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Advantest Corp., Tokio/Tokyo, JP - Patente
 
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No Patent No Titel
1 DE102007028662A1 Elektronenstrahl-Größenmessgerät und Verfahren zur Größenmessung mit Elektronenstrahlen
2 DE102007024449A1 Messplatine für Prüfgerät für elektronische Bauelemente
3 EP1840504 Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Mustern
4 DE112005003326T5 Optischer Schalter und optische Prüfvorrichtung
5 EP1837668 HALBLEITERBAUELEMENT, TESTVORRICHTUNG UND MESSVERFAHREN
6 EP1692526 VORRICHTUNG ZUM PRÜFEN EINER EINRICHTUNG MIT EINEM HOCHFREQUENZSIGNAL
7 DE102007014301A1 Elektronenstrahlbestrahlungsgerät
8 DE19722414B4 Verfahren und Vorrichtung zum Testen eines Halbleiterspeichers
9 DE112005002693T5 Prüfgerät für elektronische Bauelemente und Verfahren zur Erkennung schadhafter Klemmen
10 DE69835259T8 SYSTEM UND VERFAHREN ZUR OPTISCHEN PULSÜBERTRAGUNG
11 DE102007018342A1 Prüfvorrichtung, Programm und Prüfverfahren
12 DE112005002437T5 Prüfvorrichtung
13 DE112005002450T5 Prüfvorrichtung
14 DE112005002859T5 Handhabungsgerät für elektronische Bauelemente, Sockelführung für Prüfkopf und Einsatz und Stössel für das Handhabungsgerät
15 DE112005002907T5 Prüfvorrichtung
16 DE112005000233T5 Kontaktstück, Kontaktanordnung mit Kontaktstücken, Probenkarte, Prüfgerät und Verfahren und Gerät zur Herstellung der Kontaktanordnung
17 EP1821171 TESTVORRICHTUNG UND ELEKTRISCHE QUELLENSCHALTUNG
18 EP1818676 TESTEINRICHTUNG, TESTVERFAHREN, ELEKTRONISCHE EINRICHTUNG UND EINRICHTUNGS-HERSTELLUNGSVERFAHREN
19 DE112005002538T5 Prüfvorrichtung und Prüfverfahren
20 DE112005002655T5 Wellenform-Umwandlungsvorrichtung, Wellenform-Umwandlungsverfahren und Prüfvorrichtung
21 EP1816745 SAMPLING-SCHALTUNG UND TESTER
22 EP1811659 AMPLITUDENVARIABLE TREIBERSCHALTUNG UND TESTVORRICHTUNG
23 DE112005002581T5 Testvorrichtung und Testverfahren
24 DE102007008228A1 Elektronenstrahlgenerator für mehrere Säulen
25 DE112005002545T5 Taktgenerator und Prüfvorrichtung
26 DE60123798T2 VORRICHTUNG, VERFAHREN UND PROGRAMM ZUR ANZEIGE DER SIGNALFORMQUALITÄT EINES CDMA-SIGNALS UND AUFZEICHNUNGSMEDIUM, AUF DEM DAS PROGRAMM AUFGEZEICHNET IST
27 DE19937232B4 Entwicklungs- und Bewertungssystem für integrierte Halbleiterschaltungen
28 DE112005002149T5 Logisches Verifizierungsverfahren, logische Moduldaten, Vorrichtungsdaten und logische Verifizierungsvorrichtung
29 DE112005002247T5 Verbrauchsstrom-Ausgleichsschaltung, Verfahren zum Einstellen eines Ausgleichsstrombetrags, Zeitgeber und Halbleitertestgerät
30 DE112005002345T5 Hochfrequenz-Schaltungsvorrichtung
31 DE112005002150T5 Bimorphes Element, bimorpher Schalter, Spiegelelement und Verfahren zu deren Herstellung
32 EP1801970 IMPULSGENERATOR, TIMING-GENERATOR UND IMPULSBREITEN-EINSTELLVERFAHREN
33 DE112005002118T5 Variable Verzögerungsschaltung, Makrozellendaten, logisches Verifizierungsverfahren, Prüfverfahren und elektronische Vorrichtung
