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No Patent No Titel
1 DE60128014T2 Intelligenter Prüfadapter
2 DE60221858T2 BER-Tester mit Signalabtastung mit Taktrückgewinnung
3 DE60217619T2 Vorrichtung zur Abtastprüfung von Leiterplatten
4 DE60216232T2 NICKELLEGIERUNGSSONDENKARTENRAHMENLAMINAT
5 DE60216125T2 EINGEBAUTE SELBSTPRÜFUNG VON MEHRPEGELSIGNALSCHNITTSTELLEN
6 DE102007006536A1 Asynchrone digitale Datererfassung
7 DE60311576T2 Spektrale Jitter-Analyse mit Jitter-Modulation-Wellenform-Analyse
8 DE602004002209T2 MESSSCHALTUNGSANORDNUNG MIT ERHÖHTER GENAUIGKEIT
9 DE69836407T2 Anordnung zur Überprüfung der Signalspannungspegelgenauigkeit in einer digitalen Testeinrichtung
10 DE60308572T2 Verfahren zur Kreation eines zusammengesetzten Augendiagramms
11 DE60309892T2 TRÄGERSYSTEM UND PRÜFVERFAHREN
12 DE60308870T2 KOMPENSATION VON TESTSIGNALVERSCHLECHTERUNG AUFGRUND EINER FEHLFUNKTION DES ZU TESTENDEN BAUELEMENTS
13 DE102005024649B4 Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Jitter
14 DE60307405T2 Halbleiter-Baustein mit Daten-Ports für simultanen bi-direktionalen Datenaustausch und Methode zum Testen desselben
15 DE60308844T2 Sigma-Delta-Modulator mit Pulsbreitenmodulations-Ausgang
16 DE112005000403T5 Versatzeinstellverfahren, Versatzeinstellgerät und Testgerät
17 DE102006031091A1 Halbleiterprüfvorrichtung
18 DE102005024649A1 Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Jitter
19 DE60306008T2 Einrichtungen und Verfahren für die Hochgeschwindigkeitsprüfung von Schaltungen mit hoher Pinzahl und mehreren Gigabit
20 DE60121064T2 ANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR ZEITKALIBRIERUNG EINES HALBLEITERSCHEIBENPRÜFGERÄTS FÜR INTEGRIERTE SCHALTUNGEN
21 DE102005007580A1 Verfahren zum Testen einer zu testenden Schaltungseinheit, welche Schaltungsuntereinheiten aufweist, und Testvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
22 DE60023583T2 Pulslängendetektor
23 DE60209063T2 Signalabtastung mit Abtast- und Referenz-Pfad
24 DE60206232T2 Schaltung und Methode zum Regeln einer Taktverschiebung in einem Kommunikationssystem
25 DE69833058T2 Vorrichtung zum Erzeugen eines Ausgabe-Stromes
26 DE69832575T2 Anordnung zur Überprüfung der Signaltaktgenauigkeit in einer digitalen Testeinrichtung
27 DE60207261T2 Bereitstellung einer kontrollierbaren Impedanz an einer Referenzebene in einer Schaltung
28 DE60205276T2 Controllerbasierte Hardwarevorrrichtung und Verfahren zu ihrer Einstellung
29 DE60111263T2 KALIBRIERUNG VON EINSEITIG ABGESCHLOSSENEN KANÄLEN ZUR ERZIELUNG DIFFERENTIELLES SIGNAL-NIVEAU
30 DE69830521T2 Automatisches Schaltkreisprüfgerät für Halbleitervorrichtungen
31 DE112004000730T5 Messvorrichtung und Programm
32 DE112004000274T5 Erfassungsvorrichtung, Erfassungsverfahren und Programm
33 DE69828800T2 HERSTELLUNGSCHNITTSTELLE FÜR EIN INTEGRIERTES SCHALTUNGSPRÜFSYSTEM
34 DE69827401T2 BELASTUNGSSCHALTUNG FÜR IC-TESTER
35 DE60015991T2 PRÜFGERÄT ZUM GLEICHZEITIGEN TESTEN MEHRERER INTEGRIERTER SCHALTKREISE
36 DE69826659T2 BILLIGE, LEICHT ANZUWENDENDE SOFTWARE FÜR EIN AUTOMATISCHES TESTSYSTEM
37 DE60300467T2 Testen von serieller Kommunikation
38 DE60200992T2 "Timing"-Kalibrierung und -Verifikation von Testern für elektronische Schaltungen
39 DE60011661T2 HOCHAUFLÖSENDE VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ERMITTLUNG VON TAKTVERSCHIEBUNGEN
40 DE60200289T2 Übergangsanpassung
41 DE69815686T2 ZEITGEBER MIT KURZER ERHOLUNGSZEIT ZWISCHEN DEN PULSEN
42 DE60002827T2 AUTOMATISCHE TESTEINRICHTUNG MIT SIGMA-DELTA MODULATION ZUR ERZEUGUNG VON REFERENZPEGELN
43 DE69905750T2 EINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM KALIBRIEREN VON LAUFZEITUNTERSCHIEDEN
44 DE69814102T2 VERFAHREN ZUM SPEICHERN UND SUCHEN VON GENANNTEN VORRICHTUNGSPARAMETERDATEN IN EINEM SYSTEM ZUM TESTEN EINES INTEGRIERTEN SCHALTKREISES
45 DE69904854T2 TESTMODULE FÜR AUTOMATISCHE TESTANORDNUNG
46 DE69806904T2 HALBLEITERPRUEFGERAET MIT SCHALTKREIS ZUR DATENSERIALISIERUNG
47 DE69808927T2 KOSTENGÜNSTIGES CMOS TESTGERÄT MIT HOHER KANALDICHTE
48 DE69714244T2 SCHNELLES LADEN VON PRÜFVEKTOREN FÜR EINE AUTOMATISCHE TESTEINRICHTUNG
49 DE69806275T2 EIN PRÜF-SCHNITTSTELLENSYSTEM ZUR ANSTEUERUNG VON BETRIEBSPEICHERVORRICHTUNGEN
50 DE69804114T2 SYSTEM ZUM TESTEN INTEGRIERTER SCHALTUNGEN MIT EINEM EINZIGEN SPEICHER FÜR PARALLEL- UND ABTAST-PRÜFUNGSMODUS
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