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No Patent No Titel
1 DE202005021386U1 Prüfkopf mit einem Messfühler mit Membranaufhängung
2 DE102006028414A1 Testverfahren und Testvorrichtung für eine integrierte Schaltung
3 DE102006026175A1 RFID-Tag-Prüfvorrichtung
4 DE102006025341A1 Handler mit Beschleunigungsvorrichtung zum Testen von elektronischen Bauelementen
5 DE102006000267A1 Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Prüfeinrichtung, eine elektrische Prüfeinrichtung sowie Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens
6 DE102006005800B4 Verfahren und Vorrichtung zum Testen von unbestückten Leiterplatten
7 DE102007024449A1 Messplatine für Prüfgerät für elektronische Bauelemente
8 DE102006025031A1 Prüfschaltungsanordnung und Prüfverfahren zum Prüfen einer Schaltungsstrecke einer Schaltung
9 DE102006018474A1 Testvorrichtung für Halbleiterelemente auf einem Halbleiterwafer sowie ein Testverfahren unter Verwendung der Testvorrichtung
10 DE112005002450T5 Prüfvorrichtung
11 DE112005002907T5 Prüfvorrichtung
12 DE102006017758A1 Kontaktiervorrichtung
13 DE102006015365A1 Verfahren und Vorrichtung zum Temperieren von elektronischen Bauelementen
14 DE102006015363A1 Testvorrichtung zum Testen von elektronischen Bauelementen
15 DE102007016372A1 Verfahren zur Messung der Impedanz elektronischer Schaltungen
16 DE112005000233T5 Kontaktstück, Kontaktanordnung mit Kontaktstücken, Probenkarte, Prüfgerät und Verfahren und Gerät zur Herstellung der Kontaktanordnung
17 DE112005002538T5 Prüfvorrichtung und Prüfverfahren
18 DE102006011548A1 Verfahren und Anordnung zur Prüfung von auf einem Trägermaterial aufgebrachten elektronischen Schaltkreisen
19 DE102006010944A1 Integrierter Baustein zum vereinfachten parallelen Testen, Testboard zum Testen von mehreren integrierten Bausteinen sowie Testsystem und Testereinheit
20 DE102006009321A1 Vorrichtung für die Endmesstechnik
21 DE102007007528A1 Kontaktierstation zum Testen von Prüflingen unter Temperatur
22 DE112005002545T5 Taktgenerator und Prüfvorrichtung
23 DE112005002384T5 Leistungszuführungsvorrichtung und Prüfvorrichtung
24 DE102006006255A1 Fingertester zum Prüfen von unbestückten Leiterplatten und Verfahren zum Prüfen unbestückter Leiterplatten mit einem Fingertester
25 DE102006005319A1 Heizvorrichtung zum Testen integrierter Bauelemente
26 DE102006005800A1 Verfahren und Vorrichtung zum Testen von unbestückten Leiterplatten
27 DE102006005522A1 Elektrische Kontaktiervorrichtung sowie elektrisches Kontaktierverfahren
28 DE102007007529A1 Testvorrichtung zum Testen von Prüflingen unter Temperatur
29 DE102006021569A1 Prüfsystem für einen Schaltungsträger
30 DE102007006128A1 Prüfvorrichtung und Prüfverfahren
31 DE112005002247T5 Verbrauchsstrom-Ausgleichsschaltung, Verfahren zum Einstellen eines Ausgleichsstrombetrags, Zeitgeber und Halbleitertestgerät
32 DE102007005751A1 Prüfvorrichtung und Prüfverfahren
33 DE102006031881A1 Verbindungszubehör für Mikrosondierung
34 DE102005056930A1 Halbleiter-Bauelement-Test-Verfahren, Halbleiter-Bauelement-Testgerät, sowie zwischen ein Testgerät und ein zu testendes Halbleiter-Bauelement geschaltete Einrichtung
35 DE112005001308T5 Bi-direktionale Stromerkennung durch Überwachen der VS Spannung in einer Halb- oder Vollbrückenschaltung
36 DE102006043366A1 Verfahren zum Herstellen einer Kontaktiervorrichtung und eine entsprechende Vorrichtung
37 DE102005036808A1 Druckmittelbetätigte Dockingvorrichtung
38 DE112005000311T5 Messgerät, Messverfahren und Testgerät
39 DE102006028141A1 Verfahren und Vorrichtung zum elektrischen Prüfen eines Prüflings sowie Verfahren zur Herstellung einer beim Prüfen eingesetzten Kontaktiervorrichtung
40 DE102006002472A1 Signalsonde und Sondenanordnung
41 DE102006003584A1 Halbleiter-Testschnittstelle
42 DE112004002554T5 Active wafer probe
43 DE102006021468A1 Schnittstellenaufbau und Trockengas einschließende Vorrichtung, die diesen verwendet
44 DE102005037024A1 Sockelanordnung zum Testen einer Halbleitervorrichtung
45 DE102005057448A1 Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen eines Hochfrequenzsignals
46 DE102005058757A1 Verbindungselement für Halbleiterpackungstest und Herstellungsverfahren
47 DE102005055836A1 Leistungstestplatte
48 DE102005042521A1 Verfahren und Vorrichtung für eine sich verdrehende Halterungssonde zum sondieren von Testzugriffspunktstrukturen
49 DE102005042518A1 Verfahren und Vorrichtung zur layoutunabhängigen Testpunktplatzierung auf einer gedruckten Schaltungsplatine
50 DE202004012130U1 Vierpol-Messvorrichtung
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