De Alle Rechte vorbehalten. eMail: info@patent-de.com