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No Patent No Titel
1 DE102007018342A1 Prüfvorrichtung, Programm und Prüfverfahren
2 DE102005056279A1 Test-Vorrichtung und Verfahren zum Testen von elektronischen Bauelementen
3 DE102005051814A1 Elektronische Testvorrichtung mit erhöhter Taktfrequenz und Verfahren zum Erhöhen der Taktfrequenz im Testsystem
4 EP1734537 Bitmap-Analysesystem und Verfahren zum Hochgeschwindigkeitstesten einer Speichervorrichtung
5 DE10115880B4 Testschaltung zum kritischen Testen einer synchronen Speicherschaltung
6 DE102005060930A1 Speicheranwendungstester mit vertikal montierter Hauptplatine
7 DE69833093T2 Schwebende Bitleitungen Prüfmodus mit digital steuerbaren Bitleitungen-Abgleichschaltungen
8 DE10058464B4 Mustererzeugungsverfahren, dieses verwendender Mustergenerator, und diesen Mustergenerator verwendendes Speichertestgerät
9 DE102004041553B4 Testverfahren zum Bestimmen der Verdrahtung von Schaltungsträgern mit darauf angeordneten Bauelementen
10 DE102004041553A1 Testverfahren zum Bestimmen der Verdrahtung von Schaltungsträgern mit darauf angeordneten Bauelementen
11 DE102005034922A1 Algorithmus-Mustergenerator zum Testen einer Speichervorrichtung und Speichertester, welcher diesen verwendet
12 DE102004042074A1 Verfahren zum Testen eines Speichers mittels externem Testchip und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
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IPC
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