34 DE112005001957T5 Differenzkomparatorschaltung, Prüfkopf und Prüfvorrichtung
35 DE112005000434T5 Gerät, Verfahren, Programm und Speichermedium zur Quadraturmodulation
36 DE69835259T2 SYSTEM UND VERFAHREN ZUR OPTISCHEN PULSÜBERTRAGUNG
37 DE60121596T2 GEMULTIPLEXTE SIGNALQUALITÄTSANZEIGE, VERFAHREN UND PROGRAMM UND AUFZEICHNUNGSMEDIUM, AUF DEM DAS PROGRAMM AUFGEZEICHNET IST
38 DE60120792T2 VORRICHTUNG ZUR MESSUNG ELEKTROMAGNETISCHER WELLEN
39 EP1780739 VERDÜNNUNGSFILTER UND TESTEINRICHTUNG
40 DE60123060T2 DARSTELLUNG DER QUALITÄT EINES MULTIPLEX-SIGNALES, VERFAHREN, PROGRAMM UND SPEICHERMEDIUM, AUF DEM DAS PROGRAMM GESPEICHERT IST
41 DE112005001501T5 Messgerät, Verfahren, Programm, Speichermedium,Netzwerkanalysator und Halbleitertestgerät zum Messen von Charakteristiken eines Verbindungselements
42 DE112005001751T5 Prüfgerät für elektronische Bauelemente und Verfahren zur Konfiguration des Prüfgerätes
43 DE102006052842A1 Jittermessvorrichtung, Jittermessverfahren und Prüfvorrichtung
44 DE112005001466T5 Signallesevorrichtung und Prüfvorrichtung
45 DE112005001355T5 Vorrichtung zum Analysieren von Breitbandsignalen, Breitband-Periodenjitter und Breitbandversatz
46 DE112005001496T5 Prüfvorrichtung und Prüfverfahren
47 DE112005001071T5 Geschäumtes Hochpräzisionskoaxialkabel
48 DE112004002887T5 Verfahren zur A/D-Umwandlung und A/D-Umwandlungsvorrichtung
49 DE112005001249T5 Quellenstrom-Messvorrichtung und Prüfvorrichtung
50 DE112005001080T5 Verfahren und Vorrichtung zum Verbessern der Frequenzauflösung eines direkten digitalen Synthesizers
51 DE69933921T2 Korpuskularstrahlgerät
52 DE112005000210T5 Impulsbreiten-Einstellschaltung, Impulsbreiten-Einstellverfahren und Halbleiterprüfvorrichtung
53 DE19537358B4 IC-Träger
54 DE112005000677T5 Netzwerkanalysierer, Messverfahren für den Übertragungsüberwachungsfehler, Netzanalyseverfahren, Programm und Aufnahmemedium
55 DE19917661B4 Verfahren und Vorrichtung zur Messung elektromagnetischer Wellen
56 DE112005000403T5 Versatzeinstellverfahren, Versatzeinstellgerät und Testgerät
57 DE112005000591T5 Testgerät und Testverfahren
58 DE102006031091A1 Halbleiterprüfvorrichtung
59 DE112005000267T5 Gerät, Verfahren, Programm und Speichermedium zur Phasenmessung
60 DE112005000311T5 Messgerät, Messverfahren und Testgerät
61 DE112004001499T5 Optische Verstärkervorrichtung
62 DE112004002557T5 Frequenzwandler
63 DE112005000430T5 Netzwerkanalysator, Verfahren, Programm und Speichermedium zur Netzwerkanalyse
64 DE112005000275T5 Messgerät, Verfahren, Programm und Speichermedium
65 DE112004002703T5 Treiberschaltkreis
66 DE102006025648A1 Vorrichtung zum Messen eines Jitters und Verfahren zum Messen eines Jitters
67 DE10144437B4 Zeitmessvorrichtung und deren Verwendung in einem Prüfgerät
68 DE102006021512A1 Jittermessvorrichtung und Jittermessverfahren
69 DE112004002262T5 Digitale QP Detektionsvorrichtung, Spektrumanalysator aufweisend dieselbe und ein Verfahren zur digitalen QP Detektierung
70 DE112004000303T5 Digitalisierermodul, Wellenform-Erzeugungsmodul, Umwandlungsverfahren, Wellenform-Erzeugungsverfahren und Aufzeichnungsmedium zum Aufzeichnen eines Programms hierfür
71 EP1699134 VERZÖGERUNGSSCHALTUNG UND TESTVORRICHTUNG
72 DE112004002341T5 Hochfrequenz-Verzögerungsschaltung und Prüfvorrichtung
73 EP1696564 SCHALTUNG MIT VARIABLER VERZÖGERUNG
74 DE102006012947A1 Elektronenstrahl-Bestrahlungssystem und Elektronenstrahl-Bestrahlungsverfahren
75 DE112004002407T5 Oszillator, Frequenzvervielfacher und Prüfvorrichtung
76 DE102006014568A1 Vorrichtung zur Bestimmung der Wellenlänge, Wellenlängenmessinstrument ausgerüstet mit der Vorrichtung, Verfahren, Programm und Speichermedium zur Bestimmung der Wellenlänge
77 EP1691205 Frequenzumsetzer mit Spiegelfrequenzerkennung und dessen Verwendung in einem Spektralanalysator
78 DE112004002088T5 Vorrichtung, Verfahren, Programm und Aufzeichnungsmedium zum Abschätzen vom Symbolpunkten
79 DE102006008028A1 Lastschwankungs-Korrekturschaltung, elektronische Vorrichtung, Prüfvorrichtung und Zeiterzeugungsschaltung
80 DE102006007617A1 Jittermessvorrichtung, Jittermessverfahren, Prüfvorrichtung und Elektronische Vorrichtung
81 DE19900337B4 Differenzsignalübertragungsschaltung
82 EP1672508 TESTPROGRAMM-DEBUG-EINRICHTUNG, HALBLEITER-TESTEINRICHTUNG, TESTPROGRAMM-DEBUG-VERFAHREN UND TESTVERFAHREN
83 DE10048646B4 Element zur Bestrahlung in einer Bearbeitungsvorrichtung mit geladenem Strahl und Elektronenstrahl-Belichtungsvorrichtung
84 EP1669768 KALIBRATIONS-KOMPARATORSCHALTUNG
85 DE112004001453T5 Photometer
86 EP1666904 TESTVORRICHTUNG UND TESTMODUL
87 DE19928981B4 Vorrichtung und Verfahren zum Testen von Halbleiterspeichern
88 DE10296362B4 Optischer Mechanismus mit variabler Schlitzbreite
89 DE112004001695T5 Vorrichtung zur Erzeugung eines Fehlerkorrektursignals und ein Quadraturmodulator, der mit der Vorrichtung zur Erzeugung eines Fehlerkorrektursignals ausgerüstet ist
90 DE10058464B4 Mustererzeugungsverfahren, dieses verwendender Mustergenerator, und diesen Mustergenerator verwendendes Speichertestgerät
91 EP1657558 Beseitigung der Spiegelfrequenz in Frequenzumsetzern für Spektralanalysatoren
92 EP1650837 SOCKEL UND TESTEINRICHTUNG
93 DE112004000777T5 PLL-Schaltkreis
94 DE19861240B4 IC-Testgerät
95 EP1643509 HALBLEITER-PRÜFEINRICHTUNG UND STEUERVERFAHREN DAFÜR
96 DE112004000798T5 Signalmessvorrichtung
97 DE102005049219A1 Phasendifferenz-Erfassungsvorrichtung
98 DE112004000696T5 Messinstrument für optische Eigenschaften und Verfahren, Programm und Speichermedium, auf welchem das Programm gespeichert ist
99 EP1626417 SCHAUMSTOFF-KOAXIALKABEL UND VERFAHREN ZU SEINER HERSTELLUNG
100 DE112004000905T5 Phasenmessvorrichtung, Verfahren, Programm und Aufzeichnungsmedium
